Устройство для диагностирования логических блоков

Устройство для диагностирования логических блоков

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

15114 G 01 R 31/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

К ABTOPCHOlVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3748323/24-21 (22) 05.06.84 (46) 23.01.86, Бюл, ¹ 3 (71) Ульяновский политехнический институт (72) В.IO.Лидак, В.Г.Тодуров, В.B.Данилов, В.Л.Никонов, С,С.Полосин, Л,Я.Сокур, Г.Б.Соловей и П.И.Соснин (53) 681.326(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1018063, кл, G 01 R 31/28, 1981.

Авторское свидетельство СССР № 890398, кл, G 06 F ll/16, 1980, (54)(57) l. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЛОГИЧЕСКИХ БЛОКОВ, содержащее первый и второй формирователи одиночных импульсов, соединенные вы ходами соответственно с установочным и счетным входами счетчика, блок индикации, блок свертки по модулю два, первый элемент ИЛИ, генератор тестов, соединенный первыми выходами с клеммами для подключения входов объекта диагностики, сумматор по модулю два, соединенный выходом с информационным входом регистра сдвига, соединенного выходами с первыми входами сумматора по модулю два, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повьппения быстродействия устройства, в него введены многоконтактный зонд, задатчик контролируемых выводов, элементы И, мультиплексор, регистр, второй элемент

ИЛИ, первый и второй элементы задержки, причем входы многоконтактного зонда соединены с клеммами для подключения выводов одной из микросхем ,диагностируемого логического блока, |выходы — с соответствующими первыми.Я0ы12 7 2 A входами элементов И, вторые входы которых соединены с выходами задатчика контролируемых выводов, выходы. — с соответствующими первыми информационными входами мультиплексора и с входами блока свертки по модулю два, соединенного выходом с вторым информационным входом мультиплексора соединенного адресными входами с выходами счетчика и с первая входами блока индикации, выходом с вторьж входом сумматора по модулю два, установочный вход регистра сдвига соединен с выходом первого элемента

ИЛИ, соединенного первым входом через первый элемент задержки с вы- 3 ходом второго формирователя одиноч-, ного импульса, с первым входом вто. рого элемента ИЛИ и с управляющим входом регистра, соединенного выхо-.. дами с вторыми входами блока инди- Я кации, соединенного третьим входом

М б с вторым выходом генератора тестов, четвертым входом - с входом генератора тестов и с выходом второго элемента задержки, соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ,соединенного вторым входом с выходом пер1 вого формирователя одиночного импульса Ь ) и с вторым входом первого элемента ИЛИ.

2, Устройство по .п.l, о т л ич а ю щ е е с "я тем, что блок индикации содержит индикатор готовности сигнатуры, соединенный первым и вто- Д Ь рым входами соответственно с третьим и четвертью входами блока индикации, индикатор сигнатуры и ийдикатор номера вывода, соединенные входами соответственно с вторыми и первыми входами блока индикации.

1 1206732

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при поиске неисправнос тей логических блоков с точностью до корпуска микросхемы. 5

Цель изобретения — повышение быстродействия устройства.

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.

Устройство для диагностирования 10 неисправностей объекта 1 диагностики содержит генератор 2 тестов, сумматор 3 по модулю два, блок 4 свертки по модулю два, регистр 5 сдвига, блок 6 индикации, первый 7 и второй 8 15 формирователи одиночного импульса, счетчик 9, мультиплексор 10, регистр

11, первый 12 и второй 13 элементы

ИЛИ, первый 14 и второй 15 элементы задержки, многоконтактный зонд 16, задатчик 17 контролируемых выводов, элементы И 18.

