Зонд для проверки сигналов цифровых микросхем

Зонд для проверки сигналов цифровых микросхем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение позволяет расширить функциональные возможности устройства и повысить его быстродействие. Устройство содержит регулируемые источники 1 и 6 опорного напряжения, блоки 2, 3 и 5 сравнения напряжений, логический преобразователь 8, резистор 10 и индикатор 21. Введение блока 9 нагрузки, электронных ключей 11 и 13, блока 15 сравнения напряжений, логического преобразователя 20 и резисторов 12, 14, 16-19 позволяет контролировать высокоимпедансное состояние и применить форсированньй режим разряда паразитных емкостей. 12 ил. i (Л OQ 4 00 СЛ Фие

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1348759 А 1 (511 4 G 01 R 31/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4080120/24-21 (22) 19.06 ° 86 (46) 30.10.87. Бюл. У 40 (71) Харьковский политехнический институт им. В.И.Ленина (72) А.И.Кордюмов (53) 621.317.799 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 1228055, кл. С 01 R 31/28, 1985.

Авторское свидетельство СССР

У 513330, кл. С 01 R 31/28, 1974. (54) ЗОНД ДЛЯ ПРОВЕРКИ СИГНАЛОВ ЦИФРОВЫХ HHKPOCXEM (57) Изобретение позволяет расширить функциональные воэможности устройства и повысить его быстродействие.

Устройство содержит регулируемые источники 1 и 6 опорного напряжения, блоки 2, 3 и 5 сравнения напряжений, логический преобразователь 8, резистор 10 и индикатор 21. Введение блока 9 нагрузки, электронных ключей 11 и 13, блока 15 сравнения напряжений, логического преобразователя 20 и резисторов 12, 14, 16-19 позволяет контролировать высокоимпедансное состояние и применить форсированный режим разряда паразитных емкостей.

12 ил.

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ,;„:

134

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проверке цифровых устройств.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей, повышение быстродействия за счет контроля высокоимпедансного состоя— ния и применения форсированного режима разряда паразитных емкостей.

На фиг.1 представлена функциональная схема зонда, состоящего иэ первого регулируемого источника 1 опорного напряжения, выходом соединенного с первым входом первого блока 2 сравнения напряжений, второй вход которого подключен к второму входу блока 3 сравнения напряжений, к щупу 4 и к первому входу блока 5 сравнения напряжений, второй вход которого соеди— нен с выходом второго регулируемого источника 6 опорного напряжения.

Вход 7 теста нагрузки соединен с первым входом логического преобразователя 8 и с первым входом блока 9 нагрузки. Второй и третий входы логического преобразователя 8 соединены соответственно с прямым и инверсным выходами блока 3 сравнения напряжений, а четвертьп вход логического преобразователя 8 подключен к второму м:тходу блока 9 нагрузки. Щуп 4 соединен через резистор 10 с выходом первого электронного ключа 11, непосредственно подключен к первому выводу резистора 12 н к входу второго электронного ключа 13, выход которого через резистор 14 соединен с вторым выводом резистора 12, с входом первого электронного ключа 11,с первым выходом бло .а 9 нагрузки, второй вход которого подключен к входу управления первого электронного ключа !1 и к первому выходу логического преобраэовате— ля 8 ° Третий вход блока 9 нагрузки соединен с входом управления второго электронного ключ» 13 и с вторым выходом логического преобразователя 8.

Вход второго электронного ключа 13 соединен с первым входом блока 15 сравнения напряжений, второй вход которого через резистор 16 подключен к первому выходу блока 9 нагрузки, а через резистор 17 — к первому входу блока 3 сравнения напряжений, который в свою очередь через резистор 18 подключен к шине питания, а через резистор 19 сое1пп ен с общей шиной. Выход

8759

55 блока 15 сравнения напряжений соединен с первым входом логического преобразователя 20, четвертый вход которого подключен к входу 7 теста нагрузки, второй вход соединен с выходом 5лока 2 сравнения напряжений, а третий вход подключен к выходу блока 5 сравнения напряжений. Выходы логического преобразователя 20 соединены с входами индикатора 21 и с логическими выходами 22 зонда.

