Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов

Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ на образец , заключающийся в том, что наклеенный тензорезистор нагружают и по изменению сопротивления тензорезистора судят о качестве наклеивания, отличающийся тем, что, с целью расширения номенклатуры тензорезисторов, образец с наклеенным тензорезистором помещают в вакуумную камеру, а нагружение осуществляют вакуумированием.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51)4 С 01 B 7 18

ГОСУДАРСТНЕННЫИ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

Зь

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕтЕЙЬстВу

/ (21) 3724991/25-28 (22) 11.04.84 (4б) 23.09.85..Бюл. № 35 (72) С.Н. Береговой, Н.И. Володин, В.П. Карягин, А.Б. Поляков, А.В. Тертерашвили и К.И. Пичхадзе (53) 531.781.2(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 724919, кл. G 01 В 7/18, 1978.

ÄÄSUÄÄ1180682 А (54) (57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ на образец, заключающийся в том, что наклеенный тензорезистор нагружают и по изменению сопротивления тензорезистора судят о качестве наклеивания, отличающийся тем, что, с целью расширения номенклатуры тензорезисторов, образец с наклеенным тензорезистором помещают в вакуумную камеру, а нагружение осуществ; ляют вакуумированиам.

Составитель Т. Николаева

Редактор Л. Гратилло Техред Т.Дубинчак Корректор,А. Тяско

Тираж 650 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Заказ 5909/37

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

1 7 1806

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению деформаций, и может быть использовано при контроле качества наклеивания тензорезисторов на образце при тензометрировании машин, механизмов, агрегатов технологического оборудования и электромеханических тензометрических преобразователей.

Целью изобретения является расши- ll0

1 рение номенклатуры тензорезисторов.

Способ осуществляется следующим образом.

Элемент конструкции с наклеенным тензорезистором помещают в вакуум- 15 ную камеру. Проволочную решетку тензорезистора подключают к регистрирующему прибору. Бакуумируют камеру, в местах некачественной наклейки тензорезистора имеется воздушная 20 прослойка, в которой при вакуумировании,вакуумной камеры возникает избыточное. давление. Последнее деформирует проволочную решетку тензорезистора, изменяя при этом его сопротивление, которое фиксируется регистрирующим прибором.

По величине изменения сопротивления судят о качестве наклеивания тензорезистора, чем больше изменение сопротивления тензорезистора, тем больше неприклеенных участков, т,е. тем больше количество воздушных пузырьков.

Использование предлагаемого изобретения позволяет с минимальными о затратами времени производить контроль качестве наклеивания тензорезисторов любых типов, с различной термостойкостью и различньии геометрическими размерами.