Способ определения толщины многослойных электропроводных покрытий

Способ определения толщины многослойных электропроводных покрытий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩНЫ МНОГОСЛОЙНЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ ПОКРЫТИЙ, заключающийся в том, что помещают исследуемый образец в гальваническую ячейку и с помощью электрода и измерительного устройства, подключенного в электрическую цепь между электродом и исследуемым образцом , измеряют величину электродного потенциала и фиксируют момент скачка электродного потенциала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения измерения толщины многослойных электропроводных покрытий, выполняют на исследуемом образце, поперечный микрошлиф , перемещают вдоль него электрод и по величине перемещения электрода от поверхности покрытия до мо§ мента скачка электродного потенциал ла определяют толщину каждого слоя (Л покрытия. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что измерение величины электродного потенциала проводят в электролите, депассивирующем поверхность покрытия и основного металла .

(21) 374125?/24-?8 (22) 22.05.84 (46) 15.10.85. Бюл. Ф 38 (72) Л.С.Саакиян, А.П.Ефремов, Ю.И.Бабей, И.М.Стоцкий и Л.Я.Ропяк (71) Московский ордена Октябрьской

Революции и ордена Трудового Красного Знамени институт нефтехимической и газовой промышленности им. И.M.Ãóáêèíà (53) 621.317.39:531.717(088.8) (56) Валитов А.М-.З, Шилов Г.И. Приборы и методы контроля толщины покрытий. Справочное пособие. Л.: Машиностроение, 1970, с. 103 — 105.

Авторское. свидетельство СССР

Ф 46206?, кл. С 01 В 7/06, 1973. (54)(57) 1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ МНОГОСЛОЙНЫХ ЧЕКТРОПРОВОДНЫХ

ПОКРЫТИЙ, заключающийся в том, что помещают исследуемый образец в гальваническую ячейку и с помощью электрода и измерительного устройства, подключенного в электрическую цепь между электродом и исследуемым образ. цом, измеряют величину электродного потенциала и фиксируют момент скачка электродного потенциала, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения измерения толщины многослойных электропроводных покрытий, выполняют на исследуемом образце поперечный микрошлиф, перемещают вдоль него электрод и по величине. перемещения электрода от поверхности покрытия до момента скачка электродного потенциа» ла определяют толщину каждого слоя покрытия

2. Способ по п. 1, о т л и ч а— ю шийся тем, что измерение. величины электродного потенциала проводят в электролите, депассивирующем поверхность покрытия и основного ме.— талла.

11850 ности покрытия.

Составитель А.Григорьянц

Техред N,ÍàäI, КорректорЛ.Пилипенко

Редактор С.Лисина

Заказ 6347/32 Тираж 659 Подписное

BHHHIIH осударственного комитета СССР но делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал П7!П "Патент", г;Ужгород, ул.Проектная, 4

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины многослойных электропроводных покрытий в машиностроении, радиотехнической и других отраслях промыш-. ленности.

Цель изобретения — повышение точ ности и упрощение. измерения толщины многослойных электропроводных покры- 1р тий, путем измерения электродного потенциала, получаемого перемещением электрода вдоль измеряемого образца.

На чертеже схематиче.ски представлено устройство, реализующее способ.

Устройство содержит установленную на двухкоординатном столе 1 гальваническую ячейку 2 с электролитом 3, в который помещен исследуемый образец

4 и выполненный в виде полой трубки с капиллярным отверстием подвижный электрод 5 с механизмом 6 перемещения, оснащенным реверсивным электроприводом

7, а в электрическую цепь между электродом 5 и исследуемым образцом 4 вклю25 чен самопишущий высокоомный потенциометр 8.

Способ определения толщины многослойных электропроводных покрытий осуществляется следующим образом.

На образце 4 для определения толщи

30 ны электропроводного покрытия 9 выполняют поперечный микрошлиф, погружают в гальваническую ячейку 2 с электролитом 3, депасснвирующим поверхность

66

2 покрытия 9 и основного металла образ-. ца 4, и при помощи двухкоординатного стола 1 подводят к электроду 5. Одновременно приводят в движение электрод

5 с помощью реверсивного электропривода 7 и механизма 6 перемещения и привод диаграммы самопишущего высокоомного потенциометра 8. Измеряют величину электродного потенциала в процессе последовательного перемещения электрода 5 с заданным шагом по толщине покрытия 9, фиксируют момент скачка электродного потенциала и по величине перемещения электрода 5 от поверхности покрытия 9 до момента .скачка электродного потенциала определяют толщину каждого слоя покрыти, по диаграмме: электродный потенциал — пе" ремещение электрода. Соотношение между скоростью перемещения электрода

5 и скоростью движения диаграммы самопишущего высокоомного потенциометра 8 выбирают таким, чтобы записанная на диаграмме кривая электродного потенциала имела размеры, удобные для ее анализа и определения толщины каждого слоя покрытия 9.

Измерение электродного потенциала при определении толщины многослойных электропроводных слоев возможно при перемещении электрода как от поверхности покрытия к основному металлу, так и от основного металла к поверх