Способ определения внутренней структуры материала и устройство для его осуществления

Способ определения внутренней структуры материала и устройство для его осуществления

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

1. Способ определения внутренней структуры материала, заключающийся в том, что излучают и принимйют отраженные от дна изделия ультразвуковые импульсы и анализируют спектр донного сигнала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, формируют радиоимпульс , задержка которого относительно донного сигнала определяется из соотношения 1 ., , 1 где т - задержка радиоимпульса относительно донного сигнала; частота спектра донного сигнала на урорне 0,5 со стороны нижних частот; частота спектра донного сигнала на уровне 0,5 со стороны верхних частот, анализируют суммарный спектр донного сигнала и задержанного радиоимпульса и по частоте минимума суммарного спектра определяют искомый параметр.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСИУБЛИН (292 (122 (д22 4 С 01 N 29/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕ22АМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3753763/25-28 (22) 18.04.84 (46) 23.12.85. Бюл. М 47 (71) Московский авиационный технологический институт им. К.Э.Циолковского (72) А.В.Захаров и Ю.A.TèìîøåíêñB (53) 534.232(088.8) (56) Методы неразрушающих испытаний., Под ред. P.Øàðïà. — М.: Мир, 1972, с. 59 — 88. (54) С!1ОСОБ 011РЕДЕЛЕНИЯ ВНУТРЕННЕЙ

СТРУКТУРЫ МАТЕPHAJIA И УСТРОЙСТВО ДЛЯ

ЕГО ОСУЦ2ЕСТВЛЕНИЯ. (57) 1. Способ определения внутренней структуры материала, закпючающийся в том, что излучают и принимйют отраженные от дна изделия ультразвуковые импульсы и анализируют спектр донного сигнала, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности, формируют радиоимпульс, задержка которого относительно донного сигнала определяется из соотношения где — задержка радиоимпульса относительно донного сигнала; — частота спектра донного сигнала на уров«е 0,5 со стороны нижних частот; — частота спектра донного сиг2. нала на уровне 0,5 со стороны верхних частот, анализируют суммарный спектр донного сигнала и задержанного радиоимпульса и по частоте минимума суммарного спектра определяют искомый параметр.

2. Устройство для определения внутренней структуры материала, содержащее последовательно соединенные импульсный генератор, совмещенный ультразвуковой преобразователь, широкополосный усилитель, временнои селектор и анализатор спектра и осцилограф,.;соединенный с выходом временного селектора, о т л и ч а ю1200179 ц» е е с я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено последовательно соединенными блоком задержки, вход которого соединен с выходом временного селектора, формирователем синхроимпульсов и вторым генератором, выход которого соединен с входом анализатора спектра.

Изобретение относится к измери тельной технике и может быть использовано в ультразвуковой дефектоскопии для определения внутренней структуры материала.

Целью изобретения является повышение точности.

На чертеже изображено устройство реализующее способ определения

У внутренней структуры материала.

Устройство содержит последовательно соединенные импульсный генератор

1 совмещенный ультразвуковой преЭ образователь 2, широкополосный усилитель 3, временной селектор 4 и анализатор 5 спектра и осцилограф 6, соединенный с выходом временного . селектора 4, последовательно соединенные блок 7 задержки, вход которого соединен с выходом временного селектора 4, формирователь 8 синхроимпульсов и второй генератор 9, выход которого соединен с входом анализатора 5 спектра.

Устройство работает следующим образом.

Генератор 1 вырабатывает импульс электрических колебаний, который возбуждает совмещенный ультразвуковой преобразователь 2. Отраженные от донной поверхности изделия (не показано) ультразвуковые сигналы принимает совмещенный ультразвуковои преобразователь 2 и трансформирует их в электрические импульсы, которые поступают на вход широкополосного усилителя 3, с выхода которого донный сигнал поступает на временной селектор 4 и селектируется от других мешающих сигналов.

С выхода временного селектора 4 отселект»»рова»»»»ый донный сигнал пос2 тупает на анализатор 5 спектра, по которому определяются частоты fÄ и

f спектра донного сигнала на уров2 не 0,5 со стороны нижних и соответ5 ственно верхних частот.

Одновременно с выхода временного селектора 4 донный сигнал поступает на блок 7 задержки, в котором он задерживается на время 7., определен ное из соотношения

2f 2f

Далее этот задержанный донный сигнал

15 поступает на формирователь 8 синхроимпульсов, который формирует синхроимпульс, запускающий второй генератор 9, который формирует радиоимпульс, задержанный относительно

20 донного сигнала. Задержанный радиоимпульс поступает на вход анализатора 5 спектра, который анализирует суммарный спектр донного сигнала и задержанного радиоимпульса, определяемый из выражения (»ш о ()+ 1 op ) ((/ F(<)

-(G(»d)/j + 4(Р(ы) Д G (ц) (cos tþt +

+ d()())»i

30 где ю — значение частот донного сигнала и радиоимпульса; время, соответствующее половине установленной задержки;

F(tu) — амплитудный спектр радиоимпульса, задержанного относительйо донного сигнала, С(ю) — амплитудный спектр донного сигнала;

l (

Редактор И.Николайчук Техред И.Асталош Корректор М.Демчик

Заказ 7859/49

Тираж 896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

313035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент.", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 12 задержанным относительно донного сигнала на частотах (о .

Закон изменения функции д"(и ) имеет вполне определенное значение для различной структуры материалов.

По частоте минимума суммарного спект" ра донного сигнала и задержанного

00179 4 радиоимпульса определяют внутреннюю структуру материала.

Использование способа определения внутренней структуры материала и устройства для его осуществления .позволяет повысить точность измерений за счет использования второго сигнала — задержанного радиоимпуль- са.