Способ измерения величины амплитудного разрешения сцинтилляционных счетчиков

Способ измерения величины амплитудного разрешения сцинтилляционных счетчиков

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

№ 133534

Класс 9 f g, 18 юСССР

ЕС СО.ЗЗ: П

0llHCAH VIE VI30EPETEFIHH—

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Лв 97

Б. И. Хазанов и Л. С- Горн

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ АМПЛИТУДНОГО

РАЗРЕШЕНИЯ СЦИНТИЛЛЯЦИОННЫХ СЧЕТЧИКОВ

Заявлено 24 марта 1960 г. за № 659879/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 22 за 1960 г.

Известны способы измерения величины амплитудного разрешения сцинтилляционных счетчиков. Основной недостаток их заключается в невысокой скорости процесса измерения, В описываемом способе этот недостаток устранен тем, что измерения производят тремя интегральными счетными каналами, уровень ди=криминации одного из которых автоматически устанавливают в центре спектрального максимума, а уровень дискриминации двух других — на его полувысоте. Искомое амплитудное разрешение определяется как разница между порогами дискриминации, установленными на полувысоте спектрального максимума.

Принципиальная схема устройства для измерения величины амплитудного разрешения по описываемому. способу показана на чертеже, Сцинтилляционный счетчик, содержащий сцинтиллирующее вещество 1 и фотоэлектронный умножитель 2, соединен через усилитель 8 со входами дискриминаторов 4, 5 и б. С делителя 7 на левые триоды этих дискриминаторов подается одинаковое пороговое напряжение U„, .

Сетка правого триода дискриминатора 4 заземлена и порог срабатывания дискриминатора 4 определяется напряжением U„„., На сетки правых триодов дискриминаторов 5 и б подано напряжение с делителя напряжения, состоящего из сопротивлений 8 и 9, которое в сумме с U,„определяет порог срабатывания дискриминаторов 5 и б. Выходные сигналы дискриминаторов 4, 5 и б нормализуются мультивибраторами 10, 11, 12 и поступают на разностные интеграторы. один из которых составляют дозирующие емкости 18, 14, диоды 15 — 18 и накопительный контур

19, а другой — дозирующие емкости 20, 21, диоды 22 — 25 и интегрирующий контур 2б.

При сдвиге фотопика из-за изменения усиления фотоэлектронного умножителя 2 или светового выхода кристалла на контуре 19 появляется отличное от нуля положительное напряжение, которое после уси№ 133534 лителя 27 через катодный повторитель 28 подается на блок питания 29, как часть высоковольтного питания умножителя 2, уменьшая его абсолютную величину. При этом фотопик возвращается в исходное положение. Напряжение с контура 26 через усилитель 80 и катодный повторитель 81 питает схему делителя, состоящего из равных по величине сопротивлений 8 и 9. Интегратор, содержащий контур 26, позволяет регистрировать величину разрешения, В случае ухудшения разрешения равновесие заряда на контуре нарушается и на интеграторе развивается отрицательный потенциал. Порог срабатывания дискриминаторов 5 и 6 сместится и смещение будет продолжаться до наступления теоретического равновесия, когда пора срабатывания не выйдет на точку на полувысоте пика. Центровка пика выполняется автоматически. Величина разрешения регистрируется прибором 82, включенным на выходе катодного повторителя Л.

Предмет изобретения

Редактор Н, С. Кутафина Техред А. А. Кудрявицкан Корректор Л. Е. Чекунова

Поди. к печ. 2.ХП-60 г

Зак. 10261

Формат бум. 70 108 /ig Объем 0,17 и.

Тираж 1060 Цена 26 коп.; с 1.1-61 г. — 8 коп.

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6

Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14.

Способ измерения величины амплитудного разрешения сцинтилляционных счетчиков, отличающийся тем, что, с целью ускорения процесса измерения, измерение производят тремя интегральными счетными каналами, уровень дискриминации одного из которых автоматически устанавливают в центре спектрального максимума, а уровень дискриминации двух других — на его полувысоте, и искомое амплитудное разрешение определяют как разницу между порогами дискриминации, установленными на полувысоте спектрального максимума.