На фиг.2 представлен один из возможных вариантов блока 9 нагрузки, выполняющий операции, требующиеся для работы устройства. Блок 9 нагруэкр состоит из нести резисторов, диода, транзистора и инвертора с открытым коллектором 23, входом соединенного с первым входом блока 9 нагрузки, а выходом подключенного к второму выходу блока 9 нагрузки непосредственно, а через резистор 24 — к первому выходу блока 9 нагрузки и к коллектору транзистора 25, база которого через резистор 26 соединена с третьим входом блока 9 нагрузки. Эмиттер транзистора 25 через резистор 27 соединен с шиной питания, которая через резистор 28 подключена к первому выходу блока 9 нагрузки, который, в свою очередь, через резистор 29 подключен к общей шине, а непосредственно соединен с анодом диода 30, катод которого через резистор 31 соединен

< вторым входом блока 9 нагрузки.

На фиг.3 представлен пример реализации логического преобразователя 8, < остоящего из элемента И-НЕ 32, первым входом соединенного с четвертым входом логического преобразователя 8, вторым входом подключенного к второму входу логического преобразователя 8, а выходом соединенного с первым выходом логического преобразователя 8, и элемента И-НЕ 33, первым входом соединенного с первым входом логического преобразователя 8, вторым входом подключенного к третьему входу логического преобразователя 8, а выходом соединенного с вторым выхо,цом логического преобразователя 8.

В качестве электронных ключей 11 и 13 могут быть использованы, напри«ер, транзисторы р-и-р типа, при этом коллектор транзистора 34 (фиг.4) соединен с выходом электронного ключа 11, эмиттер подключен к входу электронного ключа 11, а база через базовый ре3 13 зистор 35 соединена с входом управления электронного ключа 22, эмиттер транзистора 36 (фиг.5) соединен с входом электронного ключа 13, коллектор подключен к выходу электронного ключа 13, а база через базовый резистор 27 соединена с входом управления электронного ключа 13.

В качестве логического преобразователя 20 может быть использовано, например, ПЗУ, выполняющее роль преобразователя кода — реакции зонда на входное воздействие в код, удобный для визуализации индикатором 21 и для регистрации информации с логических выходов 22.

Регулируемые источники 1 и 6 опорного напряжения регулируются следующим образом. Регулируемый источник 1 опорного напряжения регулируется так, чтобы напряжение на его выходе равнялось максимально допустимому верхне,о му значению логиче ского нуля С,„,„,.

Регулируемый источник 6 опорного напряжения регулируется так, чтобы напряжение на его выходе равнялось минимально допустимому нижнему значению

1 логической единицы U Ä„ .

На вход 7 теста нагрузки подают псевдослучайные тесты синхронно с по— дачей на входы объекта диагностирования многоразрядных кодовых наборов.

На вход 7 теста нагрузки могут подаваться и детерминированные воздействия, подобранные в соответствии с ожидаемыми реакциями объекта диагностирования.

Работу зонда для проверки сигналов цифровых микросхем рассмотрим HH примере ТТЛ элементов.

На фиг.6 изображен выходной каскад элемента ТТЛ. В состоянии логического нуля транзистор 38 закрыт, транзистор 39 открыт. В состоянии логической единицы транзистор 38 открыл, транзистор 39 закрыт. В высокоимпедапсном состоянии транзисторы 38 и 39 закрыты.

В предлагаемом устройстве оценку логического нуля по уровню напряжения производит блок 2 сравнения напряжений, на первый вход которого подают верхнее допустимое значение напряжео ния логического нуля U а на второй вход — сигнал с проверяемого выхода объекта диагностирования. Оценку логической единицы по уровню напряжения про.,зводит блок 5 сравнения

48759 напряжений, на второй вход которого подают нижнее допустимое значение наI пряжения логической единицы U „„, а

55 на первый вход — сигнал с проверяемоro выхода объекта диагностирования.

Сравнение сопротивления проверяемого выхода в высокоимпедансном состоянии с минимально допустимой величиной производится блоком 15 сравнения напряжений с помощью сравнения падений напряжений на резисторах 12 и 16 при закрытых электронных ключах 11 и 13. Резисторы 16-19 представляют собой эталонный безынерционный целитель напряжения. Значения сопротивлений этих резисторов выбирают так, чтобы отношение сопротивления резистора 12 к минимально допустимому сопротивлению выхода в высокоимпедансном состоянии относительно общей шины равнялось отношению сопротивления резистора 16 к сумме сопротивлений резисторов 17 и 19, а отношение сопротивления резистора 12 к минимально допустимому сопротивлению выхода в высокоимпедансном состоянии относительно шины питания равнялось отношению сопротивления резистора 16 к сумме сопротивлений резисторов 17 и 18.

