Способ измерения линейных размеров объектов с отражающей поверхностью

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных размеров объектов. Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения за счет сокращения количества фиксаций и замеров положения отраженного луча. Направляют на отражающую поверхность 2 измеряемого объекта под углом а световой луч, фиксируют отраженный луч и по положению отраженного луча определяют линейный размер. Предварительно световой луч направляют на образцовую диаметральную отражающую поверхность 1 диаметра D, на расстоянии от нее устанавливают параллельно направленному лучу приемную плоскость 3 и фиксируют на ней первоначальное положение отраженного луча. Затем располагают измеряемую поверхность 2 концентрично образцовой поверхности 1, после чего на приемной плоскости 3 замеряют расстояние а между точками фиксации лучей, отраженных от измеряемой и образцовой поверхностей 2 и 1. После этого определяют угол f между нормалями к измеряемой и образцовой поверхностям 2 и 1 в точках падения луча и диаметральный размер d измеряемого объекта по соответствующим соотношениям. 1 ил. to сл со ю о Oi сд 00

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„„1320658

А1 (gg) 4 G 01 В 11/02

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ, р:

Н ABTOPCHGMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4024911/24-28 (22) 21.02.86 (46) 30.06.87. Бюл. № 24 (71) МВТУ им. H. Э. Баумана (72) В. С. Иванов, Н. П. Спиренков и С. Ю. Колтунов (53) 531.715.27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 428200, кл. G 01 В 11(02, 1975.

Авторское свидетельство СССР № 1101673, кл. G 01 В 21/00, 1984. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ

РАЗМЕРОВ ОБЪЕКТОВ С ОТРАЖАЮЩЕЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных размеров объектов.

Цель изобретения — повышение точности и производительности измерения за счет сокращения количества фиксаций и замеров положения отраженного луча. Направляют на отражающую поверхность 2 измеряемого объекта под углом а световой луч, фиксируют отраженный луч и по положению отраженного луча определяют линейный размер.

Предварительно световой луч направляют на образцовую диаметральную отражающую поверхность 1 диаметра D, на расстоянии от нее устанавливают параллельно направленному лучу приемную плоскость 3 и фиксируют на ней первоначальное положение отраженного луча. Затем располагают измеряемую поверхность 2 концентрично образцовой поверхности 1, после чего на приемной плоскости 3 замеряют расстояние а между точками фиксации лучей, отраженных от измеряемой и образцовой поверхностей 2 и 1.

После этого определяют угол в между нормалями к измеряемой и образцовой поверхностям 2 и 1 в точках падения луча и диаметральный размер d измеряемого объекта по соответствующим соотношениям. 1 ил.

1320658

Из треугольника АВО следует

2 яп(и+ P) (2) Из треугольника ВСЕ с учетом равенства BC= АМ в 2 величина а состав6

2 cosa, ляет

2 cosa sin(2m+ 2р) (3) а—

cosa 1да+ gP х

Обозначив

tgp=х, — — =b,tga=с, (5) 25 получаем уравнение

Ах + Вх+ C= О, /bD где А= с 1,, В= — - (D + tb ) — а (С вЂ” 1); (6) 30

C= ас

Решая уравнение (6) с учетом соотношений (5), получаем

a = а1+ аг

D P D Р D

+ + tg -а- (+ г +atgã -а) г 2atg a — -2а)

2соМ 2сояга 2сояА 2сояЪс casK

8 = arctg эtка( — 2ас ух с о ярк

Из треугольника АВО, зная Р, можно мерения диаметральных размеров, предвариопределить диаметральный размер d изме- 40 тельно направляют тот же световой луч на ряемого объекта: образцовую отражающую поверхность диаметром D, устанавливают параллельно направленному лучу приемную плоскость, на которой фиксируют первоначальное полоФормула изобретения жение отраженного луча, затем располага45 ют измеряемую поверхность концентрично

Способ измерения линейных размеров обь образцовой, измеряют на приемной плоскоектов с отражающей поверхностью, заклю- сти расстояние а между точками фиксации чающийся в том, что направляют свето- лучей, отраженных от образцовой и измевой луч на отражающую поверхность объ- ряемой поверхностей, и определяют угол р екта, фиксируют отраженный световой луч 0 между нормалями к образцовой и измеряеи по его положению определяют линейный мой поверхностям в точках падения сверазмер, отличающийся тем, что, с целью по- тового луча и диаметральный размер d ьч ппения точности и производительности из- объекта из соотношений

У

+ atg о(— а—

2cps3G(D

2с.>я в = arc н

-2atg A, (— 2a)

c os +

Dtg c( — 2atgk сояссsinn (+ 6) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных размеров объектов.

Цель изобретения — повышение точности и производительности измерения путем сокращения количества фиксаций и замеров положения отраженного луча.

На чертеже изображена схема, поясняющая способ измерения линейных размеров объектов.

Световой луч направляют под углом а к образцовой отражающей поверхности 1 с заданным диаметром D с центром в точке О.

Концентрично к поверхности 1 располагают отражающую поверхность 2 измеряемого объекта диаметром d, подлежащим определению, а приемную плоскость 3 устанавливают параллельно направленному световому лучу на расстоянии 1, измеренном по нормали к образцовой поверхности от точки А падения луча. Далее на приемной плоскости 3 в точке М первоначально фиксируют отраженный от образцовой поверхности 1 луч. Затем направляют тот же световой луч на отражающую поверхность 2 измеряемого объекта. Отраженный от точки

В луч фиксируют в точке Е приемной плоскости 3. Расстояние а между точками М и E фиксации лучей, отраженных от образцовой и измеряемой поверхностей, характеризует диаметральный размер d.

Расстояние а определяется суммой смещений а1 и аг отраженного луча, соответственно из-за линейного смещения точки падения направленного луча и углового смещения отраженного луча:

Из формул (1) — (3) с учетом тригонометрических преобразований следует

1320658

Составитель Л. Лобзова

Редактор А. Ог а р Техред И. Верее Корректор А. Ильин

За каз 2649/44 Тираж 677 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

I! 3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 где n — угол падения луча на образцовую отражающую поверхность;

Р— расстояние от образцовой поверхности до приемной плоскости, измеренное по нормали к образцовой поверхности в точке падения луча.