Способ определения распределения радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий

Способ определения распределения радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ ,ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИ ИЗДЕЛИЙ, включающий в себя облучение эталонного образца изделия пучком ускоренных заряженных частиц под углом Q к поверхности и определение распределения наведенных радионуклидов по глубине X методом послойного анализа , отличающийся тем, что, с целью повьппения точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом if относительно первого изделия, измеряют интент сивность рентгеновского N,, гамма-излучения N, N для обоих изделий в одинаковых для каждого вида излучения условиях, рассчитывают „ NX, , NX, отношение к -- / -- , вычисляют углы S, и Sj, между направлением падающего излучения и поверхностями изделий по величине отношения R и углу if между поверхностями издеяий из системы уравнений (б,,ег) (О ,+ в. где 9 (). градуировочная зависимость , и определяют распределение радионуклидов по глубиW не для обоих изделий f, (х) и ff (х) соответственно из следующих соотношений; ,(х)(х)81пв,, (2) f(x)-fo(x)sinej. где fд(х) - распределение радионукли9д да по глубине для эталона , облученного перпен 1 дикулярно поверхности.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (59 4 С 21 Н 5 02

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblT

\ ф! Ф . ° ф

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3679337/24-25 (22) 23.12.83 (46) 07.09,86. Бюл. У 33 (72) И.О.Константинов и А.И.Леонов (53) 621.039.85(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11 148501, кл. С 01 N 3/56, 1965.

Метод поверхностной активации в промышпенности. / .Под ред. В.И.Постникова, М.: Атомиздат, 1975, с. 39.

f, (x) f (x)sin Е,, f (х) й, (х) sin В, где Е (х) — распределение радионуклида по глубине для эталона, облученного перпендикулярно поверхности. (54)(57.) СПОСОБ OITPEДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ

ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИ ИЗДЕЛИЙ, включающий в себя облучение эталонного образца изделия пучком ускоренных заряженных частиц под углом 9, к поверхности и определение распределения наведенных радионуклидов по глубине х методом послойного анали- . за, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом (p относительно первого изделия, измеряют интен-. сивность рентгеновского Nrs Nxzи ! гамма-излучения Ng, Я для обоих

У2 изделий в одинаковых для каждого вида излучения условиях, рассчитывают

Нм Ng отношение R= /, вычисляют

Нр; Ну углы Е, и Е между направлением падающего излучения и поверхностями изделий по величине отношения R и углу (f между поверхностями издеяий из системы уравнений

1 = (е,, 6,) (1) = е,+е„ где Р (Е,, 1 } — градуировочная з ависимость, и определяют распределение радионуклидов по глубине для обоих изделий

f,(х) и f (х) соответственно из следующих соотношений:

1176754

e(e e) / —

2 Ц„N с RW(9„0 ) <-е,+ е, f<(x) f (х)sinО,, f (x) f (х)з п,.

Редактор С,Титова Техред И.Верес, Корректор Т.Колб, Заказ 4844/1 Тираж 386 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5! производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

Изобретение относится к использованию излучений от радиоактивных источников в качестве следящего индикатора и может быть применено при активации изделий, исследуемых на сопротивление механическому износу и истиранию.

Цель изобретения — повышение точности

Изобретение ..поясняется чертежом, где первое изделие 1, второе изделие 2, эталон 3, пучок заряженных частиц 4.

Способ осуществляется следующим образом.

Изделия 1 и 2 устанавливают под заданным малым углом у между их поверхностями, а биссектрису этого угла располагают вдоль оси ионопровода ускорителя. Между изделиями 1 и 2 под углом 900 к указанной биссектрисе устанавливают эталон в виде стопки фольг. Проводят облучение пучком заряженных частиц 4. Иэ-sa наличия углового разброса пучка заряженных частиц для всех существующих конструкций ускорителей при активации на малйе углы значения углов облучения первого и второго изделий Ю, и с достаточной степенью точности не.известны. Поэтому для их определения после облучения в одинаковых условиях измеряют интенсивность Н, N« рентгеновского и Ng, Ng, гамма-иэлучений для первого и второго изделий соответственно. Определяют величину отношения

5 к — — /

1 х 1 м

Ng, Ng

В общем виде это отношение для заданного материала определяется только величинами углов 6, и 9, Поэтому до осуществления настоящего способа определяют градуировочную функцию но всему диапазону изменения углов для исследуемых материалов.

Точные значения углов 6, и 6 вычисляют из следующей системы уравнен й.

По полученным значениям 8 и 9

25 и измеренному методом послойного анализа наведенной активности радионукли дов по глубине f>(x), где х — глубина, определяют распределение радионуклидов по глубине для первого и

З0 второго изделий по следующим соотношениям: