Способ контроля технологического процесса

Способ контроля технологического процесса

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к технологии механической обработки. Цель изобретения - повышение качества поверхности, точности контроля, производительности обработки. Параметры волновых процессов измеряют одновременно с обработанной ювениль-- ной поверхности и необработанной поверхности. В качестве параметра волновых процессов выбирают электромагнитное излучение. По разнице полученных сигналов определяют режимы обработки. Это позволяет оценить шероховатость поверхности детали. 2 ил. о 9 f С Сл Сл СА: сх ч

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (дц у В 23 15/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ,, "

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21 ) 387 635 7/25-08 (22) 03. 04. 85 (46) 07. 09. 86. Бюл. У 33 (71) Научно-исследовательский институт проблем машиностроения при

МВТУ им. Н.Э. Баумана (72) В.С. Камалов, А.А. Барзов, А.А. Вдовин и О.В. Зарубина (53) 621.91(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 971620, кл. В 23 Q 15/00, 1981. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА

„„SU, 1255 87 А1 (57) Изобретение относится к технологии механической обработки. Цель изобретения — повышение качества поверхности, точности контроля, производительности обработки. Параметры волновых процессов измеряют одновременно с обработанной ювениль.ной поверхности и необработанной поверхности. В качестве параметра волновых процессов выбирают электромагнитное излучение. По разнице полученных сигналов определяют режимы обработки. Это позволяет оценить шероховатость поверхности детали.

2 ил. рости распространения ВН (5000 м/с), а экзоэлектронная эмиссия имеет место только на обработанной поверхности по своей физической сути.

Электромагнитное излучение от ВН несет информацию в основном о характере разрушения в зоне контакта интрумента с деталью, а электромагнитное излучение от экзоэлектронной эмиссии свидетельствует о состоянии поверхностных слоев обработанной поверхности — твердости, наклспа, шероховатости. Поэтому, проводя одновременно измерения электромагнитного излучения с двух поверхностей, можно повысить точность контроля технологического процесса, повысить качество обрабатываемой поверхности и производительность обработки за счет возможности повышения режимов обработки.

Пример. Датчики 1 и 2 электромагнитного излучения устанавливают на одинаковом расстоянии от оси инструмента 3 и на одинаковом расстоянии от поверхностей детали 4.

Датчики выполнены в виде антенн электромагнитного излучения и могут иметь различное конструктивное оформление. При испытаниях применяют характерные индуктивные антенны. Для исключения влияния стружки корпуса датчиков запрпцают бронировкой. После предварительного усиления сигнал поступает в блок фильтров, где выбирается наиболее информативный частотный диапазон 60-1200 кГц. После обработки сигнала в амплитудном дискриминаторе, широкополосном усилителе, пиковом детекторе и интенсиметре сигнал запибывается на ленте самописца. В качестве информативных параметров записывается амплитуда и интенсивность электромагнитного излучения. При наличии устройства сравнения на ленте самописца можно, непосредственно получать искомую величину разницы сигналов от датчика1и2.

На графике приведены зависимости амплитуды (А) и интенсивности (Nl сигналов электромагнитного излучения от датчика 1 (кривая a} и от датчика 2 (кривая б ), а также измеренные значения шероховатости поверхностиR„ (кривая 6) от времени обработки .

Для материала ХН77ТЮ, обрабатываемого с режимами, скорость резания

1 255387

Изобретение относится к технологии механической обработки и может найти применение при изготовлении деталей, к качеству поверхности которых и точности изготовления 5 предъявляются повышенные требования.

Цель изобретения — повышение качества поверхности, точности контроля и производительности обработки за счет контроля параметров электромагнитного излучения с обработанной ювенильной поверхности и с необработанной поверхности и разницы между ними и управления режимами обработки по результатам контроля ° 15

На фиг. 1 изображена схема реализации способа", на фиг. 2 — график изменения сигналов электромагнитного излучения амплитуды (A) и интенсивности iN) от времени обработ-. 20 ки A).

Устройство для реализации способа содержит датчик 1, измеряющий электромагнитное излучение с необработанной поверхности, датчик 2, измеряющий электромагнитное излучение с обработанной ювенильной поверхности, инструмент 3, деталЬ 4.

Обозначены также направление 1 вращения детали и инструмента, записьо ЗО с датчика 1, запись 4 с датчика 2, кривая h — - изменение шероховатости поверхности, и — разница сигналов . с датчиков 1 и 2.

Сущность способа заключается в следующем.

При механической обработке материалов резанием, например, фрезерованием, точением, алмазным выглаживанием образуется новая ювенильная 40 поверхность, качество которой в существенной мере зависит от режимов обработки — скорости, подачи инструмента, усилия прижатия интентора, глубины резания. 45

Одним из информативных факторов, объективно отражающих состояние поверхности, является электромагнитное излучение, генерируемое в результате воздействия инструмента на материал. Основной вклад в уровень электромагнитного излучения вносят волны механических напряжений (ВН) и экзоэлектронная эмиссия (ЭЭ).

Причем, ВН способствуют одинаковому электромагнитному излучению как с обработанной„ так и с необработанной поверхности ввиду большой ско4

55387

4b Ь Мц Ф Тюре г, r, r, Составитель В.Алексеенко

Редактор Н.Данкулич Техред И.Попович Корректор М,Максимишинец

Заказ 4 760/ 1 6

Тирах 826 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, у . р л. П оектная 4

3 !2 = 0,72 м/с, поцача S = 0,07 мм/об. глубина резания < = 0,25 мм/об.

Резец ВК8.

Из графиков следует, что при возрастании сигналов электромагнитного излучения от обоих датчиков шероховатость поверхности не изменяется

1 а, = о, = "„, тогда как при увеличении разницы между измеренными сигналами (а1 = а2 = й3) 4 4<4 5 ?????????????????????????? ???????????????? ??????????. ??????????????????????????, ???? ?????????????? ?? ???? ?????????????? ???????????????? ????????????, ?? ?????????? (??????????> -з ) необходимо выбирать другие режимы или прекращать процесс обработки.

При необходимости назначать новые режимы на новые материалы необходимо построить кривые зависимости

Я, N на нескольких произвольных режимах, определить разницу между показаниями датчиков 1 и 2 на каждом режиме и выбрать для обработки деталей режим, при котором разница. начинает увеличиваться через наибольшее время с начала технологического процесса механической обработки. формула изобретения

Спссоб контроля технологического процесса механической обработки, заключающийся в том, что измеряют параметры волновых процессов, возни>О, кающих в зоне резания, и режимы выбирают из условия соответствия зна" чений параметров волновых процессов заданным, отличающийся тем,что, с целью повышения качест15 ва поверхности, точности контроля и производительности, одновременно измеряют параметры электромагнитного излучения с обработанной и с необра.ботанной поверхности, определяют

20 разность между ними, а режимы обработки выбирают из условия соответствия заданным значениям полученной разности.