Способ магнитографического контроля сварных соединений

Способ магнитографического контроля сварных соединений

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ, заключающийся в том,что на поверхность сварного шва : накладывают ферромагтпную центу, намагничивают сварной шов с помощью П-образ.ного электромагнита и дополнительной подмагничивающей системы в виде явул пластин со скосом кромки, уста1СЕСОЮЗЙАЯ „,,. , ТЕХКМ С:;Ай БИБДИОТЕНД новленных симметрично относительно оси сварного шва, и определяют количество сварного соединения по магнитограмме, полученной на ферромагнитной ленте, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и пов-ьппения достоверности контроля, пластины со скосом кромки устанавливают на расстоянии Ч , выбранном из соотношения -9,75 +i 136,5 а + 0,7 5) -700 1 21, где L - ширина сварного шва, мм; S - толщина металла между kn пластинами подмагничивающей системы и ферромагнитной лентой, мм. О5 1 О)

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) (д) 4 G 01 N 27 85

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

:Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ где

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

fIO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3769491/25 -28 (22) 06.07.84 (46) 07.12.85. Бюл. В 45 (7 1) Могилевский машиностроительный институт . (72) А.М.Шарова, В.А.Новиков и А.П.Магилинский (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 702291. кл. С 01 N 27/85, 1975. (54)(57) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ, заключающийся в том,что на поверхность сварного шва . накладывают ферромагнитную ленту, намагничивают сварной шов с помощью П-образного электромагнита и дополнительной подмагничивающей системы в виде двух пластин со скосом кромки, уста-, новленных симметрично относительно осы сварного шва, и определяют количество сварного соединения цо магнитограмме, полученной на ферро- магнитной ленте, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью расши-" рения функциональных воэможностей и повышения достоверности контроля, пластины со скосом кромки устанавливают на расстоянии 6,. выбранном иэ соотношения

9 75 + 136ю5 (I, + Оэ 7 S ) 700

<Р <2L, L — ширина сварного шва, мм;

S — толщина металла между пластинами подмагничивающей системы и ферромагнитной лентой, мм.

1196746

40

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов. S

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей и повышейИе достоверности контроля. Ha фиг. 1 показана схема устройства для осуществления способа маг- 10 нитографического .контроля сварных швов, имеющих обратный валик на фиг. 2 — вид магнитограммы при различном расстоянии между пластинами подмагничивающей системы; на 15 .фиг. 3 — график зависимости расстояния между пластинами подмагничивающей системы от ширины шва, при контроле которого отсутствуют помехи.

Схема устройства для осуществления способа магнитографического контроля сварных соединений содержит контролируемое изделие со сварным швом 1, П-образный электромагнит 2, устанавливаемый на поверхности контролируемого изделия, ферромагнитную ленту 3 и подмагничивающую систему в виде пластин 4 со скосом кромки.

Способ магнитографического контро- 30 ля сварных соединений осуществляется следующим образом.

К поверхности сварного шва 1 плотно прижимают ферромагнитную ленту 3, затем устанавливают на поверхность

35 контролируемого изделия П-образный электромагнит 2 и пластины 4 дополнительной подмагничивающей системы, которые располагают симметрично относительно оси сварного шва 1 с произвольной стороны на расстоянии 1, выбранном иэ соотношения:

-9,75+ 136,5(j, +0,7 S )-700 1Qg 2L, где L, — ширина сварного шва 1

5 — толщина металла между пластинами 4 подмагничивающей системы и ферромагнитной лентой 3.

При магнитографическом контроле сварных соединений, имеющих обратный валик усиления шва 1, известным способом на магнитограмме наблюдают фон помех вследствие того, что раздвижение подмагничивающих пластин производят не из плоскости симметрии шва, а от краев обратного валика, На магнитограмме .(фиг.2) в этом случае наблюдают два ложных сигнала А, расположенных на одинаковом расстоянии от сигналов Б, обусловленных валиком усиления шва 1. При расположении пластин подмагничивающей системы (фиг. 1) симметрично относительно шва 1 на расстоянии выбранном иэ условия -9,75+ 136,5(4+0,75)-700 <

< Q < 2 L ложные поля рассеяния оказываются за пределами шва 1. В этом случае они не записываются на ферромагнитную ленту 3, так как лента

3 на участках от краев усиления шва 1 до пластин 4.подмагничивающей системы намагничивается до насыщЕния..

Экспериментально установлена зависимость расстояния между пластинами 4 подмагничивающей системы, при котором отсутствуют помехи на магнитограмме, от ширины контролируемого шва 1 (фиг.3). Экспериментальные кривые аппроксимированы формулой:

-075+0010 + 1,7Q + 584, где L- ширина шва.

Искомое расстояние 1 между пластинами 4 подмагничивающей системы можно определить также из экспериментальных графиков (фиг.3).

Соотношение 9,75+ 136,6((.+0,7ф-700< (1 < 2 L справедливо при условии (, + 0,75 5 i 5,84 (мм).

1196746

,нм

l lltPt

Составитель И.Рекунова

Техред Т.Дубинчак КоРРектоР E.pomKn

Редактор P.Öèöèêà

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 7557/41 Тирах 896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5