Способ анализа электронного спектра вещества

Способ анализа электронного спектра вещества

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к области физических методов исследования структуры и свойств вещества, конкретнее к методам, основанным на регистрации характеристик аннигиляции . позитронов в веществе, и мож-ет быть использовано для анализа электронных спектров различных материалов,Целью изобретения является повьщгение точности измерений за счет снижения влияния поглощения аннигиляционных квантов в веществе исследуемого объекта. Способ заключается в том, что измеряют скорость совпадений импульсов двух детекторов аннигиляционных квантов при различных углах между осями детекторов, один из которых в процессе измерений перемещают, а другой остается неподвижным. Одновременно с этим регистрируют интенсивность аннигиляционных квантов подвижным детектором и определяют отношение скорости совпадений к зарегистрированной интенсивности квантов дпя каждого угла между осями детекторов. По характеру зависимости указанного отношения от упомянутого угла судят об электронном спектре вещества объекта. i о:) tsD О5 О5 CD

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЯ4АЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН ц 11 4 G 01 Ы 23/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМ,К СВИДЕтеЛьСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

llO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4039485/31-25 (22) 24.03,86 (46) 30.07.87.Бюл . Р 28 (71} Институт химической физики

АН СССР и Институт общей физики

AH СССР (72) Л.Г.Аравии, H.Â.Êèðååâ, J0 ° A.Новиков, M.К.Филимонов и В.П.Шантарович (53) 620.039 (088.8) (56) Ильясов А.З. Исследование особенностей структуры твердых тел методом измерения допплеровского уширения аннигиляционных линий. — ФТТ, 1981, .т.23. У 1, с.3.

Гольданский В.И. Физическая химия позитрона и позитрония. М.: Наука, 1968, с.39, (54) СПОСОБ АНАЛИЗА ЭЛЕКТРОННОГО

СПЕКТРА ВЕЩЕСТВА (57) Изобретение относится к области физических методов исследования структуры и свойств вещества, конкретнее к методам, основанным на ре„„SU„„.1 326969 А 1 гистрации характеристик аннигиляции . позитронов в веществе, и может быть использовано для анализа электронных спектров различных материалов. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет снижения влияния поглощения аннигиляционных квантов в веществе исследуемого объекта. Способ заключается в том, что измеряют скорость совпадений импульсов двух детекторов аннигиляционных квантов при различных углах между осями детекторов, один из которых в процессе измерений перемещают, а другой остается неподвижным. Одновременно с этим регистрируют интенсив- а

Я ность аннигиляционных квантов подвижным детектором и определяют отношение скорости совпадений к зарегистрированной интенсивности квантов для ( каждого угла между осями детекторов.

По характеру зависимости укаэанного отношения от упомянутого угла судят WaL об электронном спектре вещества СО объекта. (Я

1 13269

Изобретение относи..ся к физическим методам исследования структуры и свойств вещества, а именно к методам, основанным на регистрации харак .з теристик аннигиляции позитронов н веществе, и может быть использовано для анализа электронных спектров различных материалов.

Цель изобретения — повышение точности измерений за счет снижения влияния поглощения аннигиляционных квантов в веществе исследуемого объек"

Способ анализа электронного спектра вещества, включающий облучение исследуемого объекта потоком позитро -. нов, регистрацию аннигиляционных гамма-квантов двумя расположенными с противоположных сторон объекта коллимированными детекторами, измерение скорости совпадений импульсов детекторов .при изменении углового положения одного иэ детекторов относитель35 но оси другого детектора, о т л и— ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений за счет сии>кения влияния псглощения аннигиля40 ционных квантов в веществе исследуемого объекта, одновременно с измерением скорости совпадений фиксируют интенсивность регистрируемых подвижным детектором аннигиляционных кван45 тов определяют для каждого угла между осями детекторов величину отношения между скоростьк> совпадений и интенсивностью регистрируемых подвижным детектором квантов, анализируют зависимость упомянутой величины от угла между осями детекторов, по которой определяют электронный спектр вещества объекта.

50 та, Способ осуществляют следующим образом.

На установке для измерения угловых распределений аннигнляционных квантов проводят измерения зависимоссовпадения, GT уг В между осями детекторов для образца кремния с ориентацией поверхности (100), имеющего форму половины круга диаметром 76 мм и толщиной 0,3 мм„ Образец помещают между двумя детекторами.Позитронами источника облучают.кремний, в котором они аннигилируют, С помощью двух детекторов, один иэ которых подвижный, на основе сцинтилляторов NaI(TI) диаметром 15 см и толщиной 15 см регистрируют аннигиляLTHoFIFibIB гамма-кванты. С помощью схемы совпадений с разрешающим временем . 100. нс выделяют совпадения, которые подсчитывают счетчиком. Изменяя угол установки подвижного детектора относительно оси неподвюкного детектора, проходящей через образец, в диапазоне 20 мрад измеряют скорость счета совпадений в. зависимости от этого угла. Полученная кривая искажена поглощением квантов в образце.

Для снижения влияния поглощения квантов одновременно с измерением скорости совпадений с помощью дополнительного счетчик. фиксируют интенсивность регистрируемых подвижным дектором аннигиляционных квантов и определяют для каждого угла отноше— ние скорости совпадений к интенсивности зарегистрированных квантов.

Полученная в результате такой процедуры зависимость не искажена погло69 2 щением квантов в образце. Эту зависимость используют для расчета импульсного" распределения электронов,в веществе (электронного спектра) в соответствии с выражением

1 с111(О) п (Р)

P где g = -- — — угол установки подmc вижного детектора;

P — импульс электрона:

m — его масса; с — скорость света, Способ не требует юстировки образ" ца, т.е. регулировки его положения по трем пространственным координатам, трем углам наклона и углу поворота около оси образца, Точность измерений повышается в несколько раз за счет снижения влияния поглощения квантов в материале исследуемого объекта, формула изобретения

ВНИИПИ Заказ 3381/39 ТИР » Подписное

Произв,-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4