Способ определения подвижности носителей заряда
Иллюстрации
Показать всеРеферат
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА, основанный на создании двух электродов на исследуемом образце, один из которых является коллекторным, а второй инжектирующим , приложении к электродам импульсов напряжения, регистрации переходного инжекционного тока и определении дрейфовой подвижности носителей заряда расчетным путем, отличающийся тем, что, с Целью повышения точности, оперативности и обеспечения неразрушающего контроля, второй электрод выполняют в виде двухслойной структуры, состоящей из диэлектрического слоя толщиной от О,1 до 1 мкм, покрытого пленкой металла , к электродам прикладывают пог стоянное напряжение, имеющее величину и полярность, обеспечивающую создание слоя обогащенного носителями заряда у границы раздела полупроводник - диэлектрик.
. СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕО<ИХ
РЕСПУБЛИК
0% (11) (ю 4 Н 01 Ь 21/66
ГЖУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPbfAO списочник изоьгктения
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
««
"Э= с
I (21) 3630187/24-25 (22) 02.08.83 (46) 07.05.86. Бюл. У 17 (71) Институт радиотехники и электроники АН СССР (72) А.Г.Ждав, В.И.Омельченко, В.В.Рыльков и В.Ф.Синкевич (53) 621.382(088.8) (56) Кучис E.Â. Методы исследования эффекта Холла. М.: Советское радио, 1974, c. .9.
Spear W.Å. Drift — mobility techniques for the study of electrical
tremspost properties in insulating
solids ° - J ° of Noncryst ° Sol. 1, 1969, 127. (54) (57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОДВИ111НОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА, основанный на создании двух электродов на исследуемом образце, один из которых является коллекторным, а второй инжектирующим, приложении к электродам импульсов напряжения, регистрации переходного инжекционного тока и определении дрейфовой подвижности носителей заряда расчетным путем, о т л ич а ю шийся тем, что, с Целью повышения точности, оперативности и обеспечения неразрушающего контроля, второй электрод выполняют в виде двухслойной структуры, состоящей из диэлектрического слоя толщиной от
0,1 до 1 мкм, покрытого пленкой металла, к электродам прикладывают постоянное напряжение, имеющее величину и полярность, обеспечивающую создание слоя обогащенного носителями заряда у границы раздела полупроводник — диэлектрик.
Р%
3 11
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для контроля параметров полупроводников, в частности для определения дрейфовой подвижности носителей заряда.
Цель изобретения — повышение точности, оперативности и обеспечение неразрушающего контроля.
На фиг. 1 приведена схема реалиэа ции способа; на фиг. 2 показаны зонные диаграммы структуры полупроводник - диэлектрик для случая V т 0
1 на фиг. 3 - для случая V (О на
У фиг. 4 показана зависимость переходного тока Z(t) от времени .
На фиг. 1 приняты следующие обозначения; генератор 1 импульсов, выходное сопротивление 2 генератора импульсов, источник 3 постоянного смещения, металлический электрод 4. диэлектрик э, (полупроводник 6, коллекторный электрод 7, входное сопротивление 8 измерительного прибора.
На фиг. 2 и 3 приняты обозначения: напряжение смещения V,,дно эоны проводимости Ес, дно валентной зоны—
Е„, уровень Ферми F.
g p и м е р. Определяли дрейфовую подвижность электронов в структуре
Ме — 810> — Si на основе высокоомного кремния с удельным сопротивлением
Р « 2 10" Ом.см. Толщина Si0 составляла «0,2 мкм. Толщина кремниевой
Дрейфовую подвижность носителей заряда вычисляли по формуле
1,2 (4 = а ° — — --, 7у пр. а — коэффициент, равный 1 для токов, не ограниченных пространственным зарядом, и а 0,78 для токов, ограниченных пространственным зарядом; — время прихода переднего фронта пакета носителей заряда к коллекторному электроду;
L - -толщина полупроводника.
При а = 0,78 вычисленное значение дрейфовой подвижности носителей заряда равно Pg = 1320 см /В с.
20 где
30
68019. 2 подложки 210 мкм, площадь структуры 3 ° 10 см . Напряжение смещения / варьировалось от 3 до 6 В.
На фиг. 4 приведена эксперимен5 тально полученная зависимость переходного тока от времени при подаче импульсов напряжения. В начале переходного процесса имеется острый пик, обусловленный емкостным возмущением.
l0 Второй пик соответствует времени прихода переднего фронта пакета носителя заряда к коллекторному электроду (26 нс). Дальнейший медленный спад обусловлен истощением заряда
15 в обогащенном слое кремния.
1168019
Еу
Фиг3
Р(В ЮМ
Корректор Л.Патай
Редактор О. Кузнецова
Техред О.Гортвай
Заказ 2714/1
Тира к 643
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Подписное
Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4