Блок 6 индикации содержит индикатор 19 готовности сигнатуры, инди- катор 20 сигнатуры, индикатор 21 номера вывода, Выходы первого 7 и второго 8 формирователей одиночного импульса соединены соответственно с установочным и счетным входами счетчика 9. Первые выходы генератора 2 .тестов соединены с клеммами для подключения входов объекта 1 диагностики. Выход сумматора 3 по модулю два соединен с информационньнк входом регистра 5 сдвига, соединенного выходами с первыми входами сумматора 3 по модулю два. Входы многоконтактного зонда 16 соединены с клеммами для под-. ключения выводов одной из микросхем диагностируемого логического блока, выходы — с соответствующими первыми входами элементов И 18,вторые входы которых соединены с выходами задатчи ка 17 контролируемых выводов, выходы - с соответствующими первыми ин- 1 формационными входами мультиплексора 10 и с входами блока 4 свертки по модулю два, соединенного выходом с вторым информационньм входом мультиплексора 10, соединенного адресными входами с выходами счетчика 9 и с первыми входами блока 6 индикации, выходом с вторым входом сумматора 3 по модулю два.

Установочный вход регистра сдвига соединен с выходом первого элемента ИЛИ 12 ° соединенного первым входом через первый элемент 14 задержки с выходом второго формирователя

8 одиночного импульса, с первым входом второго элемента ИЛИ 1-3 и с управляющим входом регистра 11, соединенного выходами с вторыми входами блока 6 индикации, соединенного третьим входом с вторым выходом генератора 2 тестов, четвертым входомс входом генератора 2 тестов и с выходом второго элемента 15 задержки, соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ 13, соединенного вторым входом с выходом первого формирователя 7 одиночного импульса и с вторым входом первого элемента ИЛИ

12, Устройство работает следующим об-, разом.

С помощью устройства осуществляется автоматизированный поиск неисправностей объекта 1 диагностики с точностью до корпуса неисправной микросхемы. Поиск начинается с неисправного по тесту выхода объекта 1

25 диагностики, при этом с помощью электрической схемы объекта 1 диагностики выявляется микросхема, работающая на неисправный выход объекта 1 диагностики. К выводам корпу30 са этой микросхемы подключаются многокоитактный зонд 16, обеспечивающий съем сигналов со всех входных и выходных выводов микросхемы.

Затем определяется соответствие

З5 сигналов на выходных выводах микросхемы эталонньм. Для этого с помощью задатчика 17 контролируемых выводов, выполненного, например, на тумблерах, формируются разрешающие

40 сигналы на входы элементов И 18, соответствующих выходным выводам мик:росхемы, к которой подключен много- . контактный зонд 16. С помощью форми рователя 7 одиночного импульса, задается одиночный импульс, который устанавливает счетчик 9 в состояние

111...1, регистр 5 сдвига через .элемент ИЛИ 12 - в нулевое состояние, Код 111...1 с выходов счетчика 9

50 поступает на адресные входы мультиплексора 10, что приводит к подключению через мультиплексор 10 выхода блока 4 свертки по модулю два к информационному входу сигнатурного ане55 лизатора, выполненного на сумматоре 3 по модулю два и регистре 5 сдвига. Одиночный импульс с выхода фор мирователя 7 поступает также через

3 1206732 элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки на вход генератора 2 тестов и на вход блока 6 индикации, выключая в нем индикатор 19 готовности сигнатуры. Индикатор 19 готовности 5 сигнатуры выключен в течение всего времени работы генератора 2 тестов, что указывает оператору, что очередная сигнатура в регистре 5 сдвига еще не получена и можно обрабатывать 10 предшествующую сигнатуру (сравнивать ее с эталонной). По запускающему сигналу с выхода элемента 15 задержки генератор 2 тестов задает на входы объекта 1 диагностики входные воздей- 15 ствия, причем при недостаточно высо- . кой частоте работы генератора 2 тестов и большом числе тестов время их задания становится сравнимым со временем обработки предшествующей сигнатуры оператором, что позволяет совмещать задание тестов для получения 1+1-й сигнатуры с. анализом i-й сигнатуры.

