Устройство для измерения магнитных полей

Устройство для измерения магнитных полей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к магнитным измерениям, основанным на регистрации смещения доменных стенок в чувствительном элементе при введении его в исследуемое поле. Устройство для измерения магнитных полей содержит источник 1 света, поляризатор 2, магнитоодноосную прозрачную пленку 3 с доменной структурой, анализатор 5, фотоприемник 6, непрозрачную маску 4 в виде негативного отпечатка полосовой доменной структуры магнитоодноосной пленки , блок 7 усиления и индикации и катушку 8 поля смещения. Устройство позволяет измерить также и составляющую магнитного поля , лежащую в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 б 01 R 33/032

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4101507/24-21 (22) 22.05.86 (46) 30.08.88. Бюл. № 32 (72) С. П. Оробинский, М. В. Быстров и В. А. Григорьев (53) 621.317.44 (088.8) (56) Набокин П. И. Письма в ЖТФ, т. 7, вып. 5, с. 308, 1981 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ (57) Изобретение относится к магнитным измерениям, основанным на регистрации смещения доменных стенок в чувствительÄÄSUÄÄ1420559 A 1 ном элементе при введении его в исследуемое поле. Устройство для измерения магнитных полей содержит источник 1 света, поляризатор 2, магнитоодноосную прозрачную пленку 3 с доменной структурой, анализатор 5, фотоприемник 6, непрозрачную маску 4 в виде негативного отпечатка полосовой доменной структуры магнитоодноосной пленки, блок 7 усиления и индикации и катушку 8 поля смещения. Устройство позволяет измерить также и составляющую: магнитного поля, лежащую в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки. 1 ил.

142О559

Формула изобретения

Составитель А. Романов

Редактор С. Лисина Техред И. Верее Корректор A. Обручар

Заказ 4327!52 Тираж 772 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная,4

Изобретение относится к магнитным измерениям, а именно к способам измерения магнитного поля, основанным на регистрации смещения доменных стенок (ДС) в чувствительном элементе при введении его в исследуемое поле.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей путем измерения также и составляющей магнитного поля, лежащей в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки. о

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит источник 1 света, поляризатор 2, феррит-гранатовую планку 3 с полосовой доменной структурой, маску 4, анализатор 5, фотоприемник 6, блок 7 усиления и индикации и катушки 8 поля смешения.

Работа устройства осуществляется следующим образом. 20

Выбирают источник 1 света (лазер, светодиод), имеющий длину волны в области окна прозрачности и достаточно высокой магнитооптической добротности кристаллов ферритов-гранатов (0,5 — 5 мкм) . Контактным или любым другим методом в поляризо- 25 ванном свете изготавливают маску 4 (например, на фотопленке типа микрат), представляющую собой негативный отпечаток доменной структуры выбранной эпитаксиальной феррит-гранатовой пленки 3. Пленку с наложенной на нее маской помещают между поляризатором 2 и анализатором 5 перпендикулярно падающему потоку излучения, прошедшую часть которого регистрируют с помощью фотоприемника 6. Выходной сигнал последнего поступает на блок 7 усиления и

2 индикации. Для получения стабильной полосовой доменной структуры во время изготовления маски и последующих измерений к феррит-гранатовой пленке можно приложить постоянное смешающее магнитное поле под небольшим углом (1 — 5 ) к ее плоскости. Тогда измеряемое поле приводит не только к повороту доменной структуры, но и к изменению ее периода, что также регистрируют с помощью указанной схемы.

Необходимая для измерений полосовая доменная структура в пленке реализуется, когда одноосная перпендикулярная анизотропия превалирует над кубической, или при наличии наклона оси легкого намагничивания, или в присутствии поля смещения Н . В последнем случае регулирования Н можно варьировать чувствительность способа.

Устройство для измерения магнитных полей, содержащее оптически последовательно расположенные источник света, поляризатор, магнитоодноосную прозрачную пленку с доменной структурой, анализатор, фотоприемник, соединенный со схемой индикации, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет измерения составляющей магнитного поля, лежащей в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки, и повышения чувствительности устройства, в него дополнительно введена непрозрачная маска, выполненная в виде негативного отпечатка полосовой доменной структуры магнитоодноосной пленки и расположенная между пленкой и анализатором.