Способ электрометрического определения элементов залегания скрытых под наносами пластов

Способ электрометрического определения элементов залегания скрытых под наносами пластов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

¹ 121516

Класс 2ig, ЗОо1

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

И. М. Блох

СПОСОБ ЭЛЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ злементов млеглния сКРь тых под нлнослми пллстов

Заявлено 15 марта 1955 г. за № 26457576746/26:в Отдел изобретательства и рационализации Министерства геологии и охраны недр СССР

Круговые исследования симметричными электрометрическими установками (круговые профилирования и круговые зондирования) разработаны для определения простирания анизотропных пород. Этот способ может применяться лишь при наличии анизотропии горных пород, когда кажушиеся сопротивления, измеренные установкой, ориентированной вкрест простирания, имеют меньшие значения, чем по простиранию.

Недостатком способа являются весьма ограниченные его возможности, позволяющие, с одной стороны, применять его на участках, где нет че- редования четко выраженных пластов или других неоднородностей, а с другой.,— получать из всех элементов залегания лишь одну линию простирания.

Замена симметричных установок несимметричными не устраняет указанных недостатков, а лишь способствует решению вопроса о возможности рассмотрения изучаемой среды в качестве анизотропной.

Для получения всех элементов залегания, определяющих пространС7 ВЕННОЕ IIO70>KeHIIe II;1aCTa, BHe BBBHCii)IOCTi1 OT ia BHHHSI li 7H ОТСуТСТВНН анизотропии, предлягяется специальная круговая установка, центр которой располагается B определенных точках по отношению к изучаемому пласту, а единичные замеры Вып01.-1я!Отся 1lесимметричными трехэлектродными или дипольными устянОВкями с разносами, Опрсделенкым образом связанными с видимой мощностью пласта.

Сушность предлагаемого способа -ai<;iioaaeTcsI B проведении НругоВых исследований в точках максимальной деформации электрического поля, Вызьlваемых экранными явлениями на контактах и iacTOB и выполнением единичных замеров несимметричными трехэлектродными н дипольHûìè установками с расстояниями между итаюшими и измерительными электродами, превышающими видимуio мошность пласта. аВисимость получаемых В ре31льтяте таки<к 11сс7едОВяний диаграмм От элементов залегания пластов изображена ня фиг. 1. № 121516

Полевые исследования предлагаемым способом складываются из следующих пяти этапов: выбора местоположения центра установки, выбора вида установки, установления размеров установки для единичных замеров, подготовки планшета для измерений и производства измерений.

Центр установки должен располагаться в точке максимальных изменений кажущихся сопротивлений, вызываемых пластом. Местоположение этой точки устанавливается по результатам двустороннего электропрофилирования несимметричной установкой (дипольной или трехэлектродной) — с учетом минимальных искажений вызываемых неровностями земной поверхности и неоднородностью покровных отложений.

Установка для круговых исследований состоит из находя ихся в центре измерительных электродов и расположенных по кругу через определенный интервал питающих заземлений. Практически для каждого единичного замера используются одни и те же измерительные электроды и питающие заземления, которые поворачиваются по кругу через заданные интервалы (фиг. 2). Питающие электроды могут располагаться в различных комбинациях (фиг. 2 — а, б и в), лишь с сохранением асимметрии электродов относител но центра установки при каждом единичном измерении.

При выборе разносов установки, кроме оощих для электроразведки требований, необходимо соблюдение следующих специфически обязательных для рассматриваемого способа требований. Во-первых, расстояние от крайнего измерительного электрода до ближайшего к центру питающего заземления должно превосходить видимую мощность пласта; во-вторых, разносы установок должны подбираться с таким расчетом, чтобы питающие заземления при круговых исследованиях оказывались вне сферы ощутимых воздействий от смежных пластов.

Подготовка планшета для измерений заключается в том, что из точки, выбранной в качестве центра для круговых исследований, на местности разбиваются лучевые направления с заданными интервалами азимутов (чаще всего 30 ) и устанавливается местоположение питаюших заземлений.

Измерения, кажущихся сопротивлений производятся теми же приемами, что для любой другой разновидности метода сопротивлений.

Предмет изобретения

Способ электрометрического определения элементов залегания скрытых под наносами пластов, отличающийся тем, что измерения ведутся круговой установкой с центром в точках максимального изменения кажущихся сопротивлений, вызываемого пластом на поверхности земли, а единичные замеры выполняются при несимметричном расположении питающих электродов относительно измерительных и с расстояниями между ними, превышающими видимую мощность пласта. ф

Ла

Р г

Р,(1 г

I

/

О г с, а- „ ..

1 г, Ф Г .

z г

-rZ а .

- н 8 а

l, /

Ф

8, 8 № 121516