Способ рентгеновской дефектоскопии изделий

Способ рентгеновской дефектоскопии изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СО1ОЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ф ° ф °

Ф ф Ф

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬГГИЙ (21) 3799085/24-25 (22) 08.10.84 (46) 23.04.86. Бюл. Ф 15 (71) Всесоюзный научно-исследовательский институт по строительству магистральных трубопроводов (72) Н.И. Сарпов, В.Д. Парамонов, Р.P. Хакимьянов, Н.П. Валуев, В.П. Ефанов и В.Г. Лютцау (53) 620.179.152(088.8) (56) Патент Японии У 53-33876, кл. 111 J 31 1978.

Заявка Великобритании Ф 2024559, кл. G 01 N 23/06, 1980.

Выложенная заявка ФРГ У 2555675, кл. G 01 Т 1/29, 1976. (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ИЗДЕЛИЙ (.57) Изобретение позволяет повысить степень выявляемости дефектов изде„„Я0„„1226207 A (51) 4 6 01 И 23/08.лий при рентгенографическом контроле.

Для этого перед просвечиванием измеряют распределение толщины контролируемого изделия в направлении сканирования его рентгеновским пучком и определяют на основании этих измерений закон изменения высокого напряжения на источнике рентгеновского излучения из условия p d const, где d — толщина изделия; p — линейный коэффициент поглощения излучения, зависящий от эффективной энергии излучения. Задают также закон изменения анодного тока источника рентгеновского излучения иэ условия iU=const где U — высокое напряжение; i — анодный ток. При сканировании иэделия пучком рентгеновского излучения наличие дефектов определяют по скачкообразным отклоне- . ниям сигнала детектора.

1226307 изводят неподвижным точечным детек— тором. Законы изменения высокого наФ о р и у л а к з о б р е т е н к я

Составитель Н. Кононов

Редактор Л. Гратклло Техред Н.Бонкало

Корректор А. Зимокасов

Заказ 2118/36 Тираж 778

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб, д. 4/5

Подписное,Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к области рентгеновской дефектоскопик изделий. ,Цель изобретения — повышение степени выявляемости дефектов.

Способ реализуют следующим образом.

Перед яроведением просвечивания измеряют распределение толщины контролируемого изделия вдоль направления сканирования. На основании этих измерений определяют закон изменения высокого (ускоряющего) напряжения на источнике рентгеновского излучения из условия p d=const, где

d — толщина изделия (путь прохождения излучения в бездефектном изделии по направлению на детектор); линейный коэффициент поглощения излучения, зависящий .от эффективной энергии излучения, определяемой высоким напряжением на источнике рентгеновского излучения. Далее задают закон изменения анодного тока источника рентгеновского излучения из условия i U const где U — высокое напряжение; i — анодный ток. Просвечивание изделия производят сканируюшим пучком рентгеновского излучения при соблюдении указанных законов изменения высокого напряжения и анодного тока источника рентгpHQBc кого излучения. В результате этого при беэдефектном изделии сигнал детектора, регистрирующего прошедшее через иэделие излучение, остается практически неизменным. Это обусловлено тем, что интенсивность г первичного излучения Т-Ю, a. эффективность регистрации детектора l/È, т.е. сигнал детектора iU=

const. При наличии дефекта сигнал детектора претерпевает скачкообразное изменение, по которому и судят о наличии дефекта.

Пример . Способ осуществляют с помощью источника рентгеновского излучения с протяженным анодом и средствами развертки электронного пучка по аноду. Детектирование пропряженкя к анодного тока вдоль направления сканирования вводят в заE поминающее устройство, управляющее источником рентгеновского излучения. Например, это запоминающее устройство может служить источником опорного напряжения для цепей регу10 лкрованкя высокого напряжения и анодного тока. Предлагаемый способ обеспечивает однородную чувствительность по всей зоне контроля порядка

0,87 независимо от распределения

15 толщины изделия.

Способ рентгеновской дефектоско20 пки изделий, заключающийся в сканировании исследуемого изделия узким пучком рентгеновского излучения, регистрации прошедшего через изделие излучения детектором, регулировании

25 во время сканирования высокого напряжения и анодного тока источника рентгеновского излучения, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения степени выявляемос30 тк дефектов, предварительно измеря— ют распределение толщкн изделия вдоль линии сканирования, по измеренному распределению задают закон изменения высокого напряжения источника рентгеновского излучения из условия постоянства величины произведения лкнейнсго коэффкцкента поглощения рентгеновского излучения ка длину путк пучка рентгеновского излучения в бездефектном иэделии с указанным распределением толщик для всех точек линки сканирования, задают закон изменения анодного тока источника рентгеновского излучения из условия постоянства произведения величины анодного тока на величину высоко. го напряжения, к о наличии дефектов судят по скачкообразным отклонениям сигнала детектора.