Устройство для измерения параметров диэлектриков

Устройство для измерения параметров диэлектриков

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ по . авт. св. № 873062, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности измерений при расширении диапазона рабочих частот, боковая поверхность диска выполнена ступенчатой в виде чередуюш гася кольцевых выступов и впадин , причем толв|ина и диаметр кольцевых выступов и впадин последовательно увеличиваются, ширина впадины превышает ширину смежных с ней выступов, ширина впадины, ширина выступа и высота меньшей ступенькиравны резонансной длине волны данного участка резонатора.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИДЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК зи С 01 N 22/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ABTOPCXOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (61) 873062, (21) 3373658/18-09 (22) 29. 12.81 (46) 07.08.84. Бюп. У 29 (72) А.П. Геппе, В.С. Добромыслов, В.В. Кострамин и В.И, Шермин (71) Ордена "Знак Почета" особое конструкторское бюро кабельной промьшщенности и Московский ордена Ле-. нина и ордена Октябрьской Революции энергетический институт (53) 621.317.335. 3 (088. 8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

В 873062, кл. С 01 N 22/00, 1980 (прототип) ...SU» . A (54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЭМЕРЕНИЯ

ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ по авт. св. N 873062, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения производительности измерений при расширении диапазона рабочих частот, боковая поверхность диска выполнена ступенчатой в виде чередующихся кольцевых выступов и впадин, причем толщина и диаметр кольцевых выступов и впадин последовательно увеличиваются, ширина впадины превышает ширину смежных с ней выступов, ширина впадины, ширина выступа и высота меньшей ступеньки. равны резонансной длине волны данно- ф го участка резонатора.

1 11

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах.

По основному авт. св. У 873062 известно устройство для измерения параметров диэлектриков, содержа— щее сверхвысокочастотный генератор, соединенный с волноводным тройником, к одному плечу которого подключен частотомер, а к другому плечу — вход измерительного тракта, выход которого подключен через последовательно соединенные детектор и индикатор к входу сверхвысоко- . частотного генератора, резонатор,. размещенный в криостате с крышкой, причем резонатор выполнен в виде диска иэ исследуемого диэлектрика, установленного в криостате на одном конце штанги, другой конец которой закреплен на крышке, а к" свободным концам измерительного тракта подключены соответственно два введенных дугообразных диэлектрических волновода, электромагнитно связанных с резонатором (1 3.

Однако известное устройство для измерения параметров диэлектриков имеет низкую производительность измерений и узкий диапазон рабочих частот.

Цель изобретения — повышение производительности измерений при расширении диапазона рабочих частот.

Цель достигается тем, что в устройстве для измерения параметров диэлектриков, содержащем сверхвысокочастотный генератор, соединенный с волноводным тройником, к одному плечу которого подключен час. тотомер, а к другому плечу — вход измерительного тракта, выход кото-. рого подключен через последовательно соединенные детектор и индикатор к входу сверхвысокочастотного генератора, резонатор, размещенный в криостате.с крышкой, резонатор выполнен в виде диска иэ исследуе мого диэлектрика, установленного в криостате, на одном конце штанги, другой конец которой закреплен на крышке, а к свободным концам измерительного тракта подключены соот" ветственно два введенных дугообразных диэлектрических волновода, электромагнитно связанных с резонатором, боковая поверхность диска выполнена ступенчатой в виде чередующихся кольцевых выступов и впадин, причем толщина и диаметр коль07035 1

10 t5

40.

55 цевых выступов и впадин последовательно увеличиваются, ширина впадины превышает ширину смежных с ней выступов, ширина впадины, ширина выступа и высота меньшей ступеньки равны резонансной длине волны данного участка резонатора.

На фиг. 1 приведена структурная электрическая схема устройства для измерения параметров диэлектриков; на фиг ° 2 — конструкция резонатора.

Устройство содержит сверхвысокочастотный генератор 1, волноводный тройник 2, частотомер 3, измерительный тракт 4, детектор 5, индикатор 6, резонатор 7, криостат 8, крышку 9, штангу 10, дугообразные диэлектрические волноводы 11, на резонаторе 7 имеющем форму диска, выполнены чередующиеся кольцевые выступы 12 и кольцевые впадины 13.

Устройство работает следующим образом.

Против каждого из кольцевых выступов 13 размещенного в криостате

8 резонатора 7 через крышку 9 располагают дугообразные диэлектрические волноводы 11, верхние точки выпуклой стороны которых обращены к выступам. резонатора 7 и находятся в непосредственной близости от них.

Возбуждение резонатора 7 осуществляется в области края кольцевого выступа 12. Данный резонатор 7 следует рассматривать как составной, состоящий из нескольких несвязанных кольцевых резонаторов бегущей волны. Возбуждение каждого из образованных таким, способом кольцевых резонаторов от сверхвысокочастотного генератора 1 манжет производится, например, через распределенную связь с дугообразными диэлектрическими волноводами 11, расположенными в непосредственной близости от кольцевого выступа 12.

При наличии сигнала в одном из дугообразных диэлектрических волноводов 11 возбуждается только один кольцевой р-зонатор. По измеренным с помощью частотомера 3 резонансной длине волны и полуширине резонансной кривой, воспроизводимой через детектор 5, на экране индикатора 6 определяют добротность резонатора 7 и как следствие tg 8.. Значение определяют по сетке дисФааЯ

Составитель P. Кузнецова

:редактор В, Иванова Техред Т.Дубинчак КорректорВ. Бутяга

Заказ 5749/30 Тираж 823 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб. ° д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 1 персионных кривых, рассчитываемых с помощью ЭВМ для соответствуницих значений диаметров резонаторов 7, их значений и длине рабочей волны Л .

Таким образом, на одном однородном по термической обработке и

107035 4 внутренней структуре образце оказывается возможным проведение измерений в широком температурном и частотном интервалах, увеличение ре.зультатов измерений, значительное ,сокращение материальных и трудовых затрат.