Способ рентгенографического контроля

Способ рентгенографического контроля

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к способам рентгенографического контроля и может быть использовано при контроле слабоконтрастных объектов. После получения;изображения просвечиваемого рентгеновским излучением объекта рентгеновскую пленку с этим изображением облучают равномерные потоком инфракрасного излучения (ИКИ). Поскольку на пленке имеются участки изображения разной контрастности , проходящий через пленку поток ИКИ модулируется по амплитуде с глубиной модуляции, большей, чем в случае использования видимого излучения . Прошедший поток ИКИ визуализируется на экране тепловизора. .1 ил О)

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (S1) 4 0 01 И 23 04

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (57) Изобретение относится к способам рентгенографического контроля и может быть использовано при контроле слабоконтрастных объектов.

После получения;изображения просвечиваемого рентгеновским излучением объекта рентгеновскую пленку с этим иэображением облучают равномерньи потоком инфракрасного излучения (ИКИ). Поскольку на пленке имеются участки изображения разной контрастности, проходящий через пленку поток

ИКИ модулируется по амплитуде с глубиной модуляции, большей, чем в случае использования видимого излучения. Прошедший поток ИКИ виэуализируется на экране тепловизора. ,1 ил. (21) 3764847/24-25 (22) 28,06.84 (46) 07.04.86. Бюл. N- 13 (71) Научно-исследовательский институт интроскопии (72) А.А.Петушков, Е.А.Гусев, (.В.Королев и А..Е.Карпельсон (53) 621.039(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

1(1122951, кл. 0 01 Н 23/04, 1984.

Румянцев С.В. Радиационная дефектоскопия. — N. Атомиздат, 1974., с. 133. (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ e g „.

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ Б1 ;!.. ,ц 7iieg

Составитель Н.Валуев

Редактор Н.Бобкова Техред В.Кадар Корректор С.Шекмар

Заказ 1704/45

Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

f 12

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий, а именно к способам рентгенографического контроля, и может быть использовано при контроле слабоконтрастньгх объектов.

Цель изобретения — повышение контрастной чувствительности контроля.

На чертеже изображена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Устройство содержит источник 1 инфракрасного излучения, например кварцевую лампу, анализируемую рент-, геновскую пленку 2, приемную камеру 3 тепловизора и блок 4 индикации тепловизора.

Способ осуществляют следующим образом.

Источник 1, например кварцевая лампа с отражателем, создает равномерно распределенный поток инфракрасного излучения. Этот поток проходит через исследуемую рентгеновскую пленку 2. Поскольку на пленке имеются участки с разной контрастностью, прошедший тепловой поток оказывается промодулированным по амплитуде. В связи с тем, что коэффициенты прохождения и отражения света в,инфракрасной области спект-. ра сильнее зависят от степени прозрачности объекта, чем коэффициенты для видимой области спектра, прошедший через пленку тепловой поток, сильнее промодулирован по интенсивности, чем прошедшее видимое излу23102 2 чение. Прошедший тепловой поток попадает на приемную камеру 3 тепловизора, а затем визуализируется на экране блока 4 индикации тепловизора. В результате на экране последнего наблюдается изображение рент геновской пленки с повышенной контрастной чувствительностью.

В предлагаемом способе используется инфракрасное излучение спектрального диапазона 0,75-10 мкм. Это связано с тем, что коэффициенты прохождения и отражения излучения в этой области спектра очень сильно зависят от степени прозрачности объекта и это излучение просто регистрируется детекторами инфракрасного излучения.

Формула изобретения

Способ рентгенографического контроля, включающий регистрацию про25 шедшего контролируемый объект потока излучения рентгеновской пленкой и химико-фотографическую обработку пленки, отличающийся тем, что, с целью повышения контрастной чувствительиости контроля, после химико-фотографической обработки пленку облучают равномерным потоком инфракрасного излучения в диапазоне длин волн от 0,75 до 10 мкм, преобразуют прошедшее через пленку или отраженное от нее излучение в видимое и по анализу полученного изобра-! жения судят о дефектах объекта.