Способ магнитной дефектоскопии

Способ магнитной дефектоскопии

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ , заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают магниточувствительную линзу, направляют луч света на линзу через поляризатор и по распределению яркости поляризованного света определяют наличие дефектов , отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и упрощения процесса контроля, используют магниточувствительную линзу в виде стеклянной пластины, покрытой с одной стороны оптически прозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитной пленкой,а с другой стороны - отражающим свет зеркальным немагнитным составом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого изделия , направляют луч света на линзу перпендикулярно контролируе мой поверхности, а распределение (Л яркости поляризованного света на пластине в зависимости от магнитного поля рассеяния наблюдают со стороны источника света.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (191 (11) (51) 4 С О1 N 27/84

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA (21) 3709766/25-28 (22) 11.03.84 (46) 23.11.85. Бюл. ¹ 43 (71) Саратовский филиал Специального конструкторского бюро Всесоюзного, научно-производственного обьединения Союзгазавтоматика" (72) Н.Н ° Бакурский и В.Н.Мортиков (53) 620.179.14(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 842252, кл. С 01 R 33/02, 1979.

Авторское свидетельство СССР № 697905, кл. G 01 N 27/82, 1979. (54)(57) СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ,заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают магниточувствительную линзу, направляют луч света на линзу через поляризатор и по распределению яркости поляризованно" го света определяют наличие дефектов, отличающийся тем, что, с целью повьппения надежности и упрощения процесса контроля, ис.пользуют магниточувствительную линзу в виде стеклянной пластины, покрытой с одной стороны оптически прозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитной пленкой,а с другой стороны — отра-жающим свет зеркальным немагнитным составом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого изделия, направляют луч света на линзу перпендикулярно контролируемой поверхности, а распределение яркости поляризованного света на пластине в зависимости от магнитного поля рассеяния наблюдают со стороны источника света.

Составитель А.Бодров

Редактор А.Шандор Техред А.Ач Корректор Е.Сирохман, Заказ 7310/47 Тираж 896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к неразрушающим методам дефектоскопии, а именно магнитным методам, и может быть использовано для контроля магистральных трубопроводов на наличие дефектов поверхйости в различных отраслях машиностроения.

Цель изобретения — повышение надежности способа и упрощение процесса контроля.

На чертеже представлено устройство для осуществления способа.

Устройство содержит магниточувствительную линзу в виде плоскопараллельной стеклянной пластины 1 с зеркальным неферромагнитным покрытием

2 и прозрачным ферромагнитным обладающим магнитооптическими свойствами покрытием 3. Над линзой размещают поляризатор 4, формирующий плоскополяризованный луч 5 света.

Магниточувствительная линза размещается над поверхностью контролируешого изделия 6.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч 5 света от искусственного или естественного источника пропускают через поляризатор 4 перпендикулярно исследуемой поверхности изделия 6, оптически прозрачное ферромагнитное покрытие 3 и стеклянную пластину 1.

Пройдя через поляризатор 4, луч света поляризуется и попадает на

193566 2 ферромагнитное покрытие, 3. Оно враI щает плоскость поляризации луча на угол 9, пропорциональный толщине 7 ферромагнитного покрытия

3, величине Н напряженности магнитного поля, перпендикулярного плоскости линзы

6-с 2. Н„, где С вЂ” коэффициент, зависящий от

10 свойства ферромагнетика.

Пройдя через стеклянную. пластину

1, поляризованный луч с измененным на О углом поляризации отражается без изменения угла поляризации от

15 зеркального покрытия 2 и вторично проходит через стеклянную пластину

1 и магнитооптическое ферромагнитное покрытие 3. В качестве магнитооптической пленки могут быть использова20 ны соединения типа желеэоиттриевых гранатов, обладающих ярко выраженным эффектом Фарадея.

При прохождении отраженного луча через ферромагнитное покрытие 3

25 происходит поворот его угла поляризации в ту же сторону и на тот же угол 9

Таким образом, угол поляризации луча при его вхождении в поляризатор 4 будет 2 8 . Поляризатор 4 в этом случае будет выполнять роль анализатора и наблюдатель увидит картину распределения поля яркости в соотзетствии с распределением поля рассеяния дефектов в иэделии 6.