Способ получения фотометрической информации о кусковом материале перед его сортировкой

Способ получения фотометрической информации о кусковом материале перед его сортировкой

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ФОТОМЕТРИЧЕСКОЙ ИНФОРМАЦИИ О КУСКОВОМ МАТЕРИАЛЕ ПЕРЕД ЕГО СОРТИРОВКОЙ , включающий облучение монослойного потока кускового материала сканирующим лучом поперек направления движения материала с последующим измерением интенсивности отраженного излучения , отличающийся тем, что, с целью упрощения обработки информации путем 5ее группировки по принадлежности к кускам, производят дополнительное сканирование по направлению движения материала, причем щаг поперечного сканирования, частоту и амплитуду продольного сканирования определяют по следующим соотнощениям; у S f поп где V -скорость движения материала; поп частота поперечного сканирования амплитуду в продольного сканирования - по соотнощению Ь S, где dwaxc-максимальный размер куска, а щаг продольного сканирования принимают меньщим, чем размер инородных вкраплед НИИ в кусках, подлежащих обнаружению, частоту fnp продольного сканирования сл определяют по соотнощению fnp fnonN, где N - количество продольных колебаний сканирующего луча в зоне осмотра. 00 О5 1C со

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„яц„„1186290

А (s 1) 4 В 07 С 5/342

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ . -"" -

М ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3689085)28-12 (22) 09.01.84 (46) 23.10.85. Бюл. № 39 (72) Б. Н. Кравец, Ю. Н. Волков, Е. Н. Курганов, Е. Ф. Цыпин и А. В. Белокрылецкий (71) Свердловский ордена Трудовоого

Красного Знамени горный институт им. В. В. Вахрушева (53) 621.383.5 (088.8) (56) Патент ФРГ № 2529968, кл. В 07 С 51342, 1975. (54) (57) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ФОТОМЕТРИЧЕСКОЙ ИНФОРМАЦИИ О КУСКОВОМ МАТЕРИАЛЕ ПЕРЕД ЕГО СОРТИРОВКОЙ, включающий облучение монослойного потока кускового материала сканирующим лучом поперек направления движения материала с последующим измерением интенсивности отраженного излучения, отличающийся тем, что, с целью упрощения обработки информации путем ее группировки по принадлежности к кускам, производят дополнительное сканирование по направлению движения материала, причем шаг поперечного сканирования, частоту и амплитуду продольного сканирования определяют по следующим соотношениям:

S=

f non где Ч вЂ” скорость движения материала; тп,п- частота поперечного сканирования амплитуду в продольного сканирования— по соотношению

b = с1„, .+ S, где с1макс — максимальный размер куска, а шаг продольного сканирования принимают меньшим, чем размер инородных вкрапле- д ний в кусках, подлежащих обнаружению, Е частоту f p продольного сканирования определяют по соотношению

1пр=(поп N, где N — количество продольных колебаний сканирующего луча в зоне осмотра.

1186290

Составитель Б. Быковский

Te x ред. И. Be pec Ко рре кто р А. Тя с ко

Тираж 580 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий ! 13035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП сПатент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор С. Саенко

Заказ 6469/1О

Изобретение относится к способам сортировки, а именно к способу получения фотометрической информации о кусковом материале перед его сортировкой.

Цель изобретения — упрощение обработки информации путем ее группировки по принадлежности к кускам.

На чертеже изображена структурная схема устройства для реализации предлагаемого способа.

Устройство содержит питатель 1, осуществляющий монослойную подачу материала в зону осмотра АВСД, над которой расположена оптическая система, состоящая из источника 2 излучения, электромагнитного дефлектора 3, зеркального барабана 4, фотоприемника 5. Источник 2 излучения оптически связан с электромагнитным дефлектором 3, расположенным так, что линия MN, в которую он разворачивает луч от источника 2 излучения на грань, например, восмигранного барабана 4, параллельна продольной оси барабана 4.

Последний расположен над зоной осмотра так, что в неподвижном состоянии линия

MN, полученная от дефлектора 3 и отраженная от середины грани QF, при условии, что другая грань барабана LF параллельна плоскости зоны осмотра, совпадает с линией PR, проведенной через середину зоны осмотра параллельно направлению движения кусков, и равна ширине зоны осмотра АВСД. Расстояние между зоной осмотра и осью зеркального барабана 4 выбирается так, что при повороте барабана на 1/8 оборота обеспечивается сканирование луча по всей длине зоны осмотра.

Фотоприемник 5 оптически связан с зеркальным барабаном 4 и расположен таким образом, что при неподвижном положении барабана 4, когда одна грань барабана 4, например LF, параллельна зоне осмотра, световой поток, отраженный от линии PR, отражаясь от другой грани KL барабана 4, падает на фотоприемник 5 и при повороте барабана на 1!8 оборота обеспечивает последовательный осмотр кусков в зоне ос15 мотра.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч от источника 2 излучения падает на электромагнитный дефлектор 3, который обеспечивает продольные колебания, а от него — на зеркальный барабан 4, обеспечивающий поперечное сканирование и на зону осмотра, где описывает синусоидальную траекторию. Отраженный от кусков, находящихся в зоне осмотра, поток излучения попадает на фотоприемник 5, с выхода которого получают серии сгруппированных по каждому куску последовательностей электрических импульсов с амплитудой, пропорциональной коэффициенту отражения куска.