Устройство для измерения отражательной способности

Устройство для измерения отражательной способности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„.80„„1260776 А 1 (59 4 С 01 Б 21/55

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3846337/24-2В (22) 21.01.85 (46) 30.06.86. Вюл. ¹ 36 (71) Институт тепло- и массообмена им. А.В. Лыкова (72) Л.С.Слободкин и M.ß.Ôëÿêñ (53) 535.242(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 446771, кл. G 01 J 5/00, 1974.

Слободкин Л.С. и др. Метод и установка для определения монохро- матической нормально-полусферической отражательной способности;Инженернофизический журнал, XLII, № 3, 1932, с 442-448. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ (57) Изобретение относится к области определения терморадиационных характеристик материалов, в частности для измерения нормально-полусферической отражательной способности материалов.

Устройство содержит приемно-регистрирующую систему 9 и интегрирующую сферу 1, причем держатель 5 с образцом 4 или кассеты 2 с источниками излучения 3, размещенные в объеме сферы 1, выполнены с возможностью вращения. Цель изобретения — повышение точности измерений. При вращении держателя 5 с образцом 4 или кассеты

2 относительно сферы 1 в плоскости, параллельной поверхности образца 4 с периодом, в 10-20 раз меньшим постоянной времени приемно-регистрирующей системы 9, обеспечивается равномерное в среднем за период полусферическое освещение образца 4 и регистрация аналогичным образом усредненных яркостей образца и фона, что позволяет увеличить точность определения отражательной способности анизотропных материалов. 1 ил.

12

Изобретение относится к определе- нию терморадиационных характеристик материалов, в частности измерений спектральной нормально-полусферической отражательной способности,и может быть использовано для исследования композиционных и других анизотропных материалов преимущественно при высоких температурах в видимой и инфракрасной областях спектра, а также в области умеренных и низких температур в средней ИК-области.

Цель изобретения — повышение точности измерения нормально-полусферической отражательной способности материалов за счет обеспечения равномерного по направлениям полу,сферического освещения образца.

1 о

На фиг. 1.представлена схема предлагаемого устройства на фиг. 2 разрез А-A на фиг. 1.

В объеме интегрирующей сферы 1 размещена кассета 2 с протяженными источниками излучения 3 (возможна установка и большого числа источников). Образец исследуемого материала

4 монтируется в держателе 5 и устанавливается в центре сферы. Кассета.

2 выполнена в виде кольца, составляющего часть поверхности сферы, внутренняя поверхность его покрыта диффузно-отражающим покрытием. Шток б служит для передачи вращения от электродвигателя (не показан) к кассете или держателю. При нагреве (при охлаждении) образца кондуктивным путем со стороны обратной визируемой конструктивно предпочтительнее вращать кассету с излучателями.

В этом случае держатель монтируется на стойке 7, в теле которой размещается нагреватель или движется охладитель. В случае лазерного нагрева (через окно 8) или измерениях при комнатной температуре удобней схема с вращаюшимся образцом и неподвижной кассетой. Для этого шток и кассета разъединяются, стока 7 убирается и держатель крепится к штоку. Возможны также более простые варианты устройства, в которых один из элементов: кассета или держатель с образцом выполнен неподвижным. Наряду с трубчатыми лампами типа ДРТ-400, КИ-220, -1000 и др. в качестве источников могут использоваться спирали, ТЭНы, U-образные и другие излччатели с. равномерно распределенной по длине. ярб077б 2 костью. При этом они могут устанавливаться в кассете взаимно-параллель ными или радиальным образом (по радиусам кассеты). Измерение лучистих потоков производится приемно-регистрирующей системой 9 через окно 10.

Период вращения кассеты устанавливается на порядок (в 10-20 раз) меньшим постоянной времени приемно-ре"

10 гистрирующей системы. В этом случае регистрируются усредненные по периоду яркости объекта. Эталонное диффуэно" отражающее покрытие 11 нанесено на держатель 5.

Устройство работает следующим образом.

Для определения нормально-цолусферической отражательной способности рЯ измеряют спектральную интени

2б сивность собственного излучения образца (при выключенных источниках)

ТЯ интенсивность суммарного собио ственного и отраженного образцом излучения Тй„и спектральную яркость

25 фона I Я„» которую определяют по яркости эталонного диффузно-отражающего,покрытия 11,нанесенного на держатель.Величину р A„âû÷éñëÿþò по соотношению тя.,» — тя () и <р

При этом, усреднение по периоду относится к составляющей, обусловленной отраженным излучением (интенсивность собственного излучения

З .образца при вращении естественно не изменяется), т.е. величине 1Я „ и ,разнице I3„ — 1у„

Ф о р м у л а . и з о б р е т е н и я

Уст р ой ст в о для из мер ения отражательной способности материалов, содержащее интегрирующую сферу, внутри которой расположены протяженные источЖкл излучения и держатель образца, а также приемно-регистрирующую систему, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения отражательной способности материалов со смешанным характером отражения, держатель образца или протяженные источники излучения выполнены с возможностью вращения относительно оси, проходящей через центр сферы и выходное отверстие, причем период вращения в 10-20 раз меньше постоянной времени приемнорегистрирующей системы.

1260776

IPl18, 2

Составитель И. Никулин

Редактор И. Сегляник Техред М.Ходаннч Корректор Л. Пилипенко

Заказ 5220/41, Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делах изобретений и открытий

113035, Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие,г.ужгород,ул.Проектная, 4