Устройство для отвода зарядов статического электричества с объектов

Устройство для отвода зарядов статического электричества с объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к технике борьбы с вредными проявлениями статического , электричества. Цель изобретения - повьшение надежности отвода зарядов с плат полупроводниковых приборов. Устройство содержит монтажi ную плату 1 с техническим рисунком 2и микросхемы 4 с контактным} штырями 5. Наличие алюминиевой 3 позволяет при прокалывании штырей 5 очищать последние от загрязнений, а при толщине фольги 3 0,01-0,05 мм надежно соединяться с кромками. Поскольку фольга 3 заземлена, обеспечивается надежное заземление штырей 5, а следовательно, и надежный отвод зарядов с микросхем. После выполнения технологических операций фольга 3удаляется. 1 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИ)(СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (!9) (И) а)) 4. Н 05 F 3/02 .

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ASTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21 ) 3887342/24-21 (22) 22.04.85 (46) 23.10.86. Бвл. 9 39 (72) Г.П.Резниченко и А.Г;Кот (53) 621.319.74(088 ° 8) (56) Патент США М 4223368, кл. H 05 F 3/02, опублик. 1978.

Авторское свидетельство СССР

Ф 1228309, кл. Н 05 Р 3/02, 1984. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТВОДА ЗАРЯДОВ

СТАТИЧЕСКОГО ЭЛЕКТРИЧЕСТВА С ОБЪЕКТОВ (57) Изобретение отнойтся к технике борьбы с вредными проявлениями статического.электричества. Цель изобретения — повышение надежности отвода зарядов с плат полупроводниковых приборов. Устройство содержит монтаж.ну)0 плату 1 с техническим рисунком

2 и микросхемы 4 с контактными штырями 5. Наличие алюминиевой фольги 3 позволяет при прокапывании штырей 5 очищать последние от загрязнений, а при толщине фольги 3 0,01-0,05 мм надежно соединяться с кромками. Поскольку фольга 3 заземлена, обеспечивается надежное заземление штырей 5, а следовательно, и надежный отвод зарядов с микросхем. После выполнения технологических операций фольга

3 удаляется. 1 ил.

66017 з вления каких-либо технологических операций.

Формула изобретения

Составитель В. Ким

Техред И. Верес

Редактор А.Сабо

Корректор В.сутяга

Тираж 765

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Я-35, Раушская наб.„- д. 4/5

Заказ. 5685/59

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Ф 12

Изобретение относится к технике борьбы с вредными проявлениями статического электричества и может быть использовано при разработке устройств: для отвода электростатических зарядов с помощью заземляющих соединений для радиоэлектронной промьппленнасти.

Цель изобретения - повышение надежности отвода зарядов с плат полупроводниковых приборов.

На чертеже показана конструктивная схема устройства.

Устройство состоит из монтажной платы 1 с техническим рисунком 2, алюминиевой фольги 3 и микросхемы 4 с контактными штырями 5 {механизм для соединения штырей с кромкой не показан). От верстия в монтажной плате 1 соответствуют расположению штырей микросхемы 4. Фольга 3 заземлена.

Устройство работает следующим образом.

На монтажной плате 1 устанавливается свежая {не использовавшаяся ранее) фольга и заземляется. Затем с помощью механизма для соединения штырей с фольгой осуществляется прокапывание фольги штырями s местах,,где расположены отверстия в монтаж, ной плате, и микросхема устанавливается на ней дпя хранения или осущестВ процессе прокалывания штыри очи5 щаются от загрязнений, и при толщине фольги 0,01-0,05 мм надежно соединяются с кромкой. Поскольку фольга заземлена, обеспечивается и надежное заземление штырей, а следовательно, и надежный отвод зарядов с микросхем.

После выполнения технологических операций {например, пайки) фольга удаляется вытягиванием с полным ее разрывом.

Устройство для отвода зарядов статического электричества с объектов, снабженных контактами в виде штырей, содержащее присоединенный к контуру заземления контактный электрод, вы- полненный в виде прокладки из прово" дящего материала, н механизм соединения штырей и прокладки путем прокалывания последней штырями, о т— л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежности отвода зарядов с микросхем полупроводникоЗО вых приборов, прокладка выполнена из металлической фолы и.