Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа

Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к приборам , с помощью которых проводят исследования с использованием адернофизических методов. Целью изобретения является повышение экспрессности перестройки устройства на разные энергетические диапазоны. Повьшение экспрессности достигается с помощью вьшолнения .кристаплодержателя в виде общего основания, на котором установлена цилиндрическая сменная оправка из набора оправок разного радиуса На оправке установлена сборка кристаллов, закрепленных на боковой поверхности держателей этих кристаллов. Каждый из держателей выполнен в форме прямого -параллелепипеда с прямоугольным вырезом, которым он надевается на оправку. Держатели соединяются между собой с помощью гибкой ленты с возможностью перемещения по ней, а лента пропущена через паз, вьшолненный на бокоьой поверхности держателей кристаллов, противоположнрй поверхности крепления кристаллов. 3 ил. с ( (Л с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1336706 А1 (51) 5 0 01 и 23 223

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К Д BTOPCHOIVIV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (46) 07,03,91. Бюл, № 9 (2l) 3968669/25 (22) 25.10.85 (72) В.В.Бердиков, П.А.Гальцев и Б.С.Иохин (53) 539.1.03/06 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 368535, кл. G 01 и 23/223, 1971.

Авторское свидетельство .СССР № 543289, кл. С 01 11 23/223, 1975. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА (57). Изобретение относится к приборам, с помощью которых проводят исследования с использованием ядернофизических методов. Целью изобретения является повьппение экспрессности перестройки устройства на разные энергетические диапазоны. Повьппение экспрессности достигается с помощью выполнения .кристаллодержателя в виде общего основания, на котором установлена цилиндрическая сменная оправка из набора оправок разного радиуса. На оправке установлена сборка кристаллов, закрепленных на боковой поверхности держателей этих кристаллов ° Каждый из держателей выполнен в форме прямого параллелепипеда с прямоугольным вырезом, которым он надевается на оправку. Держатели соединяются между собой с помощью гибкой ленты с возможностью перемещения по ней, а лента пропущена через паз, выполненный на боковой поверхности держателей кристаллов, противоположной повевхности крепления кристаллов. 3 ил, С::

6706

50

1 133

Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа относится к приборам, с помощью которых проводят исследонания с использованием ядернофизических методов.

Цель изобретения - повьппение экспрессности перестройки устройства на разные энергетические диапазоны.

На фиг.l показан общий вид предлагаемого устройства; на фиг.2 общий вйд кристаллодержателя; на фиг.3-вид части кристаллодержателя.

Устройство содержит рентгеновскую трубку 1, прободержатель 2, коллиматор 3, кристаллодержатель с цилиндрической сборкой 4 кристаллов, защитный экран 5, детектор б; а кристаллодержатель - общее основание 7, держатели 8 кристаллов, кристаллы 9, паэ

10 держателя кристаллов, гибкую ленту 11.

Устройство работает следующим образом.

Рентгеновское флуоресцентное излучение пробы, находящейся н прободержателе 2, совместно с излучением рентгеновской трубки l, рассеянным этой пробой, надает под-углом 6 на поверхность кристаллов 9. Рентгеновская трубка 1 и детектор 6 жестко закреплены, а сборка 4 кристаллов всегда устанавливается между ними таким образом, что расстояния пробакристалл и кристалл-детектор равны друг другу. В этом случае радиус сборки определяет угол Брэгга 8, а следовательно, для данного типа кристалла и энергетический диапазон излучения, регистрируемого детектором 6. При перестройке анализатора на другой диапазон исследуемых элементов гибкую ленту с кристаллами надевают на цилиндрическую оправКу, радиус которой обеспечивает нужный для настройки на данную энергию угол Брэгга. Затем эту опранку со сборкой 4 кристаллов на ней устанавливают на общее для всех оправок основание 7.

Излучение пробы, отраженное от кристаллов, попадает на детектор 6 и регистрируется им.

Фокусировка лучей, падающих с йротяженного источника излучения (каковым является проба), происходит с помощью коллиматора 3, который расположен между пробой, находящейся

11 прободержателе, облучаемой рентгенонской трубкой 1, и цилиндрической сборкой 4 кристаллов. Ход лучей от пробы до детектора б, отбираемых с четырех точек цилиндрической поверхности кристаллов 9, отстоящих о от друг друга на 90, показан на фиг.l, на которой изображен также защитный экран 5 детектора от прямого излучения пробы, представляющий собой свинцовый диск. Расположение пробы относительно цилиндра обусловлено следующими факторами. Известно, что интенсивность комптоновски рассеянного пробой излучения рентгеновской трубки минимальна при угле от-!! бора излучения 8 = . Поскольку диспергирующая цилиндрическая поверхность не является точечным объектом, геометрия установки такова, что прямым углом является угол между осями рентгеновской трубки и цилиндрической диспергирующей системы (усредненный угол отбора), угол наклона про- i бы относительно цилиндра выбран HS соображений максимума интенсивностИ флуоресцентного излучения пробы rtpH угле отбора излучения 8 =

Формула изобретенная

Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа, содержащее источник рентгеновского излучения, установленные по ходу излучения прободержатель, коллиматор, кристаллодержатель с кристаллами, обладающими коэффициентом отражения, и полупроводниковый детектор, о т л и ч а ю щ е— е с я тем, что, с целью повьппения экспрессности перестройки устройства на разные энергетические диапазоны, кристаплодержатель выполнен в виде

45 .общего основания с размещенной на нем цилиндрической сменной опранкой из набора оправок различного ради! са, на которую установлена сборка кристаллов, закрепленных на боковой поверхности держателей этих кристаллов, выполненных в форме прямого параллелепипеда с прямоугольным вырезом для. стыковки с оправкой и соединенных между собой с возможностью перемещения гибкой лентой, пропущенной через паз, выполненный на боковой поверхности держателей кристаллов, противоположной поверхности крепления кристаллов.

133ООЬ

Составитель В.Простакова

Техред М.Ходанич

Редактор И.Шубина

Корректор С.Черни

Заказ 1058

Тираж 401

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская иаб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãîðoä, ул.Проектная, 4