Устройство для измерения толщины листовых материалов

Устройство для измерения толщины листовых материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 42b, 11

РРв 112саа

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ ОВЙДЕТЕЛЬСТВУ

A. H. Слатинский, Л. A. Флексер и А. Д. Кабанова

УСТРОЙСТВО. ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВЫХ

МАТЕРИАЛОВ

Заявлено 23 ноября !956 г. за № 562348 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Изобретение относится к устройствам для измерения толщины материалов путем просвечивания их радиоактивными излучениями.

Устройства для измерения толщины материала, действие которых основано на просвечивании материала радиоактивными излучениями и сравнении интенсивности остаточного излучения, прошедшего сквозь испытываемый материал с интенсивностью излучения, прошедшего сквозь эталонный образец того же материала, выполненный в виде подвижно;< заслонки, вводимой между излучателем и приемником, известны. Прп этом уравнивание остаточных излучений осуществляется автоматически, например, при помощи реверсивного двигателя, перемещающего заслонку.

Известно также приспособление для изменения чувствительности усилителя приемника излучений в зависимости от измеряемых толщин, состоящее из переменного сопротивления, движок которого механически связан с подвижной заслонкой-эталоном.

Отличие описываемого устройства заключается в том, что в нем для поддержания чувствительности измерительного прибора в соответствии с пределами измеряемых толщин подвижная заслонка-эталон механически связана с переключателем шунтов, изменяющих чувствительность измерительного прибора в соответствии с пределами измеряемых толщин, На чертеже изображена принципиальная схема устройства, где: 1— источники радиоактивного излучения; 2 — измеряемый материал; 8 — рабочая ионизационная камера; 4 — компенсационная ионизационная камера; 5 — заслонка-эталон; б — винтовой механизм; 7 — тяга; 8 — задающая шкала; 9 — шунтирующие сопротивления; 10 — измерительный прибор;

1! — электронный усилитель.

В устройстве использованы две дифференциально включенные ионизационные камеры 8 и 4, облучаемые двумя источниками радиоактивно