Устройство для контроля и отбраковки плоских стеклянных изделий
Иллюстрации
Показать всеРеферат
,),") 1 t g(,1)j
K.яас" 22) -)5!.
-;a P Ръ " !
Х. С. Абугубайда, Г. К. 25!дро,,!). ?1. Яидро
Ф. Л. Борун, E. )). ((ас)!(!!и)»! В. H Усог, У((PQ fig (:. Q Д TI(I 1) QЦ ) ? Дл (Ц Q (>giggg";си Д j)QQQ(g)) E !)Ea/) >I ü (с L (li ) ),Ь, ) d) и ?".,1 и))!. )сii!i х) i! Pii)н!ля )!) )(3 Г. за . .> . (! / ) З ())5З в Iii I!!IQTt))(т)ч) ) ):"!tO((5),:P.P;ë0 i I;t)O!li .!!I)(,:ii,)(- .! (.(.ГР
Всзичин2 Впу)р нних напрl)>кснп i
В СТСКЛЯ?!НЫХ ИЗДСЛИЯХ ЗО МНОГО". определяет пх качество.
В р яде случаев больш ис внутр() i ние н ян р51>кени я Il () иВсд5|т и Окоп чятсльпсму браку изделия пя «горя пх» и «холодны о> спсоацпях. и(. и транспортировке, ранснпl!
ЭКСПт, 3ТЯЦ!)И ПХ.
В .",)уi их с.|!) 12 ix нсдс;тятксм;l! ляется сни>ке?п.с величины вчутрснних напряжений в стеклянных изделиях (:IBH()H.;Iej) в ножках металлических ламп) .
Вх!с,".тс с тем, существующее пр!)мы?1!.!спнсс 060P) дсВ2!)ие jb !51 роля всличины внутренних напряжений B стеклянных )изделиях с исПОЛЬЗОВ2НИЕ.,| ПОЛЯРИЗ2ЦИОННОГО Эффекта нс даст необходимой точности, (и приемы контроля )на нем св",— эаны с субъективными визуальными
ОЦЕНК2)МИ.
С целью обеспечения возможности автоматизации контроля и отбраковки плоских стеклянных изделий по:величине внутренних |напряжений и повышения точности, достигаемого исключением .влияния субъективных факторов, предлагает05! прп,iE .)IHIH (в чсгрспстВС, нс)юль зу!сщс и нол(ярпзацпогн)ь .и метод пз)i0j)Ci!:.!5i Д)п 1)(?C )OHЦИ2Л?п)) iO фОГО
),i)PH7 \i) !ЕС,,, Ю (,) СТС;I,. 5 НР яв |Я);))цую реле отбраковки и содержа
))1) ю в одно;! и ть;! нспсс.)сдств(1,НО (2ССO)i 3СМBI!! (!)ОГОЭЛ(МСНТ, ?i В
Д j) X Г С ) 1 — () С Т 0 Э Л Е Ъ | С Н Т, С Св (1 Ц Я (" М Ы ) г.чксм света, про;псдш .м через и() ,! HpoH )bI — поля pll33Toj) и l)112 лпзя
Qp ).; с )еэ j) ясно 10 Ст)н(Qiл>? 1
?HI)IiI контролпрусмсе изделие, vp()Вспь ст величины внутренних нп;:"."ê>I?0)1;I;;:; котором снределя T ((—зещспп «ть фотоэлемента. ((а ч(рт же Ilp(дста вл(на н р инци:!иа iib)i2я схема предлагаемo;:i у=тронства. Основными узлами это
1 о >, ст?)с)!ствя яВляlотся дифференциальн, li фотоэлектрическая сист ма, на выходе которой имеется р;лс, управляющее отбраковкой. механическая часть, Осуществляющая подачу, браковку и прием контролируемbIx изделий.
Источником света фотоэлектрической системы служит лампа накал)твяния 1. Одна ветвь указанной
¹ 11519h тин 1ат lя пружина, поддсржива10masr кромку изделия на noзпцн11 контроля. После этого бракованнс" изделие соскальзывает на лоток и направляется в приемник брака.
При нажатии щупа переключателя происходит размыкание реле 1. 3 и подготовка схемы к новому циклу контроля.
При пon. :,;а1пги па 11озицпо контроля годного изделия реле 12,и 18 и электромагнит 19 не срабатывают, сигнальная лампа «орак» Не зажигает я, рычаг с электромагнитом
Остал 051 113 мссте, и изделие птурс мсщастся грейфером 15 на слсду10щую позици10, и далее — в приемник ! одных изделий, Конструкция предлагаемого устройства позволяет контролировать величину максимальных касательных напряжений в стеклянных изделиях типа дисков с ассиметричными напряжениями по концентричным кольцевым участкам. Для с;рийных изделий, имеющих геометрически подобные эпюры распределения напряжений вдоль радиуса, контроль и отбраковка могут проводиться по интегральному оптиче=кому эффекту.
Устройство может быть применеио такжс для к01!Тро, !51 l! Отбраков—
1С11 Г 0 Б н у тр си н и м н а и 13 я ж с н н я м с срийных дсталс1-:. Tli!Ei . плас 111н произвольной формы прп услсвии гео lQTP ясского 1!0 0I3itH э1ею 1" 1!I 1! IIжений и 0;.n:1аксв 011,,p!10.1т11цни пластин при контроле.
11р :дмст и Eбрстсн и я
Устройство для контроля ll Отбраковки плоских стеклянных изделий по величине внутренних напряжений, измеряемы. Оптпчсск1;м поляР11ЗИЦЛСННЫМ Мет ДОМ. О-г Л И Ч а Ю1цсеси:c.",1, что, с .;елью сбеспсче;1ия возможно тп Осуществления
ОбЪСКТИВНОГО 1.0HTp0 IH ll авТОМЯТИзацни процесса отбраковки, применена дпфференциальна я фотоэлектрическая система с общим усилителем на выходе, управляющая реле отбраковки и содержащая в одной ветви непосредственно осве:цаемый фотоэлемент и в другой— фотоэлемент, освещаемый пучком света, прошедшим через поляроид— поляризатор и анализатор и через расположенное между ними контролируемос изделие, уровень внутренних напряжений в котором определяют осве1цснность E1!0To лемента.
Еомитет fto делам ивобретеппй и открытой орп Совете Мвнлстров СССР
Редактор И. С. Кутафина гр. 17Ð
Гор. Алатырь, типография №? Министерства культуры ь1увашской АССР.
Информавв!окно-издательский отдел.
Объем О, 34 п. л. Зак. Ы40.
Поди. к печ. 20!/Vlfi-19;!8 г.
Тн ра; 1(\?5. Цена 50