Способ измерения распределения толщин материальных полых объектов

Способ измерения распределения толщин материальных полых объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к ради-- ационной толщинометрии, и может быть применено для определения защищенности космических и других аппаратов от ионизирующего излучения. Целью изобретения является повьшение точности измерения путем исключения погрешности , обусловленной вкладом рассеянного в объекте гамма-излучения. На материальный полый объект направляют гамма-кванты от наружного источника . Регистрируют излучение детекторат и внутри объекта, определяют максимальную амплитуду импульсов в детекторе от комптоновских электронов и производят дискриминацию по двум уровням амплитуд, больших максимальных комптоновских. По построенной градуировочной характеристике определяют распределение толщин. сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУбЛИК (gyes 4 G 01 В 15/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ, КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4173419/24-28 (22) 04.01.87 (46) 07,07.88. Бюл. У 25 (71) Институт медико-биологических проблем (72) В.М.Сахаров (53) 531.717. 11(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 486566, кл. G 01 В 15/02, 1974.

Hardy А.G., Snyder I.W. Protection against Spail Radiation. t+SA SP.

-169, 1968, р.539. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ

ТОЛЩИН МАТЕРИАЛЬНЫХ ПОЛЫХ ОБЪЕКТОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к ради-ационной толщинометрии, и может быть

„„SU„„1408214 А 1 применено для определения защищенности космических и других аппаратов от ионизирующего излучения. Целью изобретения является повышение точности измерения путем исключения погрешности, обусловленной вкладом рассеянного в объекте гамма-излучения. а материальный полый объект направляют гамма-кванты от наружного источника, Регистрируют излучение детекторами внутри объекта, определяют ° максимальную амплитуду импульсов в детекторе от комптоновских электро" нов и производят дискриминацию по двум уровням амплитуд, больших максимальных комптоновских. По построенной градуировочной характеристике определяют распределение толщин.

С:

4h

Ю

М

4ь

1, 7 0 Я о 3 >, Изобретение относит", 1 к, «хнике. в частности к радиа11и» 11 1r>, j т» .»п1ина— метрии, и мажет быть при lpllpl»0 д 1я определения защищеннс ст 3 космкческ11х и других аппаратов от кони1ирующе1с излучения.

Цель изобретения — павьппенке точнос"и измерения путем .-скл>очения пагрегпности, обусловленнои вкладом рас-,0» сеянного в объекте гамма-излучения, Способ осуществляют следугсщим абразом.

На материальный г1оль>й объект направляют гамма-KBGHTbi Q перемещае- 75 мого снаружи объекта точечногn из>тронного моноэнергетического ист:»вЂ” ника, устанавливают спектрометрические детекторы внутри об;;екта и регистриру1от посредством их электрк- 20 ческие импульсы, соответствующие интенсивностк излучения,, проп1едшегс> сквозь стенки объекта,, преобразовывают интенсивность зарегкстрированно» го излучения в поток электр>г есккх импульсов, с помощь1о эталnklíblõ об.разцОв тОлЩины стенок Объекте» строят зависимость интенсивнос"и потока электрических импульсов о тол>пины стенок объекта, определяют градуиро- 30 вочные коэффициенты для каждой кз эталонных толщкн и определяют распределение толщин полых объектов,.

При этом во время регис трации электрических импульсов детекторами определяют максимальную амплитуду им пульсов, coo T.зетствуюгпи-:; интенсивно ти излучения зарегкст=>ированного детех ropokn, и опрецеляемь,-,: компт011овскими электронами, а. I»pa регистрации импульсов производят амплктуднуо дис-КрИМИНацКЮ ПО дВуМ уранкяМ:-;алряжаикlr в области амплитуд, болг щих макси" мально возмо>кных амплитуд„создава=/ "7 мых комптоновскими элек- роками, B толщину объекта в каждом сечении определяют по формуле

1 Г N К», 7»7

Х = — 1»З -- — t> (-М И ц3г 7

»

1 где Х вЂ” толщина матер ала;; полный Ко зффк1»аlc T ослаблсНHЯ МС>1>0 =. »IÅÐÃÅ 1 H»IЕ CIСО Го гамма-кзлу »ения; скоростк счета импульс.оь при наличии ос> г.екта., зарегистрированные при двух уровнях дискр1171инацик, М 7 г1» — .»7 >>е, 13 п Tr;"3 C l »»alr об1 екФ

7»»7 р —:-ра гуирогочный к >э»3>фициент, И 3МЕРЯЕМЫй r. ПОМОЩЬЮ Эта,10111>ой гаЛЩ1111Ы .

1113 с lе 71ие Дис кри>»ми нации по Дв»»м уров11ям в аблас ти амплитуд, болыпих, чем т«, что cnздаются комптоновсккмк электронами (т. е. cOG" apтствующке поглощению B детекторе спектра рас сеянного гамма — излучения в веществе) позволя« пoablcH Tk то-:ность измерения до 5-10Х по сравнению с 507. в известном сг особе, го о р м у л -: и " î " р е т е н и я

Способ измерения ргrпределения толщин полых объектов, заключающийся а том, что перемещают точечный изатропный моноэнергетический источник относит ель но объек та и облучают объект гамма-квантами, устанавливают сгг ек троме триче ские детекторы внутри объекта к регистркруют импульсы, со ст>ветствуюпГке интенсивности излучения,, прощедщего сквозь стенки объекта, преобразовывают ивтенсивность зарегистрированного излучения в поток электрических импульсов H по зависимости интенсивности потока электрических импульсов от толщины стенок объекта, построенной с помощью

-:талонных образцов толщины стенок объекта с учетом градуировочных козффкциентов для каждой из эталонных ..Олщкн, определяют распределение толmHI; полых объектов, о т л и ч а юпг и и с я тем, что, с целью повьппенкя точности измерения, определяют максимальную амплитуду импульсов, соответствующих интенсивностк излучения, зарегистркрованного детектором, и определяемых комптоновскими электронами, прк регистрации импульсов производят амплитудную дкс .:р«минацию по двум уровням напряжения в области амплитуд, бЬль>пих максимальHb!> амплитуд, сазда1»аемых комптоновсккми электронами, а тэгпци>1у объекта

Х;=. каждом сечении определяют по формуле

»»7 1 Ы2 N»

1п -- — p (- — — -,-), 7»»+ 7»»7 7 >

2 1

"ë".е 3А — полный коэффициент ослаб;1ен7яя моk»nэнергетическоro г ам..la — излучения;

1408?14

Составитель В.Париасов

Техред М.Дидык Корректор М.Максимишинец

Редактор М.Бланар

Заказ 3296/41

Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

N N — скорости счета импупьсов

1 при няличии < бъекта, зарегистрированные при двух уровнях дискриминации;

N+, N « — то же, в отсутствии объекта; градуировочный коэффициент, измеряемый с помощью эталонной толщины.