Устройство для измерения динамических характеристик материалов с цилиндрическими магнитными доменами
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Изобретение относится к области магнитных измерений. Является дополнительным изобретением к авт. св. 1091098. Может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД). Цель изобретения - повышение точности измерения - достигается за счет обеспечения возможности в известном устройстве определять влияние зазора между магнитоуправляющими элементами из материалов с ЦМД. Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и материал 1 с ЦМД. Для достижения поставленной цели на материал с ЦМД дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы 6 в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала . 2 ил. «с (Л ОС 1 6 Фиг. КЗ
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИК
ÄÄSUÄÄ 1247801 (51) 4 G 01 R 33/12
ЗСГ ".111-ь" <
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 1091098 (21) 3837542/24-21 (22) 04.01.85 (46) 30.07.86. Бюл. № 28 (72) Е. И. Ильяшенко, В. Г. Элеменкин, А. А. Сидоров и С. Н. Матвеев (53) 621.317.44 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1091098, кл. G 01 R 33/12, 1983. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ
ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК
МАТЕРИАЛОВ С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМИ
МАГНИТНЫМИ ДОМЕНАМИ (57) Изобретение относится к области магнитных измерений. Является дополнительным изобретением к авт. св. 1091098. Может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД). Цель изобретения — повышение точности измерения — достигается за счет обеспечения возможности в известном устройстве определять влияние зазора между магнитоуправляющими элементами из материалов с ЦМД.
Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и материал 7 с ЦМД. Для достижения поставленной цели на материал с ЦМД дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы 6 в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала. 2 ил.
124780!. 0
25 вращающегося
З0
Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД-материалов) .
Целью изобретения является повышение точности измерения за счет обеспечения возможности определения влияния зазора между магнитоуправляющими элементами на динамические характеристики ЦМД-материалов.
На фиг. 1 изображена блок-схема устройства для измерения динамических характеристик ЦМД-; на фиг. 2 — участок UM3,-материалов с нанесенными на него магнитными управляющими элементами.
Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему 3 для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор
4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и ЦМД-материал 7.
Осветитель 1 оптически связан с поляризационным микроскопом 2, в поле зрения которого находится ЦМД-материал 7 с нанесенными или наложенными на него магнитными управляющими элементами 6 в виде наборе сплошных и разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала.
Магнитная система 3 соединена с генератором 4 токов управления и источником 5 постоянного тока.
Магнитные управляющие элементы в виде набора сплошных 8 и разрезных 9 колец из магнитомягкого материала, например пермаллоя, наносят или накладывают на
ЦМД-материал 7.
Под кольцами генерируются ЦМД 10.
Величины диаметра колец, их количество, ширина колец зависят от типа исследуемого
ЦМД-материала и требуемой точности измерений. Ширина зазора в разрезных кольцах выбирается из условий моделирования зазоров в ЦМД-устройствах и составляет обычно 1/4 — 1 диаметра ЦМД.
Устройство работает следующим образом.
С помощью магнитной системы 3 и источника 5 постоянного тока создается магнитное поле смещения величиной, достаточной для генерирования ЦМД на участках ЦМДматериала, под магнитными управляющими элементами. От генератора 4 токов управления в магнитную систему 3 подают два тока одной и той же частоты, сдвинутые по фазе на 90 . Этими токами в магнитной системе создается вращающееся магнитное поле, которое генерирует вращающиеся магнитостатические ловушки (МСЛ) под каждым кольцом магнитных управляющих элементов
6 в ЦМД-материале 7. В сплошных кольцax 8 ЦМД 10 движется равномерно со скоростью, равной скорости МСЛ. В разрезных кольцах 9 движение ЦМД неравномерное за счет изменения скорости в зазоре этих колец. Скорости МСЛ и. следовательно, ЦМД, линейно зависят от диаметров колец. Для колец, в которых скорость ЦМД превышает предельную скорость для данного материала, ЦМД выскакивает из МСЛ и колл а псирует. В зазорах разрезных колец глубина и градиентное поле МСЛ меньше, чем под кольцами, поэтому при постоянной частоте вращающегося поля срыв ЦМД происходит при меньших диаметрах разрезных колец, чем сплошных. Имея набор разрезных колец разного диаметра с различными величинами зазоров, определяют влияние зазора на динамику ЦМД и сравнивают с результатами измерений при движении
ЦМД вдоль сплошных колец. Поляризованный свет от осветителя 1 попадает (через опак-иллюминатор микроскопа 2) на ЦМДматериал 7, отражается от магнитных управляющих элементов 6, снова проходит ЦМДматериал 7 и попадает в поляризационный микроскоп 2, с помощью которого наблюдается ЦМД.
Фиксируя номер кольца с максимальным диаметром, под которым еще наблюдаются ЦМД после приложения вращаюц егося магнитного поля, определяют предель— ную для данного случая скорость по форм) ëe где 0) — круговая частота магнитного поля;
Й„, максимальный радиус кольца, на котором еще наблюдается движение ЦМД.
В качестве осветителя могут быть использованы серийные осветители для микроскопов ОИ вЂ” 21, ОИ вЂ” 19М и др, или осветители, входящие в комплект микроскопов, а в качестве поляризационного микроскопа,— — например, «Полам», NU — 2E, МП вЂ” 6, МБИ вЂ” 6 и др.
Магнитная система для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения может быть составлена из четырех контуров квадратной или прямоугольной формы и катушки, создающей магнитное поле, перпендикулярное плоскости пленки.
Генератором токов управления может быть, например генератор ГЗ вЂ” 39 с усилителями, а источником постоянного тока любой, позволяющий создать необходимое поле смещения, например Б5 — 7, Б5 — 9 и др.
Формула изобретения
Устройство для измерения динамических характеристик материалов с цилиндрическими магнитными доменами по авт. св. № 1091098, отличающееся тем, что, с целью повын ения точности измерения, на материал с цилиндрическими магнитными доменами дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала
1247801 юг 2
Составитель А. Дивеев
Редактор Н.Швыдкая Техред И. Верес Корректор О. Луговая
Заказ 4120/45 Тираж 728 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4