Способ перенесения материала пробы на подставной электрод

Способ перенесения материала пробы на подставной электрод

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 421 46о-, _#_î 127(?61

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

)7одпнсни» группа М 172

Н. Г, Исаев

СПОСОБ ОТБОРА (ПЕРЕНЕСЕНИЯ) MATEPHAJIA

ОБРАЗЦА НА ПОДСТАВНОЙ ЭЛЕКТРОД

Заявлено 15 июля 1959 г. за № 534392/22 в Комитет ио делагм изобретений

II открытий ири С .оиете Мои кто и О:СР

Овубликова о в «1 ккзлете|и иао&» т«ний>:,3! П ва !!16П ы

Изобретение относится к области спектрального анализа сплавов, Применяемые способы локального спектрального анализа с линейно-рассредоточенной искрой не обладают достаточной концентрациочной чувствительностью одновременно по всей, обычно весьма широкой, области изменения концентрации и не устраняют влияния третьих элементов, сильно искажающих количественные определения прп исследовании неоднородных образцов, Описываемый способ отбора (пе1ренесения) материала образца нз подставной электрод электроконтактным методом устраняет влияние третьих элементов и повышает и стабилизирует концентрационную чувствительность метода локального спектрального анализа с линейнорассредоточенной искрой.

Достигается это посредством предварительного линейно-рассредоточенного отбора небольшого количества материала образца на новый подставной электрод из подходящего чистого металла, достаточно равномерного по всей длине ребра отбирающего электрода и достаточн:, точно переносящего картину распределения элементов в образце.

Для этого образец предварительно полируют или шлифу1от с целью создания у него плоской и гладкой поверхности, с которой и отбирают пробу путем контактирования под напряжением с подставным электродом, выполненным в виде прямолинейного лезвия или призмы с прямолинейным ребром. При этом соприкосновение образца с электродом должно производиться именно прямолинейной острой его частью и од новременно всеми точками лезвия или ребра призмы. При повторных контактированиях соприкосновение образца и электрода должно происходить строго теми же точками, что и при первом соприкосновении.

Для обеспечения локальности действия электрического разряда пр i контактировании образца с подставным электродом должны быть праЛ I 27()6j

ВИЛЬНО БЫ О(? с! НЫ Нсl !! рясКЕНИ(1< t ÌËÎCTJi КОНДЕНСd7 Dj> <, И(!1(>i! ЬЗ (M<>l (Отбипа!<?шем <стро!!ств(. <11? н <(м на Яжени(и (÷êO(Tü до, l)KHf быт» ф- ., -.- у< .с.

: >TH0CHT(,.IbHD НЕВ(JHKJJ. ((а, ЧВРТЧ)КГ. И(!КаааНс< СКЕМа ВКЛЮЧЕНИЯ КОНДЕНСатОРа

1> схем 1 H, (<?g!

И < :МKocThlt> ()T <? до 20 >!кс/>, источник тока Г напряжением 20-:>О с<.

КЛ !ОЧ ЦЕПИ Зс< РЯДКИ 1(< I I КОМ МУTH P <(fDUJHI1 КЛ !ОЧ К> lE. Jß ИЗМ(Н(?НИ Я 110 ,1Я(?ности j?33pBда. (>брс!зец с011риl(асаетсЯ с элект(?Одом 110 линии c< — — >.

Выоранной Для исследования. Отоор производится с !юмощью Вибратора, обеспечивающего:<ри повторны," контакта.(соприкосновение 0<>(? с! 3 Ц сl И Э Л Е КТ Р ОД с< В С Е ГД с l C T P 01 0 ОД Н И М И и ТЕМ И ЖЕ ТС) Ч К а М И, (свпаяя<о!!!!1 с l!EHlðHâ,íнием рябо !(17> цвиEKcH1»l электрода.

В K)1 ×ÑÑÒ«. -... !(!(ТРОДс<. Б:5)113HCJ>М<>Г! И <)Т . (а(? а КТЕРсl а НаЛ HÇ

ООJ) c<ЗЦс<, 110! ><"J

После !1еренОса ня элекГрод л<>кя <ьно !1(>добны?< IlpDÎ-нс<1<лаВ(?к с .Г > устанавливают в лапке-держателс лс>кально-спектральной установки

llP0TliH ДРУгс?г» элект(?Ода, BhffEDJJH(. iff o В виде Jl,!loci(OJ» шлифа и;1 тог« .ке чистого элемента, из которого сделан подставной электрод для DT()D ря пробы. Между обоими электродамп создают высокочастотнук> 7и нейно-рассредоточенн K) искру, сг!ектр кото(?ой фотографирует. Режим разряда и время экспозиции при фотографировании должны обеспс. и В а т ь < > О Я:1 с< т е7 h H (>е В 0.7 н О е (ж и Г Я ч H (<? T(? J? j? EJ н н 0 Й и Р Об ы (Ij?< :lb!< 7 изо<> ?(с!!!!Я (.Носоо отб<>р; jперенесения) мате(>!!с!ла с>бразца нсl ucfавной

->Л(КТ1?ОД ЭЛЕКТР(? КОН ТсlКТНЫ М МС1ТОДОМ, (> Т Л Jl Ч а 10 Щ И и С Я Т(.М, ЧТО, целью устранения влияния гретьи>(элементов и повышения и стябили зации концентрационной чувствительности метода локальногс> 11(,кгрального ана.;<иза с линейно-рассредоточенной искрой, Отос>р !!(?Об>,!

<>су<цествляк>т с плоской полированной или шлифованной поверки<>сти образца электродом, выполненным В виде прямолинейного лезвия H!1

; образцом производят одновременно всеми точками лезвия или ребр:< призмы, обеспечивая при повторнык контактированияк соприкосновенп( электрода и Обр <зпа строго теми >K(точками. НТо и при первом гоприК<?СНОВЕНИИ.