Импульсный электромагнитный дефектоскоп

Импульсный электромагнитный дефектоскоп

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и мбжет быть использовано для определения качества электропроводящих изделий. Цель изобретения - повышение точности измерений. Импульсньй электромагнитньй дефектоскоп содержит вихретоковый преобразователь с возбуждающими и одной измерительной обмотками , соединенные последовательно источник питания и первый ключ, подключенный к первой возбуждающей обмотке , соединенные последовательно тактовый генератор, выход которого подключен к первому ключу, счетчик, схему управления и цифроаналоговый преобразователь, два блока задержки, подключенные к тактовому генератору, коммутатор, входы которого подключены к выходам блоков задержки, а вход управления соединен со счетчиком, и блок регистрации, подключенный к цифроаналоговому преобразователю и счетчику , а также соединенные последовательно делитель напряжения, подключенный к источнику питания, сумматор, второй вход которого подключен к цифроаналоговому преобразователю, и второй ключ, вход управления которого подключен .к тактовому генератору, а выход - к второй возбуждающей обмотке , и соединенные последовательно .формирователь, подключенный к измерительной обмотке, и третий ключ, управляющий вход которого подключен к выходу коммутатора, а выход - к схеме управления. 1 ил, i Л С ю ю У1 00 о

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (Я1 4 G 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ .Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3795982/25-28 (22) 02.10.84 (46) 30.03.86. Бюл. У 12 (72) А.Г.Лещинский и А.Л.Забалуев (53) 626. 179. 14(088 ° 8) (56) Методы неразрушающих измерений./

Под ред. P.Øàðïà, М.: Мир, 1972, с. 414.

Васильев В.П. Автоматизированная установка комплексного входного контроля оболочек твэлов. — Дмитров. град, 1981. (Препринт/37(490). (54) ИМПУЛЬСНЫЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ

ДЕФЕКТОСКОП (57) Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и мбжет быть использовано для определения качества электропроводящих изделий.

Цель изобретения — повьппение точнос- ти измерений. Импульсный электромагнитный дефектоскоп содержит вихретоковый преобразователь с двумя возбуждающими и одной измерительной обмотками, соединенные последовательно источник питания и первый ключ, подключенный к первой возбуждающей обмотке, соединенные последовательно . тактовый генератор, выход которого подключен к первому ключу, счетчик, схему управления и цифроаналоговый преобразователь, два блока задержки, подключенные к тактовому генератору, коммутатор, входы которого подключены к выходам блоков задержки, а вход управления соединен со счетчиком, и блок регистрации, подключенный к цифроаналоговому преобразователю и счетчику, а также соединенные последовательна делитель напряжения, подключенный к источнику питания, сумматор, второй вход которого подключен к циф- @ рааналоговаму преобразователю, и второй ключ, вход управления которого подключен к тактовому генератору, а С выход — к второй возбуждающей обмотке, и соединенные последовательно .формирователь, подключенный к измерительной обмотке, и третий ключ, управляющий вход которого подключен к выходу коммутатора, а выход - к схеме управления. 1 ил.

1 12

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и может быть использовано для определения качества электропроводящих изделий.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

На чертеже представлена блок †схема импульсного электромагнитного дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит соединенные последовательно источник 1 питания, ключ 2 и возбуждающую обмотку 3 вихретокового преобразователя (на чертеже не показан), соединенные последовательно делитель 4 напряжения, подключенный к источнику 1 питания, сумматор 5, второй ключ 6 и вторую возбуждающую обмотку 7, соединенные последовательно измерительную обмотку 8, формирователь 9, третий ключ 10, схему 11 управления и цифроаналоговый преобразователь 12, выход которого подключен к второму входу сумматора 5.

Устройство содержит также блок 13 регистраций, подключенный к цифроаналоговому преобразователю 12, два блока 14 и 15 задержки, коммутатор 16, включенный между выходами блоков 14 и 15 задержки и вторым входом ключа 10, и соединенные последовательно тактовый генератор 17, выход которого подключен к входам ключей 2 и 6 и блоков 14 и 15 задержки, и счетчик 18 тактовых импульсов, выход которого подключен к коммутатору 16 и блоку 13 регистрации.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Сигналы с выхода тактового генератора 17 открывают по их управляющим входам ключи 2 и 6, через которые поступает напряжение на возбуждающую обмотку 3 с выхода источника 1 питания и на возбуждающую обмотку 7 с выхода сумматора 5, на один из входов которого напряжение источника 1 питания подается через делитель 4 напряжения. Амплитуда импульса, поступающего с измерительной обмотки на вход формирователя 9, равна разности амплитуд импульсов, питающих возбуждающие обмотки 3 и 7.

