Интерференционно-поляризационный рефрактометр (его варианты)

Интерференционно-поляризационный рефрактометр (его варианты)

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

. Интерференционно-поляризационньй рефрактометр, содержащий ис-. точник поляризованного излучения и последовательно расположенные по ходу излучения кристаллическую пластину для расщепления светового пучка, измерительную кювету, полуволновую пластину, устройство дпя совмещения световых пучков и узел измерения разности хода, отличающийс я тем, что, с целью повышения стабильности измерений, между измерительной кюветой и долуволновой пластиной установлен отражатель с плоской отражающей поверхностью, перпендикулярной плоскости главного сечения кристаллической пластины, между о S прлуволновой пластиной и устройством (П для совмещения световых пучков установлен второй отражатель с плоской с отражающей поверхностью, перпендикулярной плоскости главного сечения кристаллической пластины и отражающей поверхности первого отражателя, ю отражатели жестко соединены между Nj собой, а устройством для совмещения световых пучков служит кристаллическая пластина дпя расщепления светосл ,вого пучка. м

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (192 (112 (Ю 4 (01 N 21 45

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСНОМ У СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (2l) 3704207/24-25 (22) 21.02.,84 (46) 15.11.86. Бюл. У 42 (71) Институт аналитического приборостроения Научно-технического объединения АН СССР (72) М.Л.Александров, А.П.Власов, Н.Н.Комаров, В.В.Шевкунов, В.А.Готлиб, Б.И.Молочников и В.В.Судьин (53) 535.24(088.8) (56) Замков В.А., Радкевич В.А. Поляризационный интерферометр для измерения внутренней аниэотропии. Оптика и спектроскопия. т. 31, вып. 5, 1971, с. 8!1-816.

Васильева И.С., Лейкин М.В. и др.

Возможные пути повьппения чувствительности жидкостных рефрактометрических анализаторов. сб. Аналитическое приборостроение. Методы и приборы для анализа жидких сред, т. 1, ч. I с. 87-92, Тбилиси, 1975. (54) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННО-ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ РЕФРАКТОМЕТР (ЕГО ВАРИАНТЫ) (57) !. Интерференционно-поляризационный рефрактометр, содержащий ис-. точник поляризованного излучения и последовательно расположенные по ходу излучения кристаллическую пластину для расщепления светового пучка, измерительную кювету, полуволновую пластину, устройство для совмещения световых пучков и узел измерения разности хода, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повьппения стабильности измерений, между измерительной кюветой и полуволновой пластиной установлен отражатель с плоской отражающей поверхностью, перпендикулярной плоскости главного сечения кристаллической пластины, между полуволновой пластиной и устройством 2 для совмещения световых пучков установлен второй отражатель с плоской .отражающей поверхностью, перпендикулярной плоскости главного сечения кристаллической пластины и отражаю- Я щей поверхности первого отражателя, отражатели жестко соединены между собой, а устройством для совмещения световых пучков служит кристаллическая пластина для расщепления свето,вого пучка.

-главное сечение которого параллельно или перпендикулярно главному сечению кристаллической пластины, между полуволновой пластиной и устройством для совмещения световых пучков установлен второй уголковый отражатель, главное сечение которого параллельно главному сечению первого отражателя, уголковые отражатели жестко соединены между собой, а устройством для совмещения световых пучков служит кристаллическая пластина для расщепления светового пучка.

1270657

2. Интерференционно-поляриэационный рефрактометр, содержащий источник поляризованного излучения и последовательно устанавленные по ходу ,луча кристаллическую пластину для расщепления светового пучка, измерительную кювету, полуволновую пластину, устройство .для совмещения световых пучков и узел измерения разности хода, о т.n и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения стабильности измерений, между. кристаллической пластиной и измерительной кюветой установлен уголковый отражатель, Ф

Изобретение относится к интерференционной рефрактометрии и может быть использовано для количественного и качественного анализа различных сред оптическим методом по разности показателей преломления.

Цель изобретения — повышение ста1 бильности измерений.

1б

Благодаря тому, что в предлагае» мых вариантах интерференционно-поляризационного рефрактометра для расщепления и совмещения световых пучков используется одна и та же крис. таллическая пластина, влияние температурньас возмущений, которое в известном рефрактометре связано с неидентичностью температурных условий и условий фиксации двух кристаллических пластин, полностью исключается.

