Способ ультразвукового контроля изделий
Патент 1293638
Авторы
Классы МПК
Способ ультразвукового контроля изделий
Иллюстрации
Реферат
Изобретение относится к области неразрушающих средств и методов контроля и может быть использовано .при ультразвуковом контроле изделий. Целью изобретения является повьппение информативности контроля путем определения конфигурации дефекта. Приемно-излучающий преобразователь 1 с , 2 ..„.. углом ввода от 40 до 50° устанавливают на изделие 3, вводят импульсы сдвиговых волн, принимают тем же преобразователем 1 эти волны и определяют наличие дефекта 4 и глубину его залегания в изделии 3. Затем, установив приемный преобразователь (в положение I) на изделие 3, принимают поочередно импульсы поперечных волн (А,), отраженных от донной поверхности изделия и дефекта 4. или от дефекта и донной поверхности изделия . Передвинув приемный преобразователь в положение II, принимают импульсы продольных волн (А ), трансформированные и отраженные от дефекта 4 или трансформированные и зеркально отраженные от донной поверхности изделия. Определяют разность максимальных значений амплитуд, вы- , числяют поправку на затухание поперечных волн и по ним определяют конфигурацию дефекта. 3 ил. Ш 3 а SS Ю О9 а оо 00 Х / 2 Л .&. а./
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН (51) 4 G 01 N 29/04
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ -
I !
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (2l) 3973613/25-28 (22) 10.11.85 (46) 28.02.87. Бюл. К - 8 .(71) Научно-производственное объединение по технологии машиностроения (72) В.И,Ушаков, А.Х,Вопилкин и В. Е, Белый (53) 620.179.16 (088.8) (56) J, and Н. Krautkramer. Merksto ffprufung mit Ultraschaj 1. Бр1пцет
Ver1àg, Berlin — Heidefberg — Nen
Jork 19759 S 331-332. (54 ) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ
ИЗД ЛИЙ (57) Изобретение относится к области неразрушающих средств и методов кон роля и может быть использовано .при ультразвуковом контроле изделий.
Целью изобретения является повышение информативности контроля путем определения конфигурации дефекта. Приемно-излучающий преобразователь 1 с
„„яи„„1293638 А углом ввода от 40 до 50 устанавливают на изделие 3, вводят импульсы сдвиговых волн, принимают тем же преобразователем 1 эти волны и определяют наличие дефекта 4 и глубину его залегания в изделии 3. Затем, установив приемный преобразователь (в положение I) на изделие 3, принимают поочередно импульсы поперечных волн (А ), отраженных от донной т поверхности изделия и дефекта 4.или от дефекта и донной поверхности изделия, Передвинув приемный преобразователь в положение II принимают импульсы продольных волн (А ), трансформированные и отраженные от дефекта 4 или трансформированные и зеркально отраженные от донной поверхности изделия. Определяют разность максимальных значений амплитуд, вычисляют поправку на затухание поперечных волн и по ним определяют конфигурацию дефекта. 3 ил.
1293638
Изобретение относится к нераэрушающим средствам и методам контроля и может быть использовано при ультразвуковом контроле изделий.
Цель изобретения — повьппение информативности контроля путем определения конфигурации дефекта.
На фиг.1а показана схема реализации способа ультразвукового контроля для изделий толщиной до 100 мм; на фиг.1б — схема реализации способа для изделий толщиной свьппе 100 мм; на фиг.2 — номограмма для определения высоты вертикальных плоскостных дефектов.
Схема реализации способа содержит приемно-излучающий наклонный преобразователь 1 с углом ввода 40д
50 и приемный преобразователь 2 с переменным углом ввода.
Способ ультразвукового контроля изделий реализуется следующим образом.
Устанавливают приемно-излучающий преобразователь 1 на изделие 3, вводят импульсы сдвиговых волн (т)., принимают тем же преобразователем 1 эти волны и определяют наличие дефекта 4 и глубину его залегания в изделии 3. Затем устанавливают приемный преобразователь 2 на изделие 3 в положение I и принимают поочередно импульсы поперечных (А ) волн, отраженных от донной поверхности изделия и дефекта 4 или от дефекта и донной поверхности изделия. Передвинув преобразователь 2 в положение II, принимают импульсы продольных волн (А ), трансформированные и отраженные от дефекта 4 или трансформированные и зеркально отраженные от донной поверхности изделия 3.
Определяют разность максимальных значений амплитуд А -А в децибел-о,85 <(-Р) лах. Вычисляют поправку е где 81 — коэффициент затухания поперечных волн, L — - толщина изделия °
Вычитают эту поправку из разности (А вЂ,А.,) и по найденному результату определяют конфигурацию дефекта и
его высоту. Если разность не превышает 6 дб, то обнаружен объемный дефект, если разность не превьппает
9 дб, то тип обнаруженного дефекта объемно-плоскостной. При разности свыше 9 дб обнаружен плоский дефект.
Если плоский дефект вертикальный,,то, установив приемный преобразова тель 2 в положение III, измеряют максимальное значение импульсов продольных волн, В этом случае с учетом поправки на затухание попереч5 ных волн может быть найдеч размер (высот а) плоского дефект а по номограмме (фиг, 2) .
Таким образом, способ ультразвукового контроля изделий позволяет on10 ределить тип дефекта: плоскостной, объемно-плоскостной (эллипсный) и объемный, определить размер (высоту) вертикального плоскостного деФекта.—
Кроме того, если обнаружен плоскост15 ной дефект, то фиксация положения акустической оси приемного преобразователя в момент регистрации и измерения максимального значения ампли20 туды импульсов продольных волн относительно нормали к поверхности, проходящей через дефект, дает дополнительную информацию об ориентации дефекта.
Фор мул аизобретения
Способ ультразвукового контроля иэделий, заключающийся в том, что в изделие наклонно излучают импульсы ультразвуковых сдвиговых волн, принимают импульсы продольных волн, трансформированные и отраженные от дефекта, или трансформированные и зеркально отраженные от донной поверхности
35 иэделия, и по параметрам принятых импульсов судят о дефекте, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения информативности контроля путем определения конфигурации
40 дефекта, дополнительно принимают импульсы поперечных волн, последовательно отраженные от донной поверхности изделия и дефекта или от дефекта и донной поверхности, а о
45 конфигурации дефекта судят по параметру Р, который вычисляют по формуле
-o,853) (2L-H) е
50 где А — амплитуда поперечных волн;
A — амплитуда продольных волн;
-0 s53g(2t.- H) е — поправка на затухание поперечных волн;
55 3 — коэффициент затухания поперечных волн;
Н вЂ” глубина залегания дефекта1
1. — толщина изделия.
1293638 уб
Ю г з а 7 а о Ю и а Е
Сост авитель И.Ардашева
Редактор В.Ковтун Техред A.Кравчук Корректор Н.Король
Заказ 380/49 Тираж 777 Подписное
BHHHHH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4