Оценку сопротивления выхода в высокоимпедансном состоянии относительно общей шины проводят при высоком значении напряжения нагрузки. При этом во внимание принимаются две параллельные цепочки, одну из которых составляет резистор 12 и закрытый транзистор 39 проверяемого выходного каскада, а вторую — резистор 16 и последовательно соединенные резисторы 17 и 19. При сопротивлении закрытого транзистора 39, превышающем минимально допустимое значение, потенциал щупа 4 будет выше потенциала первого входа блока 15, что будет зафиксировано блоком 15 сравнения напряжений.

Недостаточно высокое сопротивление закрытого транзистора 39 приведет к тому, что потенциал щупа 4 будет ниже потенциала первого входа блока 15.

Оценку сопротивления выхода в высокоимпедансном состоянии относительно шины питания производят при низком значении напряжения нагрузки. При этом во внимание принимаются две параллельные цепочки, одну из которых сосьавляют резистор !2 и закрытый транзистор 38 проверяемого выходного каскада, а вторую — резистор !5 и по1348759 следовлтельно соединенные резисто ры 17 и 18. При сопротивлении закрытого трлнэисторя 38, превышающем минимально допустимое значение, потен5 циял шупл 4 будет ниже потенциала первого входя блока 15, что будет зафиксировано блоком 15 сравнения напряжений. Недостаточно высокое сопротивление закрытого транзистора 38

10 приведет к тому, что потенциал щупа 4 будет выше потенциала первого входа блока 15.

Р> существующих устройствах точ— ность измерения сопротивления высокоимпедянсного состояния находится в противоречии с быстродействием. При фиксированной чувствительности блока 15 сравнения напряжений повысить точность измерения можно увеличением до некоторой с.тепени сопротивления резистора 12, »о при этом затрудняется перезаряд паразитных емкостей выходного каскада объекта диагностирования, что приводит к понижению быстро,цействия. Для уменьшения упомянутого противоречия приняты меры по форсированному перезаряду паразитных емкостей, которые осуществляются с помощью блока 3 сравнения напряжений, логического преобразователя 8, блока 9 нлгрузки, резисторов 10, 14 и 17, электронных ключей 11 и 13.

Предположим в исходном состоянии проверяемый выход находится в высоко35 импедансном состоянии, при котором трлнзисторы 38 и 39 закрыты, а блок 9 нлгрузки выдлет низкий уровень напряжения ня выходе (Ьиг.7). Допустим в момент времени t на входы объекта диагностирования подают многоразрядный ко>новый набор, реакцией проверяе— мого выходя на который также является высокоимпенцлнсное состояние. Одновременно нл вход 7 теста нагрузки подают воздействие, которое создаст ня выходе блока 9 нагрузки высокий уровень напряжения. В течение интервала времени t -t, блок 9 нагрузки обрябятывлет входное воздействие и

50 после завершения переходных процес— сов к моменту времени t> выдает высокий уровень нлпряжения на выходе (кривая 40 нл фпг.7). При отсутствии формирующих цепей, которые составляют

55 резисторы !О и 14 и электронные ключи 11 и 13, .- ерезяряд пяразитных емкостей пронеряемого вь.хода объекта диягнсc tnðîn,.нпя происходит через резистор 12 с постоянной времени, определяемой величиной этого резистора и собственными цепями разряда (кривые 4! и 42 для исправного и неисправного высокоимпедянсного состояния соответственно).

Работа форсирующих цепеи происходит следующим образом. Одновременно с переходными процессами на выходе блока 9 нагрузки, завершаются переходные процессы на резисторе 17 безь..нерционного эталона высокоимпедансного состояния. В момент времени устанавливается критический потенциал <, на первом выводе резистора 17.

