Фотоэлектрический прибор для объективного определения степени кристалличности излома стального слитка

Фотоэлектрический прибор для объективного определения степени кристалличности излома стального слитка

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Юа 114075

Класс 42m, 13„

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕННАЯ

K АВТОРСИОМу СВИдЕТБЛЬО7г- у

В. Е. Ляхов

ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ПРИБОР ДЛЯ ОБЪЕКТИВНОГО

ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ КРИСТАЛЛИЧНОСТИ

ИЗЛОМА СТАЛЬНОГО С.г1 ИТКА

Заявлсно 25 сентября 1957 г. за К. 563666 в комитет ио делам изобретений и открытий при Гов.. е Министров ГСГР

Изобретение относится к приборам для измерения степени кристалличности и излома стального образца, Известные приборы для металлографического анализа не дают возможности достаточно обьективно и быстро оценивать степень кристалли гности излома.

Для устранения этого недостатка предлагается степеш, кристалличностн излома металлического образца определять путем сравнения света, отраженного от поверхности излома образца, с интенсивностью света, отраженного от поверхности излома эталона.

Для уменьшения влияния общей освещенности образца интенсивность отраженного света измеряют з перпендикулярном или близком к этому, направлении по отношению к направлс|шю светового потока, идущего от осветителя. При этом, сравнивается интенсивность света, отраженного от общей освещенной поверхности в наг равлении, фиксированном с помощью собирательной линзы прн врагцснии образца в плоскости излома на ЗбО . Для измерения отраженчого света используются фотоэлемент, ламповый усилитель и самопишущий или показывающий логометр. Логометр или другой индикатор могут быть проградуированы в безразмерных единицах, например в биллах и т. п.

Индикатор включается по мостовой схеме на выходе лампового усилителя. Устройство прибора поясняется |ертежом, где представлена

cro принципиальная схема. Предметньп" столик 1, получающий вращение от электропрпвода через червя-шую пару 2, служит для удержив

cвст с помощью собирательной линзы 5 направляется на фотоэлемент 6 Возникающий здесь фототок усиливается с помощью электронных ламп 7и 8. Обмотки 9 и 10 логомстра включены в анодную цепь лампы 8. Обмотка 10 логометра. обтекается постоянным по величи током, соответствующи.. -,-.алонному фототоку. Угол поворота указателя логометра пропорционален относительному изменению кристалличности излома образца, по сравнению с эталоном.

Предмет изобретения

1. Фотоэлектрический прибор для определен ия степени кристалличности излома стального слитка, о тл ич ающи и ся тем, что, с целью объективного анализа степени кристалличности излома, быстроты и точности определения, в основу прибора положено сравнение интенсивности света, отраженного от поверхности излома образца, с интенсивностью света, отраженного от поверхности излома эталона и фиксированном направлении.

2. Форма выполнения прибора по п. 1, отличаю ща яся тем, что для уменьшения влияния общей освещенности образца, в качестве фиксированного направления выбрано направление, перпендикулярное (или близкое к нему) направлению лучей, падающих на поверхность излома.

3. Форма выполнения прибора поп. 1, отличающаяся тем, что для более объективной оценки кри.сталличности излома сравниваются суммарные интенсивности отраженлого света от общей освещенности поверхности излома в фиксированном направлении с помощью линзы и от поверхности по всем возможным направлениям (от 0 до 360 ) с помощью поворотного стола и самопишущего или показывающего прибора.

4. Форма выполнения прибора по пп. 1, 2 и 3, отличающаяся тем, что для определения относительной кристалличности в любых безразмерных единицах непосредственно по шкале прибора используется индикатор (например, логометр) с включением его по мостовой схеме в аноды лампы усиления фототока.

¹ 114075

Комитет по делам изобретений и открытий прп Совете Министров СССР

Редактор В. А. Иванов

Гор. Алатырь, типография J42 Мииистерства культуры Чувашской АССР.

Ипформаипоино-издательский отдел.

Объем 0,3.1 п. л. Зак. 3990.

Поди. к печ. 2S,Т-195$ г.

Тираж 2000. Цспа 50 коп.