Способ определения толщины диэлектрического материала

Способ определения толщины диэлектрического материала

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к технике СЕЧ. Повышение точности измерений достигается благодаря уменьшению влияния зависимости эл. длины изме- .рительного и опорного трактов от времени за счет дополнительных калибровочных измерений. Устр-во, реализую щее сп -б, содержит управляемый г-р 1 , делитель 2 мощности, частотомер 3, линию 4,задержки с распределенными параметрами, время задержки к-рой равно 4t, переключатель 5, имеющий два входа а, б и два выхода в, г, рупорные антенны 6 с защитными тинами 7, опорную линию 8 передачи, переключатель 9, имеющий два входа д, е и один выход, опорную линию 10 передачи, фазометр 11. ил. S (Л СА5 СП | оо о 00

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„, 1 57808 А1 (51)4 G 01 N 22 00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АBTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3823463/24-09 (22) 11,12,84 (46) 07,12.87, Бюл, 11 45 (72) В.А,Таран, 10.А,Скрипник, В.И.Водотовка и Л.А,Глазков (53) 621.317.341.3 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

857799, кл. G 01 N 21/41, 1981.

Авторское свидетельство СССР

У 901890, кл. G 01 N 22/00, 1982. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛА (57) Изобретение относится к технике СВЧ. Повышение точности измерений достигается благодаря уменьшению влияния зависимости эл. длины изме.рительного и опорного трактов от времени эа счет дополнительных калибровочных измерений. Устр-во, реализую щее сп-б, содержит управляемый г-р 1, делитель 2 мощности, частотомер 3, линию 4, задержки с распределенными параметрами, время задержки к-рой равно d t переключатель 5, имеющий два входа а, б и два выхода в, г, рупорные антенны 6 с защитными плас тинами 7, опорную линию 8 передачи, переключатель 9, имеющий два входа д, е и один выход, опорную линию 10 передачи, фазометр 11. 1 ил.

135780Я где с - скорость света в вакууме

5 ь относителен,ная диэлектрическая прони1 аемость; и = 1,2...,, муле

f с

Г С (( (Я I скорость с эета в вакууме; относитель яая диэлектричесгде с

E„„ кая проницаемость диэлектрического ма гериала;

1,2...,.

Составитель Е.Адамова

Техред Q,Дидык

Корректор А.Зимокосов

Редактор Г1,Гереши

Заказ 5990/42

Тираж 77б Г1одпи св ое

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ч(-35„ Раушская наб,, д,4/5

Производственно.-полиграфическое предприятие, г,Ужгород, ул.Проектная, 4

Изобретение относится к технике

СВЧ и может быть использовано для контроля то ш2ины диэлектрического материала °

Цель изобретения — повышение точ-ности измерений, На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства для реализации способа определения тол-щины диэлектрического материала.

Устройство содержит управляемый генератор 1, делитель 2 мощности, частотомер 3, линию 4 задержки с распределенными параметрами, время задержки которой равно 3С, переключатель 5, имеющий два входа а, б и два выхода в, г, рупорные антенны б с защитными пластинами 7, опорную ли.нию 8 передачи, переключатель 9, имеющий два входа д, 1 и один выход, опорную линию передачи 10, фазо " метр 11, Устройство для реализации спосо-ба определения толщины диэлектричес.- 25 кого материала работает следующим образом, С помощью переключателя 5 вход б подключают к выходу г, а переключа.телем 9 — вход д к выходу. Измеряют 30 частоту f на частотомере 3 и начальную фазу о фаэометра 11, Помещают диэлектрический материал между пластинами 7 рупорных антенн б, С помощью переключателя 5 поцключают вход а. к выходу г, Изменяют частоту сигнала до значения Г,, при котором показания фаэометра 11 совпадают с начальной фазой у С помощью перек-лючателя 9 подключают вход е к выхо- 20 ду, а переключателем 5 — вход а к выходу в, Изменяют частоту сигнала до значения f2, при котором фаза фазометра 11 совпадает с начальной фа-1 зой,. Далее рассчитывают толщину 0 диэлектрического материала по форму-ле

Повышение точности измерений достигается благодаря уменьшению влияния зависимости электрической длины измерительного и опорного трактов от времени за счет дополнительных калибровочных измерений, Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я

Способ определения толщины диэлектрического материала, заключающийся в измерении начальной электрической длины измерительного тракта и частоты слгнала в измерительном тракте f» размещении диэлектрического материала в измерительном тракте, измерении частоты f» при которой электрическая длина измерительного тракта совпадает с начальной электрической длиной, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повьппения точности измерений, дополнительно измеряют частоту f при которой электрическая длина измерительного тракта при задержке сигнала на время в отсутствии диэлектрического материала совпадает " начальной электрической длиной, а толщину диэлектрического материала определяют по фор