На несколько процентов ниже устанавливается потенциал <р на втором выводе резистора 17. При незавершенных г:,ереходных процессах на проверяемом выходе объекта диагностирования потенциал щупа 4 ниже потенциала второго вывода резистора 17, отчего блок 3 сравнения напряжений с прямого выхода выдает логическую единицу на второй вход логического преобразователя 8, которая совместно с логической единицей на четвертом входе логического преобразователя 8 создает на первом выходе логический ноль, который по входу управления открывает электронный ключ 11. Одновременно по второму входу блока 9 нагрузки логическ пi ноль обеспечивает ток через резистор 28, диод 30, резистор 31, шунтирующее действие которого снижает ня заданную величину высокий уровень напряжения на первом выходе блока нагрузки. Снижение высокого уровня напряжения ня выходе блока 9 нагрузки происходит до такой степени, чтобы при минимально допустимом значении сопротивления высокоимпедансного состояния и открытом электронном ключе 11 ня щупе установился потенцилл, приближающийся, но не достигающий критического потенциала первого вывода резистора 17. При этом происходит форсированный перезаряд паразитных емкостей проверяемого выхода объекта диагностирования с постоянной времени, определяемой сопротивлением резистора 12, параллельно подключенному ему резистора 10 с открытым элек.гронным ключем 11 и собственными цепями разряда (кривая 43 на фиг.7).

i3 момент времени tä потенциал щупа 4 сравнивается с потенциалом второго вывода резистора 17 и затем начинает

1348759

его превосходить. Блок 3 сравнения напряжений логическую единицу на прямом выходе изменяет на ноль, вследствие чего логической единицей с пер5 вого выхода логического преобразог»ателя 8 закрывается электронньп» ключ 11 и одновременно повышается напряжение на выходе блока 9 нагрузки. Отрезок времени t4 - равен времени срабаты- 10 вания блока 3 сравнения напряжений, логического преобразователя 8, блока 9 нагрузки и электронного ключа ll. После момента времени t5 начинается завершающая стадия переходного 18 процесса с постоянной времени, определяемой величиной сопротивления резистора 12 и собственными цепями разряда выходного каскада. Кривая 44 ха- . рактеризует переходной процесс ис- 20 правного высокоимпедансного состояния, а кривая 45 — неисправного (фиг.7). В момент времени t регистрируют результат анализа зондом состояния проверяемого выхода. Выше рас- 25 смотрена работа форсирующих цепей при оценке сопротивления высокоимпедансного состояния относительно общей шины. Аналогично происходит работа цепей форсирования переходных про- 30 цессов,при оценке сопротивления высокоимпедансного состояния относительно шины питания (фиг.8).

Проверка логического нуля. Предположим в исходный момент времени про35 веряемьп» выход объекта диагностирования находится в состоянии логического нуля, а блок нагрузки выдает низкий уровень напряжения.

Допустим в момент времени .»0 (фиг . 9) на входы объек та диа гно с тирования подают многоразрядный кодовый набор, которьй создаст на прогеряе— мом вьгходе состояние ло гическо го нуля. Одновременно на вход 7 теста .»a,»В грузки подают воздействие, которое создаст на выходе блока 9 нагрузки высокий уровень напряже.ия. Б течение интервала времени t -t блок нагрузки обрабатывает поступившее воздействие и после завершения переходных процессов к моменту времени выдает высокое значение напряжения нагрузки, при котором открытьй транзистор 39 (ф»»г.б) проверяемого выходного каскада нагружает=я максимально допустимым током по цепи: первый выход блока 9 нагрузки, открытый электронньй ключ 11, резистор 10, частично через резистор 12, щу» 4, открытый транзистор 39, обшая шина. Б данной ситуации электрош»ый к» юч 11 открьгг логическим нулем с выхода первого логического преобразователя 8. В момент времени t на щупе присутству » ет низкий уровень напряжения, вызванный логическим нулем па проверяемом выходе, а на втором выводе резистора 17 имеет место высокий потенциал, вызванньп» высоким уровнем напряжения на выходе блока 9 нагрузки. Такое сочетание рассматривается блоком 3 сравнения напряжений и логическим преобразователем 8 как незавершенньп» переходньп» процесс, которые принимают меры для форсированного перезаряда паразитных емкостей. Но в данном случае это состояние стабильно и упомянутые выше меры нагружают выходной каскад максимально разреше»»ным током.

