Способ контроля качества отжига стеклоизделий

Способ контроля качества отжига стеклоизделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

¹l 14801

Класс 42k, 28

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С. А, Блох и Н. А. Захариков

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОТЖИГА СТЕКЛОИЗДЕЛИЙ

Заявлено 17 октябри 1957 г. за ¹ 584712 в Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР

Предметом изобретения является способ контроля качества отжига стеклоизделий по кольцевой пробе с помощью известного для этой цели прибора — полярископа.

По сугцествующей методике для количественной оценки качества отжига стеклоизделий по кольцевой его пробе необходимо в полярископ вмонтировать кальцитно-поворотный компенсатор. Этот оптический прибор дефицитный и пользоваться им довольно сложно.

При просмотре кольцевой пробы в ее торце видно нейтральное кольцо, ао обе стороны которого располагаются различные по знаку напряжения.

Местоположение )того нейтрального кольца зависит от качества отжига. При равномерном охлаждении стеклоизделия в процессе его отжига нейтральные линии находятся на равном расстоянии от поверхностей трубы. При несимметричном охлаждении линии сдвинуты. Если расстояние от поверхности до нейтральной линии с одной стороны больше, то это значит, что эта поверхность трубы имела оолее низкую температуру при охлаждении. Измерение этого расстояния производится с помогцью окулярмикрометра (точность измерения 0,0!1.

Для измерения расстояния нейтральной линии (кольца) нсобходимо

В поля )}IXIPT1) вмонтировать окулярмикрометр, который состоит из неподвижной сетки с вертикальной риской, подвижной сетки с наклонной риской и микрометрическим винтом.

Для определения в личины наклонная риска подвижной сетки с помощью микрометрнческого винта устанавливается в точку пересечения вертикальной риски сетки с поверхностью стекла. 11оложение наклонной риски отмечается делениями по шкале микрометра. Б дальнейшем сетка перемегцается до совпадения наклонной риски е точкой пересечения вертикальной риски с нейтральной линией. Разность отсчстов первого и второго положения наклонной риски по шкале мнк1.o IcI!):.I определяет величину расстояния.

Цена деления по шкале микрометра зависит от масштаба изображения контролируемого кол ..ца — обра:)ца № I1480I

Предмет изобретения

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Отв. редактор И. В. Макаров

Поди. к печ. 23Х11-58 г.

Тираж 1350. Цена 25 коп.

Информационно-издательский отдел

Объем 0,17 и. л. Зак. 2218.

Типография Комитет» по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14. стеклянной трубы, даваемого объективом.

Способ контроля качества отжига стеклоизделий с помощью поляриметра, полярископа, о т л и ч а юшийся тем, что. с целью определения степени равномерности охлаждения внутренней и наружной поверхностей стеклоизделия, с помощьк> вмонтированного в полярископ или вполяриметр окулярмикрометра, измеряют расстояние от поверхности стеклоизделия до местоположения в нем нейтральной линии, видимой при просмотре стеклоизделия через поляриметр, полярископ.