Реакции с выходных контактов диагностируемой микросхемы проходят через зонд 16 и открытые задатчиком 17 элементы И 18 на входы блока 4 свертки по модулю два, где для каждого из входных тестовых воздействий на объект 1 диагностики формируется свертка по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы. Результат свертки, полученной в блоке 4, поступает через мультиплексор 10 на вход сумматора 3 по модулю два, где суммируются с содержимым регистра 5 сдвига, сдвиг в котором осуществляется синхронйо с подачей тестов от генератора 2. Сигнатурный анализатор на сумматоре 3 по модулю два и регистре 5 сдвига суммирует полученные на всех тестовых воздействиях свертки по модулю два выходных сигналов диагностируемой микросхемы и формирует соответствующую сигнатуру, которая поступает на входы регистра 11.

По окончании цикла работы генератора 2 тестов он выдает сигнал на блок 6 индикации, где включается индикатор 19 готовности сигнатуры, 4 сигнализирующий оператору о том, что очередная i+1-я сигнатура получена и можно, окончив анализ i-й сигнатуры, перейти к анализу i+1-й, Для анализа i+1-й сигнатуры с одновременным получением i+2-й опера35

55 тор с помощью формирователя 8 одиночного импульса задает одиночный импульс на счетный вход счетчика 9, добавляя к его содержимому единицу.

При этом (в случае, если iO) в счетчике 9 записывается код 000...0, что соответствует получению сигнатуры сверток по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы и приводит к подключению к входу сумматора 3 через мультиплексор IO i-ro входного вывода микросхемы. Если дФО, то в счетчике 9 записывается код 1 номера входного вывода микросхемы, с которого получается i+1-я сигнатура. По одиночному импульсу с выхода формирователя 8 производится также перепись содержимого регистра

5 сдвига в регистр 11, затем с некоторой задержкой по времени, определяемой элементом 14 задержки, через элемент ИЛИ 12 сбрасывается в нулевое состояние регистр 5 сдвига, и он подготавливается таким образом к получению i+1-й сигнатуры. В результате сразу же после задания импульса с формирователя 8 на индикаторе

21 номера вывода индицируется номер входного вывода микросхемы, с которого снимается i+1-я сигнатура, а на индикаторе 20 сигнатуры сама

i+I-я сигнатура.

Тем же импульсом с формирователя

8 через элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки, обеспечивающий задержку запуска генератора 2 тестов на время сброса регистра 5 сдвига, запускается генератор 2 тестов, что позволяет во время анализа оператором

i+1-й сигнатуры получать i+2-ю.

После того, как получена сигнатура сверток по модулю два с выходных выводов диагностируемой микросхемы, она сравнивается с эталонной. Если эталонная сигнатура совпадает с реально полученной, делается вывод о том, что данная микросхема исправна, если нет - то осуществляется поиск неисправности, Для этого путем последовательной выдачи одиночных импульсов с формирователя 8 увеличивают содержимое счетчика 9, что приводит к последовательному подключению к сигнатурному анализатору на сумматоре 3 и регистре 5 сдвига входных выводов диагностируемой микросхемы, Сигнатуры выходных выводов микросхемы при этом не получаются, так как

1206732

Составитель В,Дворкин

Редактор А.Шандор Техред М.Пароцай Корректор О.Луговая

Заказ 8706/47 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1.1.3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Филиал ППП Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4

$ задатчиком 17 запираются соответствующие элементы И 18, В том случае, если сигнатура, высвеченная индикатором 20, одного из входных выводов, номер которого определяется индикатором 21, равна эталонной, осуществляется переход к контролю другого входного вывода микросхемы, если не равна, то зонд 16 подключается к другой микросхеме, работающей своим выходом на анализируемую, и поиск дефекта продолжается до обнаружения микросхемы, у которой все входные сигнатуры равны эталонным,а выходная сигнатура свертдкпо модулю два-нет.

Таким образом, в предложенном устройстве за счет введения многокон тактного зонда, задатчика; элементов И мультиплексора 10, регистра 11, элементов задержки и элементов

ИЛИ обеспечивается возможность автоматизированного поиска дефектной микросхемы путем автоматического получения сигнатур для выходных и входных выводов микросхем, лежащих на пути поиска неисправности, а также возможность анализа предыдущей сигнатуры во время получения последующей, что существенно повышает быстродействие устройства.