Контактное устройство для подключения интегральных микросхем с планарными выводами

Контактное устройство для подключения интегральных микросхем с планарными выводами

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к области радиоэлектроники и может быть использовано для контроля микросхем. Цель изобретения - повышение надежности контактирования и уменьшение механического повреждения вьшодов микросхемы. Посредством рукоятки, эксцентриков 20 и 21 и стоек 22 и 23 осуществляют встречное движение контактного поля (КП) 3, с некоторым опережением, и КП 2. Контактные штыри 15 КП 3 прижимают выводы 10 микросхемы 9 к колодке 8 каретки 4. Контактные штьфи 13 КП 2, входя в отверстия 12, также контактируют с вывод ами 10. Конструкция устройства позволяет производить проверку микросхем с малым шагом расположения вь1- водов, двухсторонний контакт исключает их деформацию, а наличие двух колодок 8 значительно снижает время на смену микросхем. 3 ил. с о (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„122 054 (51) 4 Н 05 К 7/12

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Фис 2

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3752439/24-21 (22) 13. 06,84 (46) 15.04.86. Вюл. № 14 (72) В.П.Оркин и Ю.Д.Кушак (53) 621.382(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 434633, кл. Н 05 К 13/00, 1974.

Авторское свидетельство СССР № 466632, кл. Н 05 7/ 12, 1975. (54) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКШОЧЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ С

ПЛАНАРНЫМИ ВЫВОДАМИ (57) Изобретение относится к области радиоэлектроники и может быть использовано для контроля микросхем.

Цель изобретения — повышение надежности контактирования и уменьшение механического повреждения выводов микросхемы. Посредством рукоятки, эксцентриков 20 и 21 и стоек 22 и 23 осуществляют встречное движение контактного поля (КП) 3, с некоторым опережением, и КП 2. Контактные штыри 15 КП 3 прижимают выводы 10 микросхемы 9 к колодке 8 каретки 4. Контактные штыри 13 КП 2, входя в отверстия 12, также контактируют с выводами 10. Конструкция устройства позволяет производить проверку микросхем с малым шагом расположения Bbl водов, двухсторонний контакт исключает их деформацию, а наличие двух колодок 8 значительно снижает время на Ж смену микросхем. 3 ил.

1225054

Изобретение относится к радиоэлектронике, в частности к устройствам для подключения интегральных микросхем (ИИС) с гибкими планарными выводами, и может быть использовано для конт- э роля HMC.

Цель изобретения - повышение надежности контактирования при уменьшении механического повреждения выводов микросхем. 10

На фиг, 1 изображено устройство, в рабочем положении, на фиг. 2 — разрез А-А на фиг. 1; на фиг. 3 — посадочное место микросхемы, вид сверху.

Контактное устройство для подклю- 15 чения интегральных микросхем с планарными выводами состоит из корпуса

1 с нижним контактным полем 2 и верхним контактным полем 3, между которыми горизонтально перемещается ка- 20 ретка 4 с двумя посадочными местами для микросхем. Каретка перемещается по направляющим 5 и фиксируется в двух ее крайних положениях фиксаторами 6, которые опускаются в пазы 7. 25

Посадочные места микросхем представ1 ляют собой две колодки 8, на которых устанавливаются две микросхемы

9 с планарными выводами 10 и закрепляются защелками 11. В колодках 30

8 выполнены отверстия .12, через которые проходят контактные штыри нижнего контактного поля 2. На нижнем контактном поле 2 в шахматном порядке расположены контактные штыри

13, подпружиненные при помощи пружин

14. На верхнем контактном поле 3 в шахматном порядке расположены подпружиненные контактные штыри 15 (пружины не показаны) ° Контакт выво- 40 дов 10 микросхем 9 с контактными штырями 13 и 15 происходит в токах

16. Вертикальное перемещение нижнего

2 и верхнего 3 контактных полей осуществляется простым поворотом руко- 4g ятки 17 с флажком 18 на 180 . Рукоятка 17 закреплена на валу 19, на котором насажены два эксцентрика 20 и 21. Эксцентрик 20 посредством стоек 22 перемещает верхнее контактное, поле 3, а эксцентрик 21 посредством стоек 23 перемещает нижнее контактное поле 2. Со стойками 22 соединены фиксаторы 6.

