Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток

Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток

Реферат

Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток путем определения расстояния от вершины решетки, установленной в спектрографе, до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, устанавливают решетку в спектрографе по автоколлимационной схеме для заданной длины волны , измеряют угол падения и дифракции для заданной длины волны , после чего измеряют расстояния r_s и r_m от вершины решетки до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, а искомые технологические параметры l₁ и l₂ вычисляют по формулам где l₁ и l₂ - расстояния от вершины решетки до источников записи; R_m и R_s - соответственно меридиональный и сагиттальный радиусы кривизны вогнутой поверхности решетки; ^* - длина волны записи голографической решетки; i₁ и i₂ - углы, под которыми источники записи расположены по отношению к нормали к поверхности решетки.