Устройство для измерения характеристик рассеивающего слоя

Устройство для измерения характеристик рассеивающего слоя

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к физической оптике, а именно к измерению двух констант светорассеяния, которые определяют распределение в пятне размытия, образующегося при прохождении ограниченного пучка света.через слой рассеивающей среды: - перепад яркости на геометрической границе освещающего пучка; 5„- показатель спада яркости в пятне размытия. Констанi сл 00 ел о ел о: ел

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (191 (11) А1

C5D4G01 N 21 47

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К A ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2 ф

13

0 11

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA (21) 3937940/24-25

«(22) 07.06.85 (46) 07.11.87. Бюл. 1(« 41 (72) Л.Д.Блинова и Н.А.Войшвилло (53) 535.24 (088,8) (56) Истомин Г.А. Разрешающая способность и резкость фотографического изображения. — Техника кино и телевидение, 1961, 5, Р 2, с. 1.

Иванов А.П.Световой режим в мутной среде при освещении ее узким пучком радиации. — Оптика и спектроскопии, 1965, 18, У 4, с. 698. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК РАССЕИВАКФ(ЕГО СЛОЯ (57) Изобретение относится к физической оптике, а именно к измерению двух констант светорассеяния, которые определяют распределение в пятне размытия, образующегося при прохождении ограниченного пучка света. через слой рассеивающей среды: р - перепад яркости на геометрической границе освещающего пучка; Е„- показатель спада яркости в пятне размытия. Констанвходной поверхности рассеивающего слоя проектируется изображение диафрагмы 3. Изменением диаметра ирисовой диафрагмы 3 на образце создаются требуемые диаметры освещающего пучка. Благодаря перемещению каретки с расположенными на ней зеркалом

8, объективом 5 и сменными диафрагмами 8 в направляющих параллельно поверхности рассеивающего слоя освещающий пучок перемещается по поверхности рассеивающего слоя. 1 ил.

1350565 ты и Е,„ определяются на основе из- мерения зависимости яркости прошедшего излучения в функции расстояния от оси освещающего пучка. Целью изобретения является повышение точности измерений. Источник света 1 с помощью конденсора 2 освещает ирисовую диафрагму 3, расположенную в фокусе объектива 4. После объектива 4 параллельный пучок света, отразившись от зеркал 7 и 8, падает на объектив 5, в фокальной плоскости которого на

Изобретение ртносится к физической оптике, конкретно к измерению оптических характеристик рассеивающих материалов, и предназначено для из мерения характеристик рассеивающего 5

zëîÿ на основе измерения зависимости потока излучения, прошедшего через рассеивающий слой, от расстояния между осью освещающего пучка и точкой измерения, и может быть использовано в лабораториях при научных исследо ваниях.

Целью изобретения является повышение точности определения характеристик сильно рассеивающего слоя.

На чертеже изображена оптическая система устройства.

Устройство состоит из источника 1, конденсора 2, ирисовой диафрагмы 3, расположенной в фокусе объектива 4.

В фокальной плоскости объектива 5 расположен рассеивающий слой 6. Зеро кала 7 и 8 расположены между объеко тивами 4 и 5 под углом 45 к оптической оси. Зеркало 8 и объектив 5 укреплены на каретке, которая может перемещаться в направляющих 9 параллельно поверхности рассеивающего слоя

6. За измеряемым рассеивающим слоем б расположена приемная система — измерительный узел, состоящий из объектива 10, в фокусе которого находится диафрагма 11 перед фотоумножителем

f2. На входе измерительного узла 35 вплотную к объективу 10 расположена диафрагма 13. Оптическая ось приемной системы перпендикулярна к поверхности рассеивающего слоя 6.

Устройство работает следующим образом.

Источник 1. света с помощью кондепсора 2 освещает ирисовую диафрагму 3, расположенную в фокусе объектива 4. После объектива 4 параллельный пучок света, отразившись от зеркал 7 и 8, падает на объектив 5, в фокальной плоскости которого на входной поверхности рассеивающего слоя проектируется изображение диафрагмы 3. Изменением диаметра ирисовой диафрагмы 3 на образце создаются требуемые диаметры освещающего пучка, Благодаря перемещению каретки с расположенными на ней зеркалом 8 и объективом 5 в направляющих 9 параллельно поверхности рассеивающего слоя освещающий пучок перемещается по поверхности рассеивающего слоя.

При этом благодаря предложенной оптической схеме диаметр освещающего пучка на поверхности рассеивающего слоя не меняется. За рассеивающим слоем расположена неподвижная приемная система, входная диафрагма 13 которой устанавливается вплотную к рассеивающему слою,. Излучение, прошедшее через рассеивающий слой 6, диафрагму 13, объектив 10 и диафрагму 11 падает на приемник 12 излучения,.Приемная система работает по телецентрическому методу и регистрирует значения, пропорциональные яркости вошедшего в нее излучения в направлении, перпендикулярном к поверхности рассеивающего слоя в малом теD D лесном угле (tg — —, = — — где D—

2f 2X

1350565 обеспечивает малый телесный угол, в котором распространяется излучение °

Формула и э обретения

Согласно теории телецентрического метода приемной системой измеряется сила света I вошедшего в нее излучения. Однако установленная перед приемником постоянная диафрагма приемной системы обеспечивает пропорциональность регистрируемого сигнала а яркости L рассеянного излучения, так как а I =ЕЙ, где 6 — площадь постоянной диафрагмы. Кроме того, постоянная диафрагма приемной системы

Составитель Ю.Гринева

Техред Л.Сердюкова

Корректор И,Муска

Pедактор Л.Гратилло

Заказ 5278/43

Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5!

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 диаметр диафрагмы 13; f — .заднее фо- . кусное расстояние объектива 10). Благодаря диафрагме 13 регистрируемая яркость соответствует излучению вхоУ

5 дящему с малого участка поверхности слоя 6.

В процессе измерений освещающий пучок перемещается по поверхности рассеивающего слоя благодаря перемещению в направляющих 9 каретки с расположенными на ней зеркалом 8 и объективом 5 и, следовательно, меняется расстояние 1 между осями освещающего пучка и приемной системы. При 15 каждом фиксированном значении 1 производится снятие соответствующего этому значению 1 сигнала приемника излучения. Таким образом измеряется поточечно зависимость яркости от рас- 20 стояния 1, т.е. требуемое распределение яркости в пятне размытия.

Устройство для измерения характеристик рассеивающего слоя, содержащее последовательно расположенные источник света, оптическую систему формирования освещающего пучка, включающую диафрагму и объектив, и приемную систему, включающую приемник излучения, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, в оптическую систему формирования освещающего пучка дополнительно введены два поворотных зеркала и"объектив, а в приемную систему введены объектив, установленный перед приемником излучения на расстоянии, равном его фокусному расстоянию, и диафрагма, расположенная непосредственно перед объективом, поворотные зеркала расположены между объективами оптической системы формирования освещаю0 щего пучка под углом 45 к оси освещающего пучка, при этом вторые по ходу освещающего пучка поворотное зеркало и объектив оптической системы формирования освещающего пучка расположены на каретке, снабженной средством перемещения перпендикулярно оси освещающего пучка.