Прибор конденсаторного типа для контроля чистоты поверхности

Прибор конденсаторного типа для контроля чистоты поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Юи 134435

СССР— -=

Класс 42b, )2а., /

l, а .@»:- / - 11 %

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Б. К. Щукин

ПРИБОР КОНДЕНСАТОРНОГО ТИПА ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ

Заявлено 31 декабря 1947 г, за лГ 361200 в Гостехнику СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» Хе 24 за 1960 r.

Известны приборы емкостного типа для,контроля чистоты поверхности, использующие контролируемую поверхность в качестве одной обкладки конденсатора, в то время как другая обкладка располагается под поверхностью на пластине диэлектрика, Отличительная особенность описываемого прибора состоит в том, что конденсатор выполнен из двух изолированных между собой и включенных в электрическую схему прибора металлических пластин, расположенных в одной плоскости параллельно контролируемой поверхности детали и индуктивно взаимодействующих между собой через эту деталь, Прибор такой конструкции обеспечивает контроль чистоты металлической поверхности без электрического включения испытываемой детали в цепь конденсатора.

Под контролируемым изделием может помещаться металлический лист для создания индуктивного взаимодействия между пластинами конденсатора при контроле чистоты поверхности изделий из диэлектрических материалов, например плоскопараллельных оптических стекол и т. п.

На фиг, 1 изображена схема описываемого устройства; на фиг. 2 — расположение пластин.

Конденсатор (щуп) прибора состоит из двух пластин и 2, расположенных в одной плоскости. При приближении пластин такого конденсатора к металлической поверхности 8 получаются как бы два последовательно соединенных конденсатора. Емкость первого из них определяется емкостью пластины по отношению к исследуемой поверхности, а емкость второго — аналогичной емкостью пластины 2. Таким образом, исследуемая поверхность играет роль вторых пластин одновременно для обоих конденсаторов.

При исследовании плоскости из диэлектрических материалов, например, плоскопараллельных стекол, под исследуемую поверхность подкладывается металлический лист, выполняющий роль вторых плас о ) 3.4ДЗ

l тин для конденсаторов. Чувствительность такого прибора увеличивается за счет того, что контролируемая величина а учитывается дважды (обоими конденсаторами) .

При контроле криволинейных по верхностей аналогичную кривизну придают конденсаторным .пластинам.

Обычно прибор для контроля металлических поверхностей и пластины 1 и 2 устанавливают на диэлектрике 4, по краям которого смонтированы стальные шарики б, опирающиеся на исследуемую поверхность 3.

Контроль емкости щупа осуществляется по интерференционному методу электронным прибором. Триод Л является генератором колебаний высокой частоты. В сеточную цепь триода включен резонансный контур, состоящий из постоянной индуктивности .1 и переменной емкости щупа С,-. В анодную цепь включена катушка Lz обратной связи, напряжение с которой через конденсатор С подается на управляющую сетку пентагрида Л, Первая и вторая сетки последнего использованы для второго генератора. В цепь первой сетки включен контур, составленный из постоянной индуктивности Lq и переменного конденсатора Сд, посредством которого второй генератор настраивается в резонанс с первым. В цепь второй сетки включена катушка L4 обратной связи, напряжение на которую подается через гасяще-развязываюшую ячейKg 7 С7.

При настройке первого генератора, вызванной изменением емкос и С,, в анодной цепи пентагрида появляются биения, которые через трансформатор Тр низкой частоты подаются на сетку лампы Л, выполняющей роль усилителя. В анодную цепь лампы Л :включается индикатор Т (телефонная трубка), тон которого .пропорционален отклонениям исследуемой поверхности от стандарта. Количественную и качественную оценку отклонений производят по настроенному конденсатору С5.

Пред м ет изоб ретения

1, Прибор конденсаторного типа для контроля чистоты поверхности, отличающийся тем, что, с целью осуществления контроля чистоты металлической поверхности без электрического включения испытываемой детали в цепь конденсатора, последний выполнен из двух изолированных между собой и включенных в электрическую схему прибора металлических пластин, помещенных в одной плоскости параллельно контролируемой поверхности и индуктивно взаимодействующих между собой через контролируемую деталь.

2. Прибор для контроля чистоты поверхности по п, 1, о т л и ч а ющ-и йс я тем, что, с целью контроля чистоты поверхности изделий из диэлектрических материалов, например плоскопараллельных оптических стекол и подобных, для создания индуктивного взаимодействия между пластинами применен металлический лист, помещаемый под контролируемую деталь.

Фиг. Г

Составитель описания М. A. Хесин

Г

Редактор Л. М. Струве Техред А. А. Камышиикова Корректор С, Ю. @верина

Поди, к печ. 25.!Х-62 г, Формат бум. 70Х!08 />< Объем 0,26 изд. л.

5ак. 9596 Тираж 275 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6.

Типография ЦБТИ Москва Петровка, 14,