Способ контроля профиля криволинейных поверхностей

Способ контроля профиля криволинейных поверхностей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и можеч использоваться для измерения и контроля деталей сложной формы. Целью изобретения является расширение диапазона контроля путем устранения влияния аберраций. Излучение от источника фокусируют двумя объективами на поверхностных зеркал, пропуская его через светофильтры и через диафрагьел, тем самьп производя последовательное формирование в каждой точке контролируемой поверхности изображения световой марки с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинами волн. Отраженные от контролируемой поверхности лучи с помощью плоского зеркала направляют через светофильтры на фотоэлементы, производя при этом сканирование изображения марки, образующейся на контролируемой поверхности. Находят координаты каждой контролируемой точки и определяют профиль поверхности. Возможно также формирование марки с помощью монохроматического излучения с длинами волн, образующих при смешении цвет, длина волны которого равна полусумме длины волн или с помощью излучения света, дополнительного по отношению к белому цвету, например желтого и синего. 2 з. п. ф-лы, 1 ил. i (Л С

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 G 01 В 11/24

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Ii:.1, Н А ВТОРСНОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3746268/24-28 (22) 04.06.84 (46) 30.08.86, Бюл. У 32 (72) Е.С. Шаньгин (53) 531.717.82(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 227602, кл. G 01 В 11/24, 1968.

{54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОФИЛЯ КРИВОЛИНЕЙНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения и контроля деталей сложной формы. Целью изобретения является расширение диапазона контроля путем устранения влияния аберраций. Излучение от источника фокусируют двумя объективами на поверхностных зеркал, пропуская его через светофильтры и через диафрагьы, тем самым производя последовательное формирование в каждой точке

„„Я0„„2 4292 А1 контролируемой поверхности изображения световой марки с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинами волн. Отраженные от контролируемой поверхности лучи с помощью плоского зеркала направляют через светофильтры на фотоэлементы, производя прн этом сканирование изображения марки, образующейся на контролируемой поверхности. Находят координаты каждой контролируемой точки и определяют профиль поверхности. Возможно также формирование марки с помощью монохроматического излучения с длинами волн, образующих при смешении цвет, длина волны которого равна полусумме длины волн или с помощью излучения света, дополнительного по отношению к белому цвету, напри мер желтого и синего. 2 з. и. ф-лы, 1 ил.

54292 2 рование изображения марки, образующейся на контролируемой поверхности

16. Находят координаты каждой контролируемой точки и определяют про5 филь поверхности.

Возможно также формирование марки с помощью монохроматического излучения с длинами волн, образующих при смещении цвет, длина волны которого равна полусумме длин волн, или с помощью излучения дополнительного по отношению к белому цвету, например желтого и синего, 12

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения и контроля деталей сложной формы.

Целью изобретения является расширение диапазона контроля путем устранения влияния аберраций.

На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ контроля профиля криволинейных поверхностей, Устройство содержит источник 1 излучения, два объектива 2 и 3, два светофильтра 4 и 5 с отличными одна от другой длинами волн, две диафрагмы 6 и 7, два плоских зеркала 8 и 9, установленных с возможностью поворота вокруг их центров и перемешивания вдоль оптической оси устройства, плоское зеркало 10, установленное с воэможностью вращения вокруг его центра, фоторегистрирующий блок 11, выполненный в виде двух фотоэлементов 12 и 13 и двух светофильтров 14 и 15, уставновленных перед фотоэлементами

12 и 13 с отличными одна от другой длинами волн, и контролируемая поверхность 16, Способ контроля профиля осуществляется следующим образом.

Излучение от источника 1 фокусируют двумя объективами 2 и 3 на поверхностях зеркал 8 и 9, пропуская его через светофильтры 4 и 5 и через диафрагмы 6 и 7, тем самым производя последовательное формирование в каждой точке контролируемой поверхности 16 изображение световой марки с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинами волн, Отраженные от контролируемой поверхности 16 лучи с помощью плоского зеркала 10 направляют через светофильтры 14 и 15 на фотоэлементы

12 и 13, производя при этом сканиФормула изобретения

1. Способ контроля профиля криволинейных поверхностей, заключающийся в том, что последовательно формируют в каждой точке контролируемой поверхности изображение световой марки, регистрируют лучи, отраженные от каждой точки контролируемой поверхности, и определяют профиль поверхности, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона контроля, световую марку формируют с помощью световых лучей с отличными одна от другой длинами волн, сканируют изображение марки, находят координаты каждой контролируемой точки и определяют профиль поверхности.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а ю35 шийся тем, что формируют световую марку .с помощью монохроматического излучения с длинами волн, образующих при смешении цвет, длина волны которого равна полусумме длин волн.

4о 3. Спссоб по п. 2, о т л и ч а юшийся тем, что формируют световую марку с помощью монохроматического излучения, являющегося дополнитель" ным по отношению к белому цвету, на45 пример желтого и синего.!

254292

Составитель Н, Захаренко

Техред А.Кравчук Корректор Е. Сирохман

Редактор А. Долинич

Заказ 4709/43 Тираж 6?О

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4