Способ анализа композиционных покрытий

Способ анализа композиционных покрытий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Способ анализа коммутационных электролитических покрытий может быть использован для определения : их состава. Цель - повьшение точности анализа. Способ заключается в снятии поляризационных кривых анодного растворения металлической компоненты покрытия. По поляризационной кривой определяют количество электричества, затраченное на растворение покрытия. Измеряют толщину стравленного слоя покрытия и рассчитьшают отношение концентрадий фаз в покрытии по формуле Св С А h JA L где Cg и A содержание металлической фазы А и электрохимически неактивной фазы В в покрытии; у и в Уд - плотность фаз В и А; 8д и 8 - толщина стравленного слоя чистого металла и анализируемого покрытия; Од и - количество электричества , затраченное на растворение слоя чистого металла и металла анализируемого покрытия. 1 табл. с S (Л СП 4ik

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

К ABTGPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21 ) 3724204/24-25 (22) 16.04.84 (46) 30.03.86. Бюл. М 12 (71 ) Куйбышевский ордена Трудового

Красного Знамени политехнический институт им. В.B. Куйбышева (72) В.В. Слепушкин, Т.А. Никулаева и Р.С. Сайфуллин (53 ) 543 .25 (088 .8 ) (56) Авторское свидетельство СССР

9 204084, кл. G О1 N 27/48, 1968.

Авторское свидетельство СССР

Ф 989445, кл. G О1 N 27/48, 1982.

Авторское свидетельство СССР

N - 987501, кл. G 01 N 27/48, 1982. (54)СПОСОБ АНАЛИЗА КОМПОЗИЦИОННЫХ

ПОКРЫТИЙ (57)Способ анализа коммутационных электролитических покрытий может быть использован для определения . их состава. Цель — повышение точности анализа. Способ заключается

„„Я0„„1221574 А в снятии поляризационных кривых анодного растворения металлической компоненты покрытия. По поляризационной кривой определяют количество электричества, затраченное на растворение покрытия. Измеряют толщину стравленного слоя покрытия и рассчитывают отношение концентраций фаз в покрытии по формуле где С и С вЂ” содержание металлиЬ А ческой фазы А и электрохимически неактивной фазы В в покрытии; и

y> — плотность фаз В и A; $A и о — толщина стравленного слоя чис п того металла и анализируемого покрытия; Q> и Я „ „ — количество электричества, затраченное на растворение слоя чистого металла и металла анализируемого покрытия. 1 табл.

1221574 где Спи С

20 содержание металлической фазы А и электрохимически неактивной фазы В в покрытии; плотность фаз В и А соответственно; толщина стравленного слоя чистого металла и

И д

S и8„ 30 анализируемого покрытия.

Вторая фаза в КЭП, %

Тип металлографически предлагаемым и РФА способом в соотвествии с прототипом (вольтамперометрически) 5,96

6,00

Ni MoS

8,97

8,25

10,00

4,50

6,50

4,35

3,75

3,00

2,85

1,63

2,25

7,00

7,39

Ni-P-А1 0

6,83

7,59

ВНИИПИ Заказ 1605/50, Тираж 778 Подписное

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к электрохимическому анализу и может быть использовано для определения состава композиционных электролитических покрытий.

Цель изобретения — повьппение точ- ности анализа.

II p и м е р. Кулонометрическое определение количества металла, измерение геометрических размеров растворенной части композиционного покрытия и расчет состава покрытия исходя иэ аддитивности плотности отдельных компонентов покрытия позволяют определить искомый состав.

Поляризационные кривые никеля и композиционных покрытий на его осно ве снимают в растворе, содержащем

1 моль/л NH и 4 моль/л ИН С1, при скорости изменения потенциала

400 мВ/мин и определяют количество электричества, йдущее на растворение металла. Затем определяют толщину стравленного слоя при помощи профилометра - профилографа и рассчитывают отношение концентраций фаз в покрытии по указанной формупе.

Результаты определения состава композиционных покрытий на основе никеля представлены в таблице.

Формула изобретения

Способ анализа композиционных покрытий,, заключающийся в снятии поляризационных кривых анодного растворения металлической компоненты покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, по поляризационной кривой опре10 деляют количество электричества, затраченное на растворение металла анализируемого покрытия, измеряют тол° :щину стравленного слоя покрытия и рассчитывают отношение концентраций

15 фаз в покрытии по формуле анализируемого покрытия;

Q Q — количество электричестА> кЭП . ва, затраченное на растворение слоя чистого металла и металла