Устройство для испытания тензорезисторов при низких температурах в магнитном поле

Устройство для испытания тензорезисторов при низких температурах в магнитном поле

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике контроля деформаций и применяется для испытаний тензорезисторов, предназначенных для измерения деформаций при низких температурах в магнитном поле. Целью изобретения является повышение точности измерений, увеличение диапазона упругих деформаций пьезозлемента при его неизменных размерах за счет повышения однородности его напряженного состояния. Для этого пьезоэле-. мент 8 выполнен в виде кольца с перемычкой 9 в виде пластины, установленной перпендикулярно оси тяг 6 и 11 с возможностью поворота вокруг оси ее симметрии. Перемычка мажет быть выполнена сменной. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

15И 4 Ст 01 В 7/18 ф " +< ;1 ъ, б

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTQPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ е . 1д

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4052768/25-28 (22) 09.04.86 (46) 23.02.88. Вюл. У 7 (72) Л.Л.Дубровин, М.И.Денега и В.Ф.Бондарева (53) 531. 781. 2 (088. 8) (56) Walstrem P. Cryoqenus, 1975, Мау, s. 270. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ

В МАГНИТНОМ ПОЛЕ (57) Изобретение относится к измерительной технике контроля деформаций и применяется для испытаний тензорезисторов, предназначенных для измере„,Я0„„1375947 A 1 ния деформаций при низких температурах в магнитном поле. Целью изобретения является повыщение точности измерений, увеличение диапазона упругих деформаций пьезоэлемента при его неизменных размерах за счет повышения однородности его напряженного состояния. Для этого пьезоэле-. мент 8 выполнен в виде кольца с перемычкой 9 в виде пластины, установленной перпендикулярно оси тяг 6 и

11 с возможностью поворота вокруг оси ее симметрии. Перемычка может быть выполнена сменной. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

1375947

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике контроля деформаций, и применяется для испытаний тензорезисторов,предназначенных для измерения деформаций при низких температурах в магнитном поле.

Целью изобретения является повышение точности измерений, увеличение 10 диапазона упругих деформаций тензоэлемента при его неизменных размерах за счет повышения однородности его напряженного состояния.

На чертеже представлено предлагае- 15 мое устройство, разрез.

Устройство для испытания тензорезисторов содержит криостат 1,в котором размещен соленоид 2,установленный коаксиально последнему, кор- 20 пус 3, кожух 4, нагружающий механизм

5, соединенный через активную силовую тягу 6 и шарик 7 с нижней упорной площадкой тензоэлемента 8 для размещения тензорезисторов. Тензоэлемент 8 представляет собой кольцо с перемычкой 9, выполненной в виде пластины, на поверхность которой наклеены тензорезисторы 10, установленной с возможностью поворота вок- 30

pyr оси ее симметрии. Плоскость наклона перемычки в приведенном примере конкретного исполнения выполнена, перпендикулярной продольной оси соленоида 2, т.е. на тензорезисторы воздействует поперечное магнитное поле.С изменением угла наклона перемычки меняется и угол воздействия магнитного поля на тензорезисторы. 40

Верхней упорной площадкой тензоэлемент 8 опирается через шарик 7 на пассивчую силовую тягу 11, выполненную в виде трубы, соединенной с 45 корпусом 3. Тензоэлемент 8 соединен штоками 12 и 13, которые в верхней части выполнены в виде труб,с измерителем деформации — индуктивным датчиком 14, причем шток 12 — с сердеч- " 50 ником датчика, а шток,3 — с катушкой датчика 14. Внутренние полости

I корпуса 3 и кожуха 4 герметизированы с помощью сильфона 15 и прокладки 16. Нагружающий механизм выполнен в виде рычага и гирь. Перемычка 9 установлена перпендикулярно оси тяг

6 и 11 и может быть выполнена сменной с элементами крепления на концах.

Устройство работает следующим образом.

При подаче усилия от нагружающего механизма 5 через тягу 6 к тензоэлементу 8 последний деформируется, сжимаясь по вертикальной оси и одновременно увеличиваясь в размере по горизонтальной оси. При этом внутренняя перемычка 9 тензоэлемента 8 растягивается и деформирует накленные на перемычку тензорезисторы, находящиеся под воздействием магнитного поля, образуемого соленоидом 2. Причем магнитные силовые линии расположены перпендикулярно плоскости тензорезисторов.Тензоэлемент 8 может быть рассчитан таким образом, что на перемычку 9 передается половина сжимающего усилия, воспринимаемого тензоэлементом,что удобно для учета усилий. Деформация тензоэлемента измеряется датчи-. ком 14 посредством штоков 12 и 13.

Деформация перемычки 9 рассчитываются по деформации тензоэлемента по вертикальной оси. Для замены тензоэлемента корпус 3 с кожухом 4 и всем содержимым извлекают из криостата 1, снимают кожух 4 и извлекают. тензоэлемент.Сборка происходит в обратном порядке. При этом для удобства сборки тяга 6 на время сборки может быть подпружинена (пружина не показана. формула и з обретения

1. Устройство для испытания тензорезисторов при низких температурах в магнитном поле, содержащее криостат с соленоидом, установленным коаксиально последнему,нагружающий механизм, тензоэлемент для установки тензорезисторов, пассивную и активную силовые тяги для передачи усилия от нагружающего механизма к тензоэлементу и измеритель деформации тензоэлемента, о т л и ч а ющ е е с я тем,что,с целью повышения точности измерений, увеличения диапазона упругих деформаций тенэоэлемента при его неизменных размерах, тензоэлемент выполнен в виде кольца с перемычкой в виде пластины,установленной перпендикулярно оси тяг по диаметру кольца с возможностью поворота вокруг оси ее симметрии.

1375947

2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что перемычка выполнена сменной с элементами крепления на концах.

Составитель Е.Щелина

Техред М. Ходанич

Редактор В.Бугренкова

Корректор С.Шекмар

Заказ 769/41 Тираж 680

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4