Снижение влияния механических возмущений обеспечивается тем, что в первом варианте рефрактометра развороты кристаллической пластины в плоскости главного сечения, которые s известном рефрактометре приводят к наибольшим изменениям разности хода, не приводят к изменению суммарной разности хода, так как при таких раз" воротах положение кристаллической пластины относительно расщепляемых и совмещаеьых световых пучков изменяет- Ю

1 ся одинаково, а следовательно, соответствующие изменения разности хода равны по абсолютной величине и противоположны по знаку. Во втором варианте рефрактометра суммарная разность хода остается постоянной при любых изменениях взаимного положения кристаллической пластины и системы отражателей в целом. Неизменность взаимного положения отражателей как в первом, так и во втором вариантах обеспечивается тем, что они жестко соединены между собой. г

Существенно также, что снижение чувствительности к изменению положения кристаллической пластины позволяет снизить требования K жесткости

Фиксации пластины, что, в свою оче» редь, обеспечивает снижение термоупругих напряжений, которые могут оказаться различными в пределах светового сечения одной и той же кристаллической пластины.

Воэможность появления дополнительного фактора нестабильности, связанного с изменением амплитуды н фазы световых волн при отражениях, в предлагаемых вариантах рефрактометра исключена тем, что полуволновая пластина установлена между отра жателями. При таком положении полуволновой пластины изменения амплитуМ и фазы в первом отражателе компен з !270657 4 сируются изменениями амплитуды и фа- волновую пластину 4 зы во втором отражателе. ет азимут поляризац

Совокупность указанных качеств в ков на 90, отражаю каждом из вариантов интерференцион- совмещаются в один но-поляризационного рефрактометра 5 тической пластиной обеспечивает существенное повыше- совмещения пучков с ние стабильности показаний. В то же поляризациями образ время во втором варианте достигает- эллиптической поляр ся более высокая стабильность пока- ненты эллиптически заний. t0 света обладают рази

На фиг.1 приведена принципиальная порциональной иссле схема интерференционно-поляризацион- показателей преломл ного рефрактометра, выполненного сог- сред. Измерение раз ласно первому варианту; на фиг.2— водится с помощью у принципиальная схема интерференцион- 15 разности хода. но-поляризационного рефрактометра, Интерференционно выполненного согласно второму вариан- рефрактометр, выпол ту. второму варианту (ф

Интерференционно-поляризационный 20 рефрактометр (фиг.1) состоит из источника 1 поляризованного излучения, кристаллической пластины 2 (например, из кальцита), зеркала 3, отражающая поверхность которого перпендикуляр- 25 на главному сечению кристаллической пластины 2, полуволновой пластины 4, второго зеркала 5, отражающая поверхность которого перпендикулярна главному сечению кристаллической ..пласти-щ ны 2 и отражающей поверхности зеркала 3, узла 6 измерения разности хода, а также измерительной дифференциальной кюветы 7, которая в данном случае становлена между кристаллической пластиной 2 и зеркалом 3, но в других случаях может быть установлена между зеркалами 3 и 5, либо между зеркалом 5 и пластиной 2. Зеркала 3 и 5 жестко соединены между собой. 1б

Интерференционно-поляризационный рефрактометр работает следующим образом.

Пучок света от источника 1 излучения расщепляется кристаллической 45 пластиной 2 на два световых пучка, линейно поляризованных в ортогональных плоскостях, один из которых проходит через измерительную ячейку кюветы 7, а другой — через сравнитель- 5р ную ячейку той же кюветы. Оба пучка отражаются зеркалом 3, проходят полукоторая изменяии каждого из пучтся зеркалом 5 и пучок кристалли2. В результате ортогональными уется пучок с изацией. Компополяризованноro остью хода, продуемой разности ения сравниваемых ности хода произзла 6 измерения

-поляризационный ненный согласно иг.2), содержит элементы и узлы 1, 2, 4, 6 и 7 (фиг.1), но вместо первого зеркала

3 установлен уголковый отражатель 8, главное сечение которого в данном случае параллельно главному сечению кристаллической пластины 2. Вместо зеркала 5 установлен уголковый отражатель 9, главное сечение которого параллельно главному сечению первого отражателя 8. Уголковые отражатели

8 и 9 жестко соединены между собой.

Данный вариант интерференционнополяризационного рефрактометра работает аналогично интерференционно-поляризационному рефрактометру, приведенному на фиг.1.

Предлагаемое изобретение повышает достоверность анализа, позволяет исключить потери времени на многократное повторение эксперимента и существенно сократить время выхода прибора на режим, тем самым обеспечивается более высокая эффективность исследовательских работ. Изобретение может быть положено.в основу новых приборов, предназначенных для решения задач особой сложности в новых разделах науки (например, в молекулярной биологии и генетике при исследовании количественного и качественного составов веществ, выделение которых требует значительных затрат времени и производится в микроколичествах).

1270657

Составитель С.Голубев

Техред N.Õîäàíè÷

Редактор И.Касарда

Корректор Л. Пилипенко

Заказ 6236/46

Тираж 778

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4