Устройство для испытаний полупроводниковых приборов

Устройство для испытаний полупроводниковых приборов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, содержащее теплоизолированные камеры с размещенными в них транспортирующими роторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами , отличающееся тем, что, с целью улучшения эксплуатационных возможностей и упрощения конструкции , оно снабжено дополнительным механизмом перегрузки полупроводниковых приборов мезвду роторами, роторы размещены в одной плоскости, а теплоизолированные камеры выполнены в виде кожухов, охватываюпр х внешние части окружностей транспортирующих роторов.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

ОРИ@ Ш

РЕСПУБЛИК цю m) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ !

Н ABTOPCKONIV СВИДфТВВСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ OCCP

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬПИЙ (21) 3515640/18-21 (22) 29.11.82 (46) 07.09.84. Бюп. 1ъ 33 (72) А.M.Ази, 3..А.Видерман, Х.А.Вийль, З.С.Иос .а, О.А.Коост, А.Я.Косой, А.А.Кютт, Э.А.Нарусон, Б.В.Попов, Т.P.Íóêñïóó, Ю.А.Тислер, О.К,Тоомла, Г.К.Тоомсоо и Ю,А.Унт (71) Научно"исследовательский институт Таллинского электротехнического завода им. М.И.Калинина и Таллинский электротехнический завод им.М.И.Калинина (53) 621,382(088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

У 578662, кл. Н 01 1 21/66,07.04.77.

2, Авторское свидетельство СССР

Р 564745, кл. Н 05 К 13/00, 30.09.75 (прототип) ° зов Н 05 К 13 00 Н 01 21/66 (54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, содержащее теплоизолированные камеры с размещенными в них транспортирующими роторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью улучшения эксплуатационных возможностей и упрощения конструкции, оно снабжено дополнительным механизмом перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, роторы размещены в одной плоскости, а теплоиэолированные камеры выполнены в виде кожухов, охватывающих внешние части окружностей транспортирующих роторов.

Ф 1112

Изобретение относится к технологическому оборудованию электротехни- ческой и электронной промышленности и предназначено для проверки электрических параметров силовых полупроводниковых приборов, например, при приемо-сдаточных испытаниях.

Известно устройство для испытания полупроводниковых приборов, содержащее коктактноЬ устройство, корпус, 10 снабженный поворотно"фиксйрующим механизмом, и носители полупроводниковых приборов (1) .

Однако это устройство не позволяет провести испытания при двух сущест- 15 венно разных температурах. Кроме того, в устройстве отсутствует узел, осуществляющий коммутацию испытательно-измерительных устройств.

Наиболее близким техническим ре- 20 шенкем к изобретению является устройство для климатических испытаний, содержащее теплоизолированные камеры тепла и холода с размещенными в них транспортирующими роторами и 25 механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами.

Камеры тепла и холода разделены полостями, соединенными с окружающей атмосферой (2) .

В известном устройстве роторы размещены полностью в теплоизолированкых камерах друг кад другом, а механизм перегрузки перегружает испытуемые приборы через все роторы с пер35 вого до последнего. Такая конструкция сложна, так как количество роторов должно быть равно количеству температурных режимов. Кроме того, конструкция этого устройства требует

40 размещения позиций загрузки и выгрузки на разных концах устройства, что ведет к усложнению эксплуатации устройства, так как при испытании силовых полупроводниковых приборов геометрические размеры устройства будут значительными.

Цель изобретения — улучшение эксплуатационных возможностей и упрощение конструкции. . 50

Указанная цель достигается тем, что устройство для испытаний полупроводниковых приборов, содержащее теплоизолированные камеры с размещенными в них транспортирующими роторами и механизм перегрузки полупроводниковых приборов между роторами, снабжено дополнительным механизмом пе594 2 регрузки полупроводниковых приборов между роторами, роторы размещены в одной плоскости, а теплоизолированные камеры выполнены в виде кожухов,, охватывающих внешние части окружнос-. тей транспортирующих роторов.

На фиг, -1 изображена схема устройства; на фиг. 2 — схема расположения кожухов.

Устройство содержит транспортирующие роторы 1 и 2 с пазами 3 и носителями 4 испытуемых полупроводниковых приборов, механизмы 5 и 6 перегрузки испытуемых приборов, камеру 7 нормальной температуры, теплоизолированную камеру 8 повышенной температуры, теплоизолированную камеру 9 охлаждения, контактные узлы

10 и 11. На фиг. 1 обозначены также позиции загрузки 12 и выгрузки 13.

Роторы 1 и 2 расположены в одной плоскости. Камеры 7-9 выполнены в ви де кожухов, охватывающих только вкеш нюю часть роторов 1 и 2. Камера 9 охлаждения охватывает ротор 1 час-тично по длине окружности ротора.

Для ускорения нагрева приборов камера 8 повышенной температуры продувается интенсивным потоком нагретого воздуха, температура которого равна температуре испытаний. Соответственно камера 9 охлаждения продувается потоком охлажденного воздуха. (Направление потока воздуха ка фиг. 1 изображено треугольниками, направление перемещения испытуемых приборов и прерывистое пошаговое вращение роторов на фиг. 1 показано стрелками).

Устройство работает следующим образом.

Испытуемые приборы загружаются в позицию 12 загрузки и выгружаются из позиции 13 выгрузки. Остальные .операции выполняются устройством автоматически.

Загружекные приборы перемещаются ротором 1 в камеру 7 испытаний при нормалькой температуре, в которой оки на трех смежных позициях проходят три вида испытаний. Для этого контактные узлы 10 подключают к испытуемым приборам соответствующие испытательно-измерительные устройства (не показаны). После этого приборы перегружаются с ротора 1 ка ротор 2 при помощи механизма перегрузки 5 и затем попадают в камеру 8 повышенИзобретение позволяет улучшить эксплуатационные возможности устрой10 ства при упрощении его конструкции, что повысит производительность проведения испытаний и выход годных иэделий.

Составитель Г.Падучин

Редактор С.Пыжова Техред А.Бабинец Корректор И.Муска

Заказ 6470/45 Тираж 782 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 з 1112594 4 ной температуры, в которой они в ходе Управление роторами, механизмами движения к позициям испытаний на- перегрузки, контактными узлами и греваются. В позициях испытаний кон- испытательно-измерительными устройтактные узлы 11 подсоединяют к испы- ствами, а также устройствами ввода туемым приборам испытательно-изме- g и вывода информации (не показаны) рительные устройства для проведения осуществляется с помощью ЭВМ. семи видов испытаний; После испытаний при повышенной температуре приборы перегружаются механизмом 6 перегрузки с ротора 2 на ротор 1 и вводятся в камеру 9 охлаждения.

Охлажденные приборы поступают в позицию 13 выгрузки.