Способ электронномикроскопического анализа намагниченности магнитной ленты

Способ электронномикроскопического анализа намагниченности магнитной ленты

Реферат

Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для исследования магнитных полей на магнитных лентах.Цель - расширение функциональных возможностей способа электронно-микроскопического анализа намагниченности магнитной ленты за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, записанной на магнитной ленте. Способ пояснен чертежом. Для достижения цели перегибают образец магнитной ленты 3 по строке записи, а электронный пучок (ЭП) 1 проходит в электронном микроскопе 2 перпендикулярно краю перегиба , при этом часть ЭП 1, попадая на экран 4 изображения, пересекает силовые линии поля рассеяния сигналограммы , которое отклоняет электроны от первоначального направления, и на экране.4 формируется электронное изображение края перегиба магнитной ленты 3, деформированное в результ ате взаимодействия электронов с магнитным полем сигналограммы. 1 ил. с (Л со со