Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон

Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , 6 частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства. Цель изобретенияПовышение точности измерения за счет увеличения крутизны зависимости между выходным сигналом и диаметром волокна . Источник 1 Коллимированного излучения направляет луч на сканирующее зеркало 2, находящееся в фокусе линзы 3,которая фокусирует его далее в области измерения в пятно с диаметром, заведомо большие диаметра волокна 8, при этом луч сканирует в плоскости прямоугольных щелей фотоэлементов 4 и 5, установленных так, что их светочувствительные слои обращены навстречу и паралле гьно друг другу. Рассеянный волокном 8 свет попадает на фотоэлементы 4 и 5, они преобразуют его в импульс фототока, который несет информацмо о диаметре волокна 8. 2 ил. fftf/. (Л Фиг./ в

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

„„SU„„1322 (51) 4 G 01 В 11/10

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ его. g ин-В

DbIA

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4042070/24-28 (22) 23.01.8б (46) 07.07.87. Бюл. В 25 (71) Всесоюзный заочный институт текстильной и легкой промьппленности (72) А.Н.Волгин и Л.К.Таточенко (53) 531.715.27(088.8) (5á) Патент США Н 4074938, кл. G 01 В 11/10, 1980.

Авторское свидетельство СССР

У 1017919, кл. G 01 В 11/10, 1981. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВ СУБМИКРОННЫХ ВОЛОКОН (57) Изобретение относится к измерительной технике и мо:кет быть использовано, и частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства. Цель иэобретенияПовьипение точности измерения sa счет увеличения крутизны зависимости мелщу выходным сигналом и диаметром волокна. Источник 1 коллимированного излучения направляет луч на сканирующее зеркало 2, находящееся в фокусе линзы З,которая фокусирует его далее в области измерения в пятно с диаметром, заведомо большовы диаметра волокна 8, при этом луч сканирует в плоскости прямоугольных щелей фотоэлементов 4 и 5, установленных так, что их светочувствительные слои обращены навстречу и параллепьно друг другу. Рассеянный волокном 8 свет попадает на фотоэлементы 4 и 5, они преобразуют в импульс фототока, который несет формацию о диаметре волокна 8. 2

13220

Формула изобретения

Тираж 677 Под"ис"ое

ВНИИПИ Заказ 2853/36

Произв.— полиг р, пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства. 5

Цель изобретения — повышение точности измерения за счет увеличения крутизны зависимости между выходным сигналом и диаметром волокна.

На фиг.1 изображена принципиальная10 схема устройства для измерения диаметров субмикронных волокон, на фиг. 2 — вид А на фиг. 1.

Устройство содержит источник 1 коллимированного излучения и располо- 15 женные по коду излучения сканирующее зеркало 2, линзу 3 и фотоприемник, состоящий из двух фотоэлементов 4 и

5 с прямоугольной щелью. в центре каждого, установленных так, что их светочувствительные слои обращены навстречу и:параллельно друг другу.

Вращение сканирующего зеркала 2 производится двигателем 6. Направляющие 7 служат для перемещения. конт- 25 ролируемого волокна 8., которое находится между фотоэлементами 4 и 5.

Предлагаемое устройство работает следующим образом.

Источник 1 коллимированного излучения направляет луч на сканирующее зеркало 2, находящееся в фокусе линI

87 2 зы 3, которая фокусирует его далее в области применения в пятно с диаметром, заведомо большим диаметра волокна 8, при этом луч света сканирует в плоскости щелей фотоэлементов 4 и 5.

Рассеянный волокном 8 свет попадает на фотоэлементы 4 и 5, они преобразуют его в импульс фототока, который несет информацию о диаметре волокна

8. При этом распределенные по плоскости фотоэлементы 4 и 5 захватывают поток рассеянного волокном 8 света, распространяющийся как вперед, так и назад. Крутизна зависимости между выходным сигналом с фотоприемника и диаметром волокна возрастает, что повышает точность измерения.

Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон, содержащее источник коллимированного излучения и расположенные по ходу излучения сканирующее зеркало, линзу и фотоприемник, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, фотоприемник выполнен в виде двух фотоэлементов с прямоугольной щелью в центре каждого, установленных так, что их светочувствительные слои обращены друг к другу и параллельны,