В момент времени t> под воздействием максимальной нагрузки уровень сигнала проверяемого выхода несколько повышается, но для исправного выхода он не о должен превышать U „, что определяет блок 2 сравнения напряжений. На втором, третьем, четвертом и первом входах логического преобразователя 20 будет присутствовать кодовьй набор

1100 соответственно, что депгифрируется как качественньй логический ноль, проверенньй под нагрузкой и регистрируется в момент времени

Проверка логической единицы. Предположим в исходньп» момент времени проверяемьп» выход объекта диагностирования находится в состоянии логической единицы, а блок 9 нагрузки выдает высокий уровень напряжеш»»».

Допустим в момент времени t„ (фиг.10) на входы объекта диагностирования подают многоразряд»пп» кодовый набор, который создаст на проверяемом выходе состоян»»е логической единицы.

Одновременно на вход 7 тест» »»агрузки подают воздействие, которое создаст на выходе блока 9 нагрузки низкий уровень напряжения. В течение ингервала времени t„-t,, блок нагрузки обрабатьпзает входное возле»»ств»»е и после заверше»»ия перех«дп»»х процессов к моменту времени t выдает низкое значение напряжения нагрузки,при котором открытьп» трапа»»стор 38 проверяемого выходного каскад» нагружается максимально разрешен »»»м током по цепи: источник питаьч»я объекта ди1348759

50 агностирования, открытый транзистор 38, выход объекта диагностирования, щуп 4, открытый электронный . ключ 13, резистор 14, частично через

5 резистор 12, выход блока нагрузки, общая шина. В момент времени t, на щупе присутствует высокий уровень напряжения, вызванный логической единицей на проверяемом выходе, а на втором выводе резистора 17 имеет место низкий потенциал, вызванный низким уровнем напряжения на выходе блока 9 нагрузки. Такое сочетание потенциалов рассматривается блоком 3 срав- 15 нения напряжений и логическим преобразователем 8 как незавершенный переходный процесс, в результате чего на первом и втором выходах логического преобразователя 8 присутствует код 10,20 который открывает электронный ключ 13 и закрывает электронный ключ 11. В момент времени t<> под воздействием максимально допустимого тока нагрузки уровень сигнала проверяемого вы- 25 хода несколько понижается, но для исправного выхода он не должен опуститьI ся ниже 11„„„, т.е. ниже уровня, который регистрирует блок 5 сравнения напряжений. На втором, третьем, четвер- 30 том.и первом входах логического преобразователя 20 будет присутствовать код 0011, что дешифрируется как качественная логическая единица, проверенная под нагрузкой, и регистрируется в момент времени t< ..

Проверка сопротивления выхода в высокоимпедансном состоянии относительно общей шины. Предположим в исходный момент времени проверяемый выход находится в состоянии логического нуля, при котором транзистор 38 закрыт, а транзистор 39 открыт (фиг.б), блок нагрузки выдает низкий уровень напряжения (фиг.ll). Допустим в момент времени t на входы объекта диагностирования подают многоразрядный кодовый набор, который создаст на проверяемом выходе высокоимпедансное состояние. Одновременно на вход 7 теста нагрузки подают воздействие, которое создаст на выходе блока нагрузки высокий уровень напряжения.

В течение интервала времени блок нагрузки обрабатывает поданное воздействие и после завершения переходных процессов к моменту времени

t выдает высокий уровень напряжения на выходе. Переход из состояния логического нуля в высокоимпедансное состояние заключается в том, что транзистор 39 (фиг. 6) из открытого состояния переходит в закрытое состояние, а транзистор 38 остается закрытым. В течение интервала времени t< -tù идет обработка поданного на входы объекта диагностирования многоразрядного кодового набора и в момент времени t ä проверяемый выход начинает переходить в высокоимпедансное состояние. При этом прекращается поступление тока в базу транзистора 39. Быстрому перезаряду емкости база-эмиттер транзистора 39 способствует ток нагрузки коллектор-эмиттер транзистора 39 от блока нагрузки с высоким уровнем напряжения на выходе. Этим достигается быстрый переход транзистора 39 в закрытое состояние и, как следствие, повьппение быстродействия при проверке выходов с тремя устойчивыми состояниями. После завершения переходных процессов потенциал щупа 4 при исправном высокоимпедансном состоянии будет вьппе потенциала первого вывода резистора 17, что фиксирует блок 15 сравнения напряжений. На втором, третьем, четвертом и первом входах логического преобразователя 20 будет присутствовать код 0010 соответственно, что дешифрируется как качественное сопротивление высокоимпе-, дансного состояния относительно общей шины и регистрируется в момент времени t . При некачественном высокоимпедансном состоянии на входах логического преобразователя 20 будет код 1010.