Коэффициент деления делителя 4 напряжения выбирается равным величине, при которой амплитуда импульса на измерительной обмотке 8 при нулевом напряжении на выходе цифроаналогового преобразователя 12 была равна по21580

55 ловине амплитуды импульса, создаваемого на этой же обмотке максимальным выходным напряжением цифроаналогового преобразователя 12 при холостом режиме (в отсутствие дефектов в зоне контроля). При появлении дефекта на выходе формирователя 9 появляется сигнал, отличающийся от исходного.

В процессе измерения этого сигнала на выходе цифроаналогового преобразователя 12 в каждом такте устанавливается напряжение, компенсирующее сигнал от дефекта. Очередной такт преобразования начинается с поступления сигнала с выхода ключа 10 на соответствующий вход схемы 11 управления. Порядок изменения напряжения соответствует методу последовательных приближений, т.е, в первом такте с выхода схемы 11 управления на вход цифроаналогового преобразователя 12 поступает двоичный код с единицей в старшем разряде, что соответствует напряжению на выходе цифроаналогового преобразователя 12, равному половине максимального.

Если этого напряжения недостаточно для компенсации воздействия контролируемого параметра объекта, на выходе формирователя 9 появляется сигнал положительной полярности, который поступает через ключ 10 на один из входов схемы 11 управления, увеличивая код на ее выходе на единицу в разряде, следующем за старшим в сторону уменьшения, и на выходе цифроаналогового преобразователя 12 устанавливается напряжение, равное

1/2 U, + 1/4 Б . Если напряжение, установленное на выходе цифроаналогового преобразователя в первом такте больше величины, необходимой для компенсации, то полярность выходного сигнала формирователя 9 отрицательна и при поступлении его через ключ 10 на тот же вход схемы 11 управления код на ее выходе уменьшается в результате установки в старшем разряде нуля, а в следующем за ним — единицы, а напряжение устанавливается соответственно равным 1/2

1/4 Б„. В следующем такте напряжение на выходе цифроаналогового преобразователя 12 изменяется на величину, равную 1/8 U в зависимости от полярности выходного сигнала формирователя 9. Число тактов преобразования определяется числом разрядов цифроаналогового преобразователя 12 и счет1221580 чика 18, на выходе которого после окончания преобразования в цифровой код появляется импульс, поступающий на другой вход схемы 11 управления и на управляющие входы коммутатора 16 и блока 13 регистрации. Выбор двух стробируемых точек выходного сигнала измерительной обмотки 9 осуществляется установкой величины задержки тактового импульса в блоках 14 и 15 задержки, которые поочередно через коммутатор 16 подключаются к управляющему входу ключа 10, при поступлении импульса на управляющий вход которого происходит открывание ключа 10 для прохождения через него сигнала с выхода формирователя 9.

Подключение очередного блока задержки к выходу коммутатора 16 производится при поступлении сигнала на

его управляющий вход после окончания заданного числа тактов преобразования.

Таким образом, в двух цифровых и двух аналоговых каналах блока 13 регистрации регистрируются изменения амплитуд сигналов, обусловленных изменением контролируемых параметров, получаемых стробированием импульса в два момента времени (двух точках), 4пределяемых блоками 15 и 14 задержки.

Формула изобретения

Импульсный электромагнитный дефектоскоп, содержащий вихретоковый преобразователь с двумя возбуждающими и одной измерительной обмотками, соединенные последовательно источник питания и первый ключ, подключенный к первой возбуждающей обмотке, соединенные последовательно тактовый генератор, выход которого подключен к первому ключу, счетчик, схему управления и цифроаналоговый преобра10 эователь, два блока задержки, подключенные к тактовому генератору, коммутатор, входы которого подключены к,выходам блоков задержки, а вход управления соединен со счетчи15 ком, и блок регистрации, подключенный к цифроаналоговому преобразователю и счетчику, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности измерений, он снабжен

20 соединенными последовательно делителем напряжения, подключенным к источнику питания, сумматором, второй вход которого подключен к цифроаналоговому преобразователю, и вторым

25 ключом, вход управления которого подключен к тактовому генератору, а выход — к второй возбуждающей обмотке, и соединенными последова— тельно формирователем, подключенЗО ным к измерительной обмотке и третьим ключом, управля— ющий вход которого подклю .чен к выходу коммутатора а выход — к схеме управле— ния»

1221580

Составитель Ю. Глазков

Техред В.Кадар Корректор В,Бутяга

Редактор М.Дыпын

Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Заказ 1607/51 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5