Подключение микросхем осуществляется следующим образом.

Микросхему 9 устанавливают в колодку 8 того посадочного места, которое находится за пределами рабочей зоны устройства и закрепляют защелкой 11. Затем передвигают каретку 4 в другое крайнее положение по направляющим 5 до упора. При этом посадочное место В занимает положение в рабочей зоне, а посадочное место, которое находилось в рабочей зоне, занимает положение за ее пределами.

Такая конструкция посадочных мест позволяет значительно снизить потери времени на смену микросхем, подвергающихся контролю.

Поворотом рукоятки 17 осуществляют поворот нала 19 с эксцентриками

20 и 21 на 180, причем флажок 18, закрепленный на рукоятке, ограничивает этот поворот. Эксцентрики 20 и 21 посредством стоек 22 и 23 опускают верхнее контактное поле 3 и поднимают нижнее контактное поле 2 к выводам 10 микросхемы 9, причем верхнее контактное поле 3 опускается к выводам ИИС с небольшим опережением (порядка 1 мм). Опережение в перемещении контактных штырей верхнего контактного поля достигается за счет первоначального (введенного в качестве константы в конструкцию устройства) смещения верхнего контактного поля по сравнению с нижним контактным полем относительно выводов интегральной микросхемы (ИИС) при равном рабочем ходе верхнего и нижнего контактных полей. Вследствие этого суммарное усилие контактных штырей 15 верхнего контактного поля

3 превышает суммарное усилие кон тактных штырей 13 нижнего контактного поля 2. Контактные штыри 15 верхнего контактного поля 3 прижимают гибкие выводы 10 микросхемы 9 к колодке 8 с отверстиями 12, а контактные штыри 13 нижнего контактного поля 2, входя в отверстия 12, также контактируют с выводами 10. Таким образом осуществляетСя надежное электрическое контактирование, отсутствует деформация гибких планарных выводов ИИС. Одновременно при повороте вала 19 с эксцентриками 20 и 21 происходит автоматическая фиксация каретки 4 посредством фиксаторов 6, соединенных со стойками 22, которые опускаются в пазы 7 каретки 4. При такой фиксации каретки 4 обеспечивается необходимая точность совмещения контактных штырей 13 и 15 с выводами

1225054

10 микросхем 9 в точках 16, расположенных в шахматном порядке.

Предлагаемая конструкция устройства позволяет производить проверку

ИИС с малым шагом расположения выводов к каждому из которых подключаютВ ся по четыре контактных штыря. Нарастание контактного усилия происходит плавно и равномерно. Благодаря.наличию двустороннего контакта исключается деформация и повреждение гибких выводов ИМС.

Формула и з о б р е т е н и я

Контактное устройство для подклю.чения интегральных микросхем с планарными выводами, содержащее корпус, контактные штыри, узел перемещения и фиксации микросхем с базовой поверхностью и механизм перемещения контактных штырей, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения надежности контактирования при уменьшении механического повреждения выводов микросхем, контактные штыри расположены по обе стороны от выводов микросхемы рядами в шахматном порядке, причем расстояние от верхних

1р контактов до базовой поверхности узла фиксации микросхемы превышает расстояние от нижних контактов до базовой поверхности подключаемой микросхемы, а механизм перемещения контактных штырей выполнен в виде двух закрепленных на одном валу эксцентриков, каждый из которых размещен в аме, жестко связанной с парой стоек, ча одной из которых закреплены верх2О ние контакты, а на другой — нижние.!

225054

Составитель В.Максячкин

Техред И.Верес Корректор M.Øàðîøè

Редактор М.Недолуженко

Заказ 1967/6 1

Тираж 765 Подписное

ВНИИПИ Государственногб комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграФическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4