Проверка сопротивления выхода в высокоимпедансном состоянии относительно шины питания. Предположим в исходном состоянии проверяемый выход находится в логической единице, при которой транзистор 38 (фиг.б) открыт, транзистор 39 закрыт, а блок 9 нагрузки выдает на выходе высокий уровень напряжения (фиг.12).

Допустим в момент времени t на входы объекта диагностирования подают многоразрядный кодовый набор, который создаст на проверяемом выходе высокоимпедансное состояние. Одновременно на вход 7 теста нагрузки подают воздействие, которое создаст на выходе блока 9 нагрузки низкий уровень напряжения. В течение интервала времени t,-t блок 9 нагрузки обрабатываl2

48759

11 13 ет входное ноздействие и после завершения переходных процессон к моменту времени С выдает низкий уровень напряжения на выходе. Переход из состояния логической единицы в высокоимпедансное состояние заключается в том, что транзистор 38 (фиг.б) выходного каскада иэ открытого состояния переходит н закрытое состояние, а транзистор 39 остается закрытым. В течение интервала времени С -t идет обработка поданного на входы объекта диагностирования многоразрядного кодового набора, в момент времени проверяемый выход начинает переходить в высокоимпедансное состояние. При этом прекращается поступление тока в базу транзистора 38, Быстрому переэаряду паразитной емкости база-эмиттер транзистора 38 способствует ток нагрузки коллектор-эмиттер транзистора 38 на выход блока нагрузки с низким уровнем напряжения. В момент времени t выходной каскад переходит в высокоимпедансное состояние. Оценку сопротивления выхода в высокоимпедансном состоянии относительно шины питания проводят при низком значении напряжения выхода блока 9 нагрузки.

При этом во внимание принимаются дне параллельные цепочки, одну из которых составляют резистор 12 и закрытый транзистор 38 выходного каскада в ны1 сокоимпедансном состоянии, а вторую.— резистор 16 и последовательно соединенные резисторы 17 и 18. При сопротивлении закрытого транзистора 38, превышающем минимально установленную норму, потенциал щупа 4 будет ниже потенциала первого вывода резисто— ра 17. Недостаточно высокое сопротивление закрытого транзистора 38 приведет к превьппению потенциала щупа 4 над потенциалом первого вынода резистора 17, что будет зафиксировано блоком 15 сравнения напряжений. При исправном высокоимпедансном состоянии на втором, третьем, четвертом и первом входах логического преобразователя 20 будет присутствовать код 1001 соответственно, который дешифрируется как качественное сопротивление высокоимпедансного состояния относитель— но шины питания и регистрируется в момент времени t . При некачестнен25 ном высокоимпедансном состоянии на входах логического преобразователя 20 будет код 0001.

Описанные сочетания состояний проверяемого выхода и уровней напряжения на выходе блока нагрузки обеспечивают проверку логических уровней под нагрузкой и динамичную проверку высокоимпедансного состояния относительно общей шины и шины питания. Другие сочетания упомянутых событий не обеспечивают полноценной проверки состояний выходов, но и не дают реэультатон, отличающихся от результатов проверки эталонного устройства.Рассмотрим некоторые такие случаи.

Переход проверяемого выхода в состояние логической единицы при высоком уровне напряжения на выходе блока 9 нагрузки. В этом случае зонд ведет себя так же, как при проверке сопротивления высокоимпедансного состояния относительно общей шины. Малое сопротивление открытого транзистора 38 (фиг.б) определяет быстрое завершение переходных процессов.

