Способ определения толщины пластического слоя каменных углей
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Изобретение относится к анализу каменных углей и может быть использовано при определении их качества. Целью изобретения является увеличение точности при определении толщины пластического слоя и сокращение времени анализа. Это достигается за счет сравнения концентрации п неспаренных электронов перед нагреванием N и после охлаждения, а толщину у определяют по-уравнению у 3,18 + 2,56 N/n. 1 табл. оо ьэ а ел ел О5
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (51) 4 С 01 И 33/22
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К A BT0PCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3836790/22-26 (22) 07.01.85 (46) 30.07.87. Бюл. У 28 (7i) Восточный научно-исследовательский углехимический институт (72) В.С. Жданов, В.К. Попов и Н.Д. Русьянова (53) 662.742(088.8) (56) Грязнов Н.С. Пластическое состояние и спекание углей. М.: Металлургия, 1962, с. 92.
Макаров Г.Н. Изучение термохимических превращений углей методом ЭПР.
Кокс и химия, 1971, Р 9, с. 1-5.
„„SU 1326556 А1 (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛАСТИЧЕСКОГО СЛОЯ КАМЕННЫХ УГЛЕЙ (57) Изобретение относится к анализу каменных углей и может быть использовано при определении их качества.
Целью изобретения является увеличение точности при определении толщины пластического слоя и сокращение времени анализа. Это достигается sa счет сравнения концентрации и неспаренных электронов перед нагреванием N и после охлаждения, а толщину у определяют по уравнению у = 3,18 + 2,56 N/n. табл.
1326 формула изобретения у = 3,18+2,56 N/и, где у — толщина пластического слоя, мм; и — концентрация неспаренных электронов до нагревания, r-1Ä
И вЂ” концентрация неспаренных электронов после нагрева-1
1 ния, r
Из данных таблицы следует, что толщины пластического слоя, опреде35
Концентрация неспарен- Толщина пластического ных электронов, слоя, определена по
r-1. 10-19 способу
Бассейн до нагрева после нагрева известному предлагаемому
18,7
3,9
Печорский
Карагандинский
5,4
28,5
4,0 14,8
Ю-Якутский
Составитель С. Киселев
Техред A.Кравчук Корректор И, Муска
Редактор Э. Слиган
Тираж 776 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Заказ 3243/18
Производственно-полиграфическое предприятие, r, Ужгород, ул. Проектная, 4
Изобретение относится к анализу каменных углей и может быть использовано при определении качества углей в коксохимической и угольной от5 раслях промышленности„ а также в ис-.. следовательной практике.
Целью изобретения является сокращение времени анализа и повышение точности.
Пример. Проведено определение толщины пластического слоя ряда углей Печорского, Ю-Якутского и Карагандинского бассейнов.
Пробу угля в количестве 2 г измельчают до крупности ь 1 мм и определяют концентрацию неспаренных электронов (и). Затем пробу нагревают до 600 С со скоростью 6 /мин. После. охлаждения пробы определяют концентрацию неспаренных электронов (N) и вычисляют толщину пластического слоя у по формуле у = 3,18+2,56 N/n.
Определение концентрации неспаренных электронов проводят посредством записи спектров ЭПР на радиоспектрометре РЭ 1301.
В таблице приведены данные измерений и результаты расчета.
Время одного определения 3 ч.
Воспроизводимость среднего значения концентрации неспаренных электронов по двум измерениям составляет
7Х.
556 2 ленная по предлагаемому способу и по известному, практически совпадает.
Однако предлагаемый способ позволяет сократить процолжительность определения с 4 до 3 ч. Ускорение достигается за счет снижения конечной температуры и увеличения скорости нагревания. Воспроизводимость определения повышена с 107. для прототипа до 77 по предлагаемому способу.
Способ определения толщины пластического слоя каменных углей, включающий измельчение и нагревание анализируемой пробы до температуры образования полукокса, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью сокращения времени анализа и повышения точности, после нагрева пробу охлаждают, измеряют концентрацию неспаренных электронов перед нагревом и после охлаждения, а толщину пластического слоя определяют по уравнению: