Прибор для исследования оптических систем и градиентов оптической неоднородности оптически прозрачных сред

Прибор для исследования оптических систем и градиентов оптической неоднородности оптически прозрачных сред

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 4211, 3501

Х !2@;(;

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ! . !-! !!".!),т

1 !

1 1.

;АПК " 1!

I " ема. с!."»

M. А. Уханов МЯИЮЛ . !

ПРИБОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ И

ГРАДИЕНТОВ ОПТИЧЕСКОЙ НЕОДНОРОДНОСТИ ОПТИЧЕСКИ

ПРОЗРАЧНЫХ СРЕД

Заявлено 14 мая 1959 г. за М 627877/26 в Комитет по делам изобретений и открытий нри Совете Чинпстров СССР

Опубликовано в «Б|оллетсне изобретений» М 5 за !960 г.

Известен способ измерения аберраций, для осуществления которого применяются фазовые экраны, служащие для увеличения контрастности и повышения яркости дифракционной картины. Известно также применение поляризационной призмы Волластона для исследования оптических деталей. В описываемом приборе известные оптические элементы применены в сочетании с новой оптической схемой, что позволило получить универсальный прибор для исследования оптических систем и градиентов оптической неоднородности оптически прозрачных сред.

Принципиальная оптическая схема прибора изображена на чертеже.

Проектирующая часть прибора состоит из осветителя 1, конденсатора 2, поляризатора 3, трехгранной призмы 4, поляризацпонной призмы о и компенсатора 6. Наблюдательная часть прибора содержит фазовый экран 7, объектив 8, оборачивающий объектив 9, сетку 10, окуляр 11 и анализатор 12. Для исследования, например, зеркала 18 .Чанжена, оно изображается через компенсатор 6, объектив 8 и оборачивающий объектив

9 в фокальной плоскости окуляра 11. Вблизи точки схождения лучей после компенсатора расположена диафрагма со щелью или отверстием. Измерение аберраций выполйяется в два этапа. Сначала известным теневым способом измерений аберраций измеряют плавно изменяющиеся аберрации. Скачкообразно изменяющиеся аберрации (ступени, канавки) измеряются с помощью интерференции поперечно смещенных полей, полученных с помощью призмы 5 Волластона и поляризационных фильтров.

Интерферснция смещенных полей позволяет измерить микрометром смещение интерференционных полос на границе ступени нли канавки.

Для проведения различных исследований фазовые экраны, оптиче=кие комйенсаторы и поляризационные призмы выполнены сменными.

Описанное устройство может применяться в качестве универсаль1ього контрольного прибора для исследования оптических систем и неоднородности оптически прозрачных сред.

Предмет изобретения

Прибор для исследования оптических систем и градиентов оптнчской неоднородности оптически прозрачных сред, состоящий нз осветителя, просктируюшей оптической системы 11 наблюдательной оптической системы, отличающийся тем, что, с целью выполнения таких р0çличных по своей физической сущности исследований, как измерение плавIo изменяющихся аберраций и измерение скачкообразных волновых аберраций, в нем применены сменные фазовые экраны, сменные оптические компенсаторы и поляризационные призмы в качестве компонентов одной оптической системы.

У ю гггД

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор Н. С. Кутафина Гр. »0

Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 п. л. Зак. 1758

Подп. к печ. 24.11-60 г.

Тираж 650 Цена 25 коп.

Типография Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14.