Способ измерения непараллельности двух отражающих поверхностей

Способ измерения непараллельности двух отражающих поверхностей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

.СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ ДВУХ ОТРАЖАЮЩИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ , заключающийся в формировании направленного излучения с помощью коллиматора и бизеркального отражателя и определении смещения луча при различных положениях бизер- ;кального отражателя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения путем исключения влияния временной нестабильности взаимного положения коллимационного блока и отражающих поверхностей , сначала осуществляют оптическую связь приемного и излучающего коллиматоров через бизеркальные отражатели, а затем путем перемещения бизеркальных отражателей эту связь осуществляют через бизеркальные отражатели и обе контролируемые поверхности одновременно. СЛ

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (! 9) (11) (51)4 G 01 В 11/26

1

L (21) 3472857/25-28 (22) 14.07.82 (46) 30,10.85. Бюл. N- 40 .(72) Г.А. Гузенко (53) 513.577. 3(088.8) (56) Тищенко О.Ф., Валединский А.С;

Взаимозаменяемость, стандартизация и технические измерения. М.: Машиностроение, 1977, с. 77. (54)(57) .СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ ДВУХ ОТРАЖАЮЩИХ ПОВЕРХ НОСТЕЙ, заключающийся в формировании направленного излучения с помощью коллиматора и бизеркального отражателя и определении смещения луча при различных положениях бизер;кального отражателя, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности измерения путем исключения влияния временной нестабильности взаимного положения коллимационного блока и отражающих поверхностей, сначала осуществляют оптическую связь приемного и излучающе- го коллиматоров через бизеркальные отражатели, а затем путем перемещения бизеркальных отражателей эту

1 связь осуществляют через бизеркальные отражатели и обе контролируемые поверхности одновременно.

1188529

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности, к способам измерения непараллельности поверхностей.

Цель изобретения — повышение 5 точности измерения непараллельности двух отражающих поверхностей путем исключения влияния временной нестабильности взаимного положения

E коллимационного блЬка и отражающих 1О

1 поверхностей.

На фиг. 1, и фиг. 2 изображены схемы реализации способа при расположенйи отражающих- поверхностей по одну сторону от коллимационного 15 блока; на фиг. 3 и 4 — схемы реализации способа при расположении отражающих поверхностей по разные сто-. роны от коллимационного блока.

На схеме обозначены излучающий коллиматор 1, приемный коллиматор 2,объединенные в коллимационный блок 3; бизер. кальные отражатели 4 — 6, контролируемые отражающие поверхности 7 и 8, клиновый компенсатор 9. 25

Для измерения непараллельности двух отражающих поверхностей поступают следующим образом.

Сначала между излучающим коллиматором 1 и приемным коллиматором 2 осуществляют оптическую связь через

1бизеркальные отражатели 4 — 6 (фиг. 1) в случае расположения отражающих поверхностей по одну сторону от коллимационного блока 3 или через биэеркальный отражатель 4 (фиг,3) в случае расположения отражающих поверхностей по разные стороны от коллимационного блока 3.

Клиновым компенсатором 9 луч излучающего коллиматора 1 перемещается по углу до достижения требуемого, например, нулевого отсчета приемного коллиматора 2. Затем бизеркальные отражатели перемещают в новое положение (фиг. 2 и 4), при котором осуществляется оптическая связь между излучающим

1 и приемным 2 коллиматорами через бизеркальные отражатели и обе контролируемые отражающие поверхности 7 и 8 одновременно. При этом из-за непараллельности контролируемых поверхностей

7 и 8 луч в приемном коллиматоре 2 смещается, и с помощью клинового компенсатора 9 он снова перемещается до достижения требуемого, например, нулевого отсчета приемного коллиматора 2. Половина разности показаний клинового компенсатора 9 при первом и втором измерениях будет равна измеряемой непараллельности контролируемых отражающих поверхностей.

При наличии временной нестабильности взаимного положения коллимационного блока 3 и отражающих поверхностей 7 и 8 положение луча в приемном

1 коллиматоре 2 не изменяется в результате чего повышается точность измерения. В способе прототипе смещение коллимационного блока 3 приводит к смещению луча в приемном коллиматоре 2.

1

1

7

/ /7

i 188529

Составитель В. Решетников

Редактор Е. Копча Техред М.Гергель

Корректор Л. Патай

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 6732/40 Тираж 650 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

313035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5