Способ контроля дефектов поверхности

Способ контроля дефектов поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. С целью повьппения достоверности обнаружения дефектов различных типов на фоне микронеровностей контролируемой детали сообщают движение развертки, освещают поверхность и myльcным излучением , регистрируют отраженное излучение , производят пороговую обработку сигнала фотоприемника, преобразуют его в импульсную форму и считают циклами число импульсов. При этом в течение каждого цикла счета импульсов изменяют углы падения излучения дискретно , а импульсы, испйльзуемые для импульсного преобразования, синхронизнруют с изменениями угла падения излучения . 1 ил.Q

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

РЕ(,ПУБЛИН

„„80„„1275273 А 1 (дц 4 G 01 N 21/88

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ю

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ;

И АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3650279/24-25 (22) 10.10.83 (46) 07.12.86. Бюл. У 45 (72) Б.А.Борзых (53) 535.24(088.8) (56) Патент Великобритании Р 1263968, кл. G О! N 21/32, 1972.

Авторское свидетельство СССР

Ф 883722, кл. G Ol N 21/86, 1979. (54} СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. С целью повьппения достоверности обнаружения дефектов различных типов на фоне микронеровностей контролируемой детали сообщают движение развертки,. освещают поверхность импульсным излучением, регистрируют отраженное излучение, производят пороговую обработку сигнала фотоприемника, преобразуют его в импульсную форму и считают циклами чисЛо импульсов. При этом в течение каждого цикла счета импульсов изменяют углы падения излучения дискретно, а.импульсы, испОльзуемые для импульсного преобразования, синхрони-. зируют с изменениями угла падения излучения. 1 ил.

1 12752

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля наличия дефектов поверхности деталей типа тел вращения. 5

Цель изобретения — повьппение достоверности обнаружения дефектов различных типов на фоне микронеровностей.

Способ осуществляется следующим !О образом, Контролируемой детали сообщают движения развертки, например вращение и осевое перемещение в случае ее цилиндрической формы, и направляют 15 на ее поверхность светодиодное им пульсное излучение, причем каждый элементарный участок поверхности ос— вещают поочередно под различными уг,лами. Отраженное излучение регистри- 20 руют фотоприемником. Электрический сигнал фотоприемника подвергают пороговой обработке, выделяя тем самым уровень засветки, превьппающий некоторую величину. Полученный сигнал в 25 двоичной форме преобразуют затем в последовательность импульсов с частотой изменения углов падения светодиодного излучения. Количество импульсов за время контроля каждого 30 элементарного участка подсчитывают и сравнивают с результатами счета на соседнем (по ходу развертки поверх— ности)) участке. Если разность ре— зультатов счета превысит некоторое число, задаваемое на основании предварительного излучения образцов дефектных деталей, то направляют контролируемую деталь в брак °

На чертеже приведена схема для осуществления предлагаемого способа.

Схема содержит генератор 1 импульсов, распределитель 2 импульсов, подключенный к выходч. генератора 1 и представляющий собой, например, счет- 45 чик с дешифратором, светодиодную матрицу 3, подключенную к вьгходам распределителя 2, выполненную в виде части сферической поверхности и установленную так, что светодиоды обра- 50 щены к контролируемой детали 4, а их оси пересекаются в одной точке контролируемой поверхности. В схеме имеется объектив 5, ось которого проходит также через указанную точку и че. 55 рез центр матрицы 3. В плоскости изображений объектива 5 установлена полевая диафрагма б, а за ней — фотоI

Фо рмул а

\ изобретения

Способ контроля дефектов поверхности, заключающнйся в том, что контролируемой детали сообщают движения развертки, освещают поверхность импульсным излучением, регистрируют отраженное излучение фотоприемником, преобразуют егоs импульсную форму, считают циклами число импульсов от каждого участка поверхности и сравнивают с другими участками поверхности, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения достоверности обнаружения дефектов различных типов на фоне микронеровностей„ в течение каждого цикла счета импульсов угол падения излучения дискретно изменяют, а частоту импульсов„ используемых дляимпульсного преобразования, задают равной частоте изменения угла падения излучения, 73

2 приемник 7. К выходу фотоприемника 7 подключены последовательно пороговый элемент 8, элемент И 9 (одним иэ входов), и счетчик 10 импульсов. Второй выход элемента И 9 соединен с выходом генератора 1, а вход установки

tt 11 в 0 счетчика 10 подключен к одному из выходов распределителя 2 импульсов, Импульсы от генератора 1 поочередно включают светодиоды матрицы 3.

Светодиодное излучение освещает контролируемую поверхность 4 под различными углами. Отраженное излучение проходит через объектив 5 и полевую диафрагму б, выделяющую элементарный участок 4 поверхности, и попадает на фотоприемник 7. Аналоговый сигнал фотоприемника 7 преобразуется в двоич- . ную форму пороговым элементом 8. Затем осуществляется преобразование сигнала с выхода порогового элемен-. та 8 в импульсную форму элементом

И 9 путем подачи на его второй вход импульсов от генератора 1 ° Количество импульсов подсчитывается счетчиком 10. контроль поверхности осуществляется циклами. В начале цикла стирается прежняя информация в счетчике

10 импульсом с одного из выходов распределителя 2. Количество светодиодов в матрице 3 определяет требуе мую емкость счетчика 10, Путем сравнения результатов счета с различных, например соседних, элементарных участков контролируемой поверхности делается вывод о годности детали.

1275273

Составитель 10. Гринева

Техред Л.Олейник

Редактор А.Козориз

Корректор М. Шароши

Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

ll3O35, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 6552/32

Производственно-полиграфическое. предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4