Способ контроля качества плоских изделий с отверстиями

Способ контроля качества плоских изделий с отверстиями

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля качества .печатных плат и других плоских изделий с отверстиями произвольной формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например отпвчат1 ов пальцев, осциллограмм и т.д. Цель изобретения - расширение области использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышения информативности контроляi поскольку способ позволяет знать не только наличие неправильностей , но и их характер. Освещают зталон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источника 6 света через матовое 7, а контролируемое изделие.11 - световым потоком от источника 9 света через матовое стекло 10. Совмещают - ; изображения эталона 8 и контролируемого изделия 11 по их базовым элементам Изменяя мощность блока 4 питания с помощью регулятора 5, добиваются изменения освещенности одного из световых потоков до тех пор, пока изоб- ® ражения базовых элементов станут невидимыми по оставшимся в поле зрения темным пятнам судят о недостающих элементах, а по светлым пятным судят о лишних элементах. 1 ил. 6 1

СОЮЗ СОЕЕТСНИХ

СООИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕаЪЬЛИН

„.ЯО„„,И2 911 А1 (50 4 С 01 В 11/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМУ С9ИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССЯР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3472666/24-28 (22) 16.07.82 (46) 07.10.88. Бюл. И 37 (72) А.А.Надточий и Н,И,Надточий (53) 531,715.27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Я 405017, кл. G 01 В 11/14, 1972. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ

ИЗДЕЛИЙ С ОТВЕРСТИЯМИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля качества.печатных плат и других плоских изделий с отверстиями произвольной формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например отпечатков пальцев, осциллограмм и т.д.

Цель изобретения - расширение области использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышения информативности контроля, поскольку способ позволяет знать не только наличие неправильностей, но и их характер. Освещают эталон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источника 6 света через матовое стекло

7, а контролируемое изделие.11 - световым потоком от источника 9 света через матовое стекло 10. Совмещают . -. изображения эталона 8 и контролируемого изделия 11 по их базовым элементам. Изменяя мощность блока 4 питания с помощью регулятора 5, добиваются изменения освещенности одного из световых потоков до тех пор, пока изоб- ® ражения базовых элементов станут не" l видимыми, по оставшимся в поле зрения темным пятнам судят î недостающих(,, элементах, а по светлым пятным судят о лишних элементах. 1 ил.

1428911

Тираж 680

ВНИИПИ Заказ 5111/35

Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для контроля качества печатных плат и других плоских 5 изделий с отверстиями произвольной . формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например, отпечатков, пальцев, осциллограмм и

Теде 10

Цель изобретения — расширение области использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышение информативности контроля за счет того, что все

:;правильные отверстия, количество ко .;торых велико (может измеряться сотнями штук), становятся невидимыми и не мешают видеть неправильные отверстия, количество которых невелико,а также за счет того, что можно различать ,- 3 . :недостающие и лишние отверстия. для исправления иэделия или анализа функции, изображенной на контролируемом транспаранте, (т.е. позволяет знать не только наличие неправиль" ностей, но и их характер) .

На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реалиэующего способ контроля качества плоских изделий с отверстиями.

Устройство содержит камеры 1 и 2, полупрозрачное зеркало 3, блок 4 питания и регулятор 5. В одной камере

1 установлены источник 6 света, матовое стекло 7 и эталон 8 а в другой 35 камере 2 установлены источник 9 света, матовое стекло 10 и контролируемое иэделие 11

Способ осуществляют следующим образом..

Освещают эталон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источника 6 света через матовое стекло 7, а контролируемое изделие 11 — световым потоком от 45 источника 9 света через матовое стекло 10. Наблюдая через полупрозрачное зеркало 3, совмещают изображения эталона 8 и контролируемого иэделия 11 по их базовым элементам (не показа" 50 ны),,в качестве которых могут быть отверстия для крепления кромки (края) либо стороны, от которых ведется разметка изделия. Изменяя мощность блока

4 питания с помощью регулятора 5, добиваются изменения освещенности одного из световых потоков (или от источника 6 света, или от источника

9 света) до тех пор, пока изображения базовых элементов станут невидимыми, по оставшимся в поле зрения темным пятнам судят о недостающих элементах и недостающих частях элементов, а по светлым пятным судят о лишних элементах и лишних частях элементов.

В случае необходимости недостающие и лишние отверстия можно отметить прямо на контролируемом иэделии (например, карандашом, краской и т.п.) либо сделать фотоснимок. Во втором случае для облегчения нахождения ко ординат неправильных отверстий на фотоснимке можно поместить в плос" кости эталона 8 транспарант, на котором изображена координатная стека, состоящая из тонких черных взаимно перпендикулярных равноотстоящих друг от друга линий.

Формула и э о б р е т е н и я

Способ контроля качества плоских изделий с отверстиями., заключающийсяв том, что освещают эталон и контролируемое иэделие световыми потоками, совмещают изображения эталона и контролируемого изделия и судят о качестве контролируемого изделия, о т л и— ч а ю шийся тем, что, с целью расширения области использования эа счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышения информативности контроля, используют в качестве эталона его негатив, освещение производят рассеянным световым потоком, совмещение изображений эта" лона и контролируемого иэделия производят по их базовым элементам, после совмещения изображений изменяют освещенность одного из световых потоков до тех пор, пока изображения базовых элементов станут невидимыми, а по оставшимся в поле зрения темным и светлым пятнам судят о качестве контролируемого изделия.