Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов

Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов

Реферат

 

1. Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов, включающий облучение их поверхности источником излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля путем установления помех, связанных с изменением излучательной способности контролируемой поверхности, получают два тепловых изображения объекта контроля в интервале до 30 мс после включения источника излучения и после выключения источника излучения совмещают полученные изображения и по соответствию аномалий изображений отличают истинные дефекты от ложных.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что первое тепловое изображение объекта контроля получают в отраженном излучении источника излучения.

3. Способ по пп.1 и 2, отличающийся тем, что температуру источника излучения при получении первого теплового изображения и температуру нагрева поверхности при получении второго теплового изображения объекта контроля выбирают равными.