Устройство для оценки качества поверхности

Устройство для оценки качества поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 42k 12<)

СССР

ОПИСЛНИК ИЗОБРЯТКНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Г(одписнпя группа )<о 164

Б. Р. Мирзоев и H. М. Бездетны)1

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ .Занв I3 No 628984(28 в Ко>)<ит<т ио дияа)«и> )<») тений и

)TKt>I.!тий ири C<)3< l< .")<нн)«тров ПУГГП

Оиувл<и«н>ано в «Б!ол IPT< Il< II <)<)t)< T< ний» > . I8 3 l9<)0 г.

ИЗВестны<) уcTpойстваl для Оц< .ниll K)1 I< ств3 НОВсj)хности (1н<. j)охо—

Вятости) по се отражательной способности содержат общий осветитеH и схему моста с включенным в одно из его плеч фотоэлектрическим индикатором и с источником противоэлектродви)кущей силы, Зт!! устройства не обладают достаточно высокой чувствительностью.

В ПРЕДЛаГаЕМОМ УСтРОйетВЕ, С ЦСЛ!>10 ПОВЫШЕНИЯ ЕП> ЧУВСтнитЕЛьности, в качестве индикатора прим< ll<>но фотосопротпвлснпе с внутренним фотоэффектОм.

Н3 чеРтеж<> HBOOP 3)! AH 3 IIPHHlll! !i!if!, !hH3 H схема Ot) Ffc I>! B3<>м<>!.<>, <.: гройства.

Устройство предназначено преимущественно для оценки к)!честви поверхности дюралевых листов после Itx пескоструйной отбивки, Оценка качества поверхности (шсроховя!Тости) этим устройство l производится HO cFIOcooHocTH испыт >)L)lf>t. ; объ<."ктов раlссе IB3 T, > I! )I 3 foщие ня них потоки света, Источником падающего света слу)кит лампа на б в мощностью в 20 вт, Свет;Iflfilll>1 на

В качестве индикатора интенсивности светового потока, отбрясыв 1смого испытуемым объектом, пр!!3!сн<гно

Вн . тренним фотоэффсктом. Фотосопротивс!сн! под углы! и л чу такжее 45 .

В каlчсствс 1!змерите, !я В с. е!)fcтj) с0 шк 1, loA 150, IKQ. Величина напр <)к< н11>1 Ф(. () -1 KAI!Tj)0 lii,);.OTcFI В« lhTметром на 100 в.

11 итани< к)l к са> мОи ц<.. пи фотocu;IpuTIIВ> >1!1снс вруi<>

1 ц е и B(T B I I о б < с и е <1 ?? ?? ???? ?? ?? c hl 0 b ) i t j) fr fi> < > j) м 3 то !) 0 > I м 0 и и 0; т!- 10 50 ., дву ..<)луrl<. J)Itn, !If til Выпрямителем, 11 $) е:l м е . т ii з 0 О !) 0 т е н и я

Устройство для оценки качества поверхности (шероховатости) по ее отражательной способности, содер)кагцее общий осветитель и схему моста с включенным в одно из его плеч фотоэлектрическим индикатором и с источником противоэлектродвижугцей силы, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения чувствительности устройства, применено в качестве индикатора фотосопротивленис с внутренним фотоэффектом.

К,орректор Е. Ф. Шварц

Рс.,анзор В. В. Ьерд)осина Техред Л. Л. Сосина

Объем 0,17 п. а

Цена 3 ко.) ч)ормат бум. 70;к,108 /„

Тираж 750

ЦВТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Говете Министров СССР

Москва. Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6, Поди. к пен. 20.Х11-60 т

Зак. 5(11

Типографии ЦЬТИ Комитета Il(7 делам изобретений и открытий при Спит. Минис;р)н СГСР, Москва, lip;po,ка, !4.

В цепь введены, сопротивления Rь R,, R;, и 1 . — -! !О коли Jc,-, 16 ком, R6 — 10 колю, Ят — 115 о.и, R,, в ii „— 1 ком, R, кол, а также конденсатор С) jìêoñòüþ !0 л кф (на 450 в).

Устройство градуируется на основе показаний микроамперметра (Jl установленного лучшего образца средней шероховатости. Рег),.пируя R;

R9 Rip и,), )Q)KHo установить стрелку микроамперметра на середине шкалы. Затем устроистВО устанавлиВаст(я свои л1 ОсиОВаиием, В котором имеется соответствующее отверстие. на испытуемый объект. По отклонению стрелки микроамперметра в ту или иную сторону на определенное количество делений судят о качестве поверхности испытуемого объекта.

Регулируя Рв, можно подать на ФСК-1 такое напряжение. при к:,)тором показания микроамперметра будут укладываться В шкалу,