Переход проверяемого выхода из логической единицы в высокоимпедансное состояние при высоком значении напряжения на выходе блока 9 нагрузки. Зонд ведет себя так же, как при проверке сопротивления высокоимпедансного состояния относительно общей шины. Переходный процесс не форсируется. Незавершенность переходного процесса на проверяемом выходе объекта диагностирования создает для зонда эффект пре-. вьппения сопротивлением высокоимпедансного состояния минимально допустимой нормы, т.е. не искажает результаты проверки эталонного устройства.

Переход проверяемого выхода в состояние логического нуля при низком уровне напряжения на выходе блока 9 нагрузки. Логический ноль под нагрузкой не проверяется. Малое сопротивление открытого транзистора 39 (фиг.б) вызывает быстрое завершение переходных процессов на проверяемом выходе объекта диагностирования.

Переход проверяемого выхода из логического нуля в нысокоимпедансное состояние при низком значении напряжения на выходе блока 9 нагрузки.

Зонд ведет себя так же, как при проверке, сопротивления высокоимпедансного состояния относительно шийы питания, но переходньж процесс не форсируется и состояние блока 2 сравнения напряжений зависит от степени завершенности переходного процесса. Для

) 348159 14

2С устранения неоднозначности реакции зонда предназначено соединение входа 7 теста нагрузки с первым входом логического преобразователя 20, которое блокирует в преобразователе 20 сигнал блока 2 сравнения напряжений при низком значении напряжения на выходе блока 9 нагрузки. Незавершенность переходного процесса на проверяемом выходе объекта диагностирования создает для зонда эффект превышения сопротивлением высокоимпедансного состояния минимально допустимой нормы, т.е. не искажает результаты проверки эталонного устройства.

Формула изобретения

Зонд для проверки сигналов цифровых микросхем, содержащий первый резистор, индикатор, щуп, первьп логический преобразователь, три блока сравнения напряжений, два регулируемых источника опорного напряжения, первый из которых соединен выходом с первым входом первого блока сравнения напряжений, второй вход которого соединен со щупом и первым входом второго блока сравнения напряжений, с первым входом третьего блока сравнения напряжений, второй вход которого соединен с выходом второго регилуремого источника опорного напряжения, первый вывод первого резистора соединен с клеммой для подключения источника напряжения, первый логический преобразователь соединен первым входом с выходом второго блока сравнения напряженир, вторым входом - с выходом первого блока сравнения напряжений, третьим входом — с выходом третьего блока сравнения напряжений, выходы первого логического преобразователя соединены с входами индикатора, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения быстродействия, в него введены второй, третий, чет2с>

3 1

3!i

45 вертый, пятьй, шестой и седьмой резисторы, два электронных ключа, блок нагрузки, четвертьп блок сравнения напряжений, второй логический преобразователь, вход теста нагрузки зонда, соединенный с первым входом второго логического преобразователя,с четвертым входом первого логического преобразователя, с первым входом блока нагрузки, первый выход которого соединен с входом первого электронно. гс ключа, с первым выводом второго резистора, с первым выводом третьего резистора, с первым выводом четверто. гс резистора, второй вывод третьего резистора соединен с вторым входом второго блока сравнения напряжений и с первым выводом пятого резистора, второй вывод которого через шестой резистор соединен с общей шиной, через первый резистор соединен с шиной питания, а непосредственно соединен с первым входом четвертого блока г сравнения напряжений, второй вход которого соединен со щупом, а прямой и инверсный выходы соединены соответственно с вторым и третьим входами второго логического преобразователя, четвертьп вход которого соединен с вторым выходом блока нагрузки, второй вход которого соединен с первым выходом второго логического преобразователя и с входом управления первого электронного ключа, третий вход блока нагрузки соединен с вторым выходом второго логического преобразователя и с входом управления второго электронного ключа, выход которого соединен с вторым выводом четвертого резистора, вход второго электронного ключа через седьмой резистор соединен с выходом первого электронного ключа, а непосредственно соединен с первым входом второго блока сравнения напряжений, логические выходы зонда соединены с выходами первого логического преобразователя, второй вывод второго резистора соединен со щупом.

1348759

) 348759

Рие. 7

1348759

93ие. 8 11 trz t (Pue. 1Î

1348759

tg eg y

4е и а о

Еи

Т

9иан

Составитель А. Коробков

Редактор 1О.Середа Техред Л.Сердюкова Корректор Л.Патай

Заказ 5186/45